我們會(huì)找到信號(hào)與上升的Vref值交叉的位置。如果Vref升至足夠高，信號(hào)的頂部軌跡將通過(guò)Vref，我們便會(huì)看到眼的頂端。再將Vref升高一點(diǎn)會(huì)導(dǎo)致Vcomp保持在Vlo，表示信號(hào)不會(huì)升至該電之，將Vref移至零以下會(huì)看到眼的下半部。eyescan/eyefinder顯示窗口會(huì)在每個(gè)信號(hào)的eyescan圖下方顯示eyefinder交疊部分，以此顯示eyefinder與eyescan之間的這一關(guān)系。通過(guò)在eyescan圖中將Vth水平線向上和向下移動(dòng)，可以獲得距離眼中心該偏移量位置處的eyefinder視圖。無(wú)論用戶(hù)界面中的閾值如何設(shè)置，邏輯分析儀的差分輸入將始終應(yīng)用于接收器。這意味著可通過(guò)將電壓閾值手動(dòng)設(shè)置為非零值允許在差分對(duì)中使用公共模式電壓。如果信號(hào)擺幅中心與地線差距于100mV，eyescan將自動(dòng)執(zhí)行此操作。邏輯分析儀的觸發(fā)設(shè)置邏輯分析儀觸發(fā)非常困難，而且還需花費(fèi)量時(shí)間。假設(shè)如果知道如何編程，則應(yīng)該可以毫不費(fèi)力地設(shè)置邏輯分析儀觸發(fā)。然而，這是不可能的，因?yàn)樵S多概念對(duì)邏輯分析來(lái)說(shuō)都是的。本節(jié)的目的就是介紹這些主要概念及如何有效地使用它們。傳送帶類(lèi)比：我們可以將邏輯分析儀的內(nèi)存比作一條很長(zhǎng)的傳送帶，而從被測(cè)設(shè)備(DUT)獲取的樣本就像是傳送帶上的箱子。新的箱子被放置在傳送帶一端。SPMl協(xié)議分析儀/訓(xùn)練器找歐奧！無(wú)錫協(xié)議分析儀廠家

而在另一端落下。換句話說(shuō)，由于邏輯分析儀內(nèi)存的深度（樣本數(shù)量）有限，因此每當(dāng)采集新樣本時(shí)，如果內(nèi)存已滿(mǎn)，將會(huì)刪除內(nèi)存中現(xiàn)有的舊的樣本。如下圖所示。圖20邏輯分析儀觸發(fā)的傳送帶類(lèi)比邏輯分析儀觸發(fā)就像是放置在傳送帶（上面放置有多個(gè)箱子）起始位置上的箱子一樣。它們的任務(wù)是“查找特殊的箱子，并在該箱子到達(dá)傳送帶的某一特定位置時(shí)停止運(yùn)行傳送帶”。在此類(lèi)比中，特殊的箱子就是觸發(fā)。邏輯分析儀檢測(cè)到與觸發(fā)條件相匹配的樣本后，就表示當(dāng)觸發(fā)位于內(nèi)存中的適當(dāng)位置時(shí)應(yīng)停止繼續(xù)采集樣本。觸發(fā)在內(nèi)存中的位置被稱(chēng)為觸發(fā)位置。通常，觸發(fā)位置被設(shè)置在中間，以便使觸發(fā)前后出現(xiàn)的樣本的數(shù)量不超出內(nèi)存范圍。不過(guò)，也可以將觸發(fā)位置設(shè)置在內(nèi)存中的任意位置。由于邏輯分析儀觸發(fā)提供了量功能，因此下表將對(duì)本文中介紹的功能進(jìn)行簡(jiǎn)要概述。該表將對(duì)這些功能進(jìn)行逐一描述。表1邏輯分析儀觸發(fā)功能摘要觸發(fā)序列：雖然邏輯分析儀觸發(fā)通常很簡(jiǎn)單，但它們卻需要復(fù)雜的程序。例如，可能想在某一信號(hào)的上升沿后跟另一信號(hào)的上升沿時(shí)觸發(fā)。這意味著邏輯分析器必須在開(kāi)始尋找下一個(gè)上升沿之前找到個(gè)上升沿。由于擁有一個(gè)可查找觸發(fā)的步驟序列，因此它被稱(chēng)為觸發(fā)序列。株洲SDIO分析儀價(jià)格歐奧邏輯分析儀是眾多客戶(hù)明智的選擇！

