光譜共焦傳感器可以測量幾乎任何類型的材料（玻璃，陶瓷，塑料，半導(dǎo)體，金屬，織物，紙張，皮革等）制成的樣品。它們可以測量拋光表面（鏡子，鏡片，晶圓）以及粗糙表面。光斑尺寸、比較大采樣斜率、工作距離和測量范圍，分別是什么概念比較大采樣斜率（M，簡稱MSS），是光軸和樣品表面法線之間的比較大角度，在此角度條件下測量依然可行。MSS是測量點處的實際局部斜率，而非理論上“平均曲面”的斜率。此功能*對鏡面(鏡面狀)表面有重要意義；對散射表面，比較大采樣斜率更高。對于所有類型的采樣，采集信號的強度都隨著傾斜角度的增加而減小。光斑尺寸(Spotsize)，指光點的理論尺寸，即光斑的大小。工作距離(WorkingDistance)，光學筆前端到量程近端的距離。測量范圍(MeasuringRange，簡稱MR)，0到比較大可量測值的區(qū)間范圍。又叫測量行程。馬波斯測量科技是一家專業(yè)提供光譜共焦傳感器的公司，有想法可以來我司咨詢！天津非接觸式傳感器測量范圍

應(yīng)用范圍：光譜共聚焦傳感器既可用于工業(yè)環(huán)境中，也可用于生產(chǎn)過程中的在線檢測以及實驗室環(huán)境中的高精度儀器。他們主要涵蓋以下內(nèi)容：l微形貌（測量樣品的形狀和表面特征）l尺寸控制（測試制造產(chǎn)品的特定尺寸是否符合規(guī)格）l質(zhì)量控制(制造產(chǎn)品缺陷的識別和特征描述）l粗糙度測量（測量樣品表面的統(tǒng)計特征）l摩損度（表征機械或化學侵蝕）l厚度測量光譜共焦傳感器完全符合涉及3D真實表面紋理的測量和分析的ISO25178標準。此外，此標準第601章節(jié)致力于非接觸式表面測量，引用CCI作為***參考技術(shù)原理吉林光譜共焦傳感器應(yīng)用案例馬波斯測量科技為您提供專業(yè)的光譜共焦傳感器，有想法的不要錯過哦！

Zenith采樣頻率：400Hz-5000Hz主要優(yōu)勢穩(wěn)定通過15位編碼增強性能，提供測量值穩(wěn)定性非接觸非接觸式技術(shù)適用于所以不接觸被測產(chǎn)品的情況下進行測量。全材料光譜共焦技術(shù)可測量各種能夠反射的材料（例如：金屬、玻璃、塑料、漆膜、液體等）。適配可更換的MARPOSSSTIL光學筆：CL-MG/OP/Endo/Everest系列同步主從模式的多傳感器測量，編碼器觸發(fā)功能。應(yīng)用汽車玻璃玻璃容器和包裝行業(yè)(PCB)電子工業(yè)、3C、半導(dǎo)體行業(yè)（硅片）、精密儀器行業(yè)、電動車行業(yè)（電池）

顛覆傳統(tǒng)激光三角測距法，3D尺寸精密測量方案提供者線激光位移傳感器高場度高性價的線激光位移器，操作簡單易懂出廠時已作標定，用戶開箱即用，重新定義3D視覺，讓3D相機的使用和2D相機一致非接觸式晶圓厚度測量系統(tǒng)非接觸式晶圓厚度測量系統(tǒng)是一種利用氣體動靜壓原理工作的非觸式軸承，由于工作在平面度較好的花崗巖表面，因此本身也能獲得非常理想的使用。非接觸式晶圓粗糙度測量系統(tǒng)階梯式測量還原接觸測量真實結(jié)果:直線電機高精度龍門動機構(gòu):兼容拋光、未拋光透明及非透明晶圓測量馬波斯測量科技為您提供專業(yè)的光譜共焦傳感器，期待您的光臨！

而光譜共焦測量方法恰恰利用這種物理現(xiàn)象的特點。通過使用特殊透鏡，延長不同顏色光的焦點光暈范圍，形成特殊放大色差，使其根據(jù)不同的被測物體到透鏡的距離，會對應(yīng)一個精確波長的光聚焦到被測物體上。通過測量反射光的波長，就可以得到被測物體到透鏡的精確距離。這一過程與攝影器材通過各種方法消減色差的過程正好相反。白色光通過一個半透鏡面到達凸透鏡。上述特殊色差就在這里產(chǎn)生。光線照射到被測物體后發(fā)生反射,透過凸透鏡，返回到傳感器探頭內(nèi)的半透鏡上。半透鏡將反射光折射到一個穿孔蓋板上，小孔只允許聚焦好的反射光通過。透過穿孔蓋板的光是一組模糊光譜，也就是說若干不同波長的光都有可能穿過小孔照在CCD感光矩陣單元上。但是只有在被測物體上聚焦的反射光擁有足夠光強，在CCD感光矩陣上產(chǎn)生一個明顯的波峰。在穿孔蓋板后面，需要一個分光器測量反射光的顏色信息。分光器類似一個特制光柵，可以根據(jù)反射光的波長，增強或減弱折射率。因此，CCD矩陣上的每一個位置，對應(yīng)一個測量物體到探頭的距離。光譜共焦傳感器，就選馬波斯測量科技，有想法的可以來電咨詢！浙江stil傳感器技術(shù)

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什么是光譜共焦干涉儀？非接觸式輪廓測量技術(shù)中的測量精度，通常受機械振動和微掃描臺位置不準確的限制。為不再受此類環(huán)境干擾，開發(fā)了對振動不敏感的全新干涉測量法。采用這種新型干涉儀系統(tǒng)，干涉儀顯微鏡的精度可達亞納米級。光譜共焦干涉測量原理干涉測量法基于白光干涉圖（SAWLI）的光譜分析。它包括分析在光譜儀上觀察到的干擾信號，以便測量參比板和樣品之間的氣隙厚度。成熟系統(tǒng)的**性在于將參考板固定在檢測目標上。由于參考板和樣品固定在一起，機械振動不會影響測量結(jié)果。此外，該傳感器可用于測量太薄而不允許使用光譜共焦技術(shù)的透明薄膜。**小可測厚度為0.4μm。天津非接觸式傳感器測量范圍

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