序列步驟存儲(chǔ)總會(huì)覆蓋默認(rèn)存儲(chǔ)，但只針對(duì)序列步驟存儲(chǔ)中特別指定的條件。處理默認(rèn)存儲(chǔ)和序列步驟存儲(chǔ)之間的時(shí)一定要謹(jǐn)慎。雖然設(shè)置邏輯分析儀很困難，但觸發(fā)函數(shù)可以降低此過(guò)程的難度。觸發(fā)函數(shù)是可以組合起來(lái)設(shè)置觸發(fā)的常用構(gòu)建塊。由于這些函數(shù)涵蓋了多數(shù)普通觸發(fā)，因此通過(guò)選擇適當(dāng)?shù)暮瘮?shù)并將其填充到數(shù)據(jù)中即可設(shè)置觸發(fā)。下圖顯示了邏輯分析儀觸發(fā)用戶(hù)界面。請(qǐng)注意，觸發(fā)函數(shù)位于屏幕左側(cè)的一個(gè)醒目位置。圖21使用觸發(fā)函數(shù)通常，設(shè)置復(fù)雜觸發(fā)的難題是對(duì)問(wèn)題進(jìn)行分解。換句話說(shuō)，就是如何將復(fù)雜觸發(fā)映射到序列步驟、分支和布爾邏輯表達(dá)式。將問(wèn)題分解為不同時(shí)發(fā)生的事件。這些事件對(duì)應(yīng)于序列步驟。掃描觸發(fā)函數(shù)列表，嘗試找出一些與步驟1中確定的事件相匹配的函數(shù)。將所有剩余事件分解為布爾邏輯表達(dá)式及其相應(yīng)操作。各個(gè)布爾邏輯表達(dá)式/操作對(duì)分別對(duì)應(yīng)于序列步驟中的一個(gè)單獨(dú)分支。請(qǐng)記住，可能存在只用于為序列步驟處理存儲(chǔ)限定的“存儲(chǔ)”分支。設(shè)置邏輯分析儀觸發(fā)與編寫(xiě)軟件相徑庭。如果使用預(yù)定義的觸發(fā)函數(shù)和較早編寫(xiě)的文檔完善的觸發(fā)來(lái)完成其他工作，就可降低設(shè)置邏輯分析儀觸發(fā)的難度。在沒(méi)有其他可用的資源時(shí)，才需要編寫(xiě)自己的觸發(fā)設(shè)置。后。

這里設(shè)置為20MSamples@4MHz的速度，也就是能持續(xù)采樣5秒鐘。3.設(shè)置協(xié)議，點(diǎn)右上角的“Options”按鈕，找到analyzer1，設(shè)置為I2C協(xié)議，詳見(jiàn)圖1。4.按“Start”按鈕，開(kāi)始采樣。圖5圖6數(shù)據(jù)分析采樣結(jié)束后，可以看到波形，見(jiàn)圖2。由于我們?cè)O(shè)置了是I2C分析，因此不光顯示出波形，還有根據(jù)I2C協(xié)議解碼顯示的字節(jié)內(nèi)容。單片機(jī)對(duì)AT24C16進(jìn)行寫(xiě)入操作，在0x00地址處寫(xiě)入10000等數(shù)字。波形起始是“start”信號(hào)，然后依次是AT24C16的標(biāo)識(shí)0xA2。歐奧電子是Prodigy在中國(guó)區(qū)的官方授權(quán)合作伙伴，ProdigyMPHY,UniPro,UFS總線協(xié)議分析儀測(cè)試解決方案不會(huì)收到EAR進(jìn)出口方面的管制。同時(shí)還有代理其他總類(lèi)的協(xié)議分析儀，包括嵌入式設(shè)備用的SDIO協(xié)議分析儀,QSPI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,RFFE協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器等等。我司還有代理SPMI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,車(chē)載以太網(wǎng)分析儀，以及各種相關(guān)的基于示波器的解碼軟件和SI測(cè)試軟件。同時(shí)，歐奧電子也有提供高難度焊接，以及高速信號(hào)，如UFS，DDR3/DDR4，USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。寫(xiě)入地址0x00，數(shù)據(jù)0x10，0x27等。由于寫(xiě)入以字節(jié)為單位，因此0x2710=10000，表明采樣成功。將鼠標(biāo)放在波形上，點(diǎn)擊左鍵，實(shí)現(xiàn)zoomin功能。LLI協(xié)議分析儀/訓(xùn)練器找歐奧！

4、比較幀類(lèi)型：可自行選擇；5、數(shù)據(jù)：可輸入對(duì)應(yīng)幀類(lèi)型數(shù)據(jù)的十進(jìn)制，十六進(jìn)制，八進(jìn)制。設(shè)置效果如圖6所示：圖6幀查找屬性設(shè)置七、解碼數(shù)據(jù)準(zhǔn)確定位完成設(shè)置，則可以通過(guò)查找具體的查找類(lèi)型進(jìn)行顯示，效果如圖7所示：圖7查找結(jié)果顯示此次查找共有68個(gè)查找結(jié)果，可通過(guò)如下操作觀測(cè)每一個(gè)查找結(jié)果，效果如圖8所示：圖8查找結(jié)果數(shù)據(jù)分析ZLG致遠(yuǎn)電子邏輯分析儀具有超大容量存儲(chǔ)、智能過(guò)濾存儲(chǔ)、高保真不間斷實(shí)時(shí)記錄、高效的協(xié)議分析平臺(tái)、觸發(fā)搜索多樣化、靈活的參數(shù)測(cè)量，能夠定位系統(tǒng)運(yùn)行出錯(cuò)時(shí)的特定波形數(shù)據(jù)。針對(duì)數(shù)字電路的開(kāi)發(fā)和測(cè)試人員可以用邏輯分析儀對(duì)電路進(jìn)行精確的狀態(tài)或時(shí)序分析，以檢測(cè)分析電路設(shè)計(jì)中的錯(cuò)誤，從而迅速定位，解決問(wèn)題。UFS邏輯分析儀/訓(xùn)練器找歐奧！清遠(yuǎn)PCIE分析儀那家好

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