SMT加工中AOI設備的用途自動化光學檢測是一種利用光學捕捉PCB圖像的方法，以查看組件是否丟失，是否在正確的位置，以識別缺陷，并確保制造過程的質量。它可以檢查所有尺寸的組件，如01005,0201，和0402s和包，如BGAs,CSPs,LGAs,PoPs，和QFNs。AOI的引入開啟了實時巡檢功能。隨著高速、大批量生產線的出現，一個不正確的機器設置、在PCB上放置錯誤的部件或對齊問題都可能導致大量的制造缺陷和隨后在短時間內的返工。當初的AOI機器能夠進行二維測量，如檢查板的特征和組件的特征，以確定X和Y坐標和測量。3D系統在2D上進行了擴展，將高度維度添加到方程中，從而提供X、Y和Z坐標和測量。注意:有些AOI系統實際上并不“測量”組件的高度。AOI在制造過程早期發(fā)現錯誤，并在板被移到下一個制造步驟之前保證工藝質量。AOI通過向生產線反饋并提供歷史數據和生產統計來幫助提高產量。確保質量在整個過程中得到控制，節(jié)省了時間和金錢，因為材料浪費、修理和返工、增加的制造勞動力、時間和費用，更不用說所有設備故障的成本。AOI 檢測設備在 LED 芯片生產中，可檢測焊點形態(tài)、焊球共面度等關鍵參數是否達標。半導體AOI檢測設備設備廠家

PCB缺陷可大致分為短路（包括基銅短路、細線短路、電鍍斷路、微塵短路、凹坑短路、重復性短路、污漬短路、干膜短路、蝕刻不足短路、鍍層過厚短路、刮擦短路、褶皺短路等），開路（包括重復性開路、刮擦開路、真空開路、缺口開路等）和其他一些可能導致PCB報廢的缺陷（包括蝕刻過度、電鍍燒焦、***),在PCB生產流程中，基板的制作、覆銅有可能產生一些缺陷，但主要缺陷在蝕刻之后產生，AOI一般在蝕刻工序之后進行檢測，主要用來發(fā)現其上缺少的部分和多余的部分。在PCB檢測中，圖像對比算法應用較多，且以2D檢測為主，其主要包括數據處理類（對輸入的數據進行初步處理，過濾小的***和殘留銅及不需檢測的孔等），測量類（對輸入的數據進行特征提取，記錄的特征代碼、尺寸和位置并與標準數據進行對比）和拓撲類（用于檢測增加或丟失的特征），圖1為特征提取法示意圖，（a）為標準版和被檢板二值圖，（b）為數學形態(tài)分析后的特征圖。AOI一般可以發(fā)現大部分缺陷，存在少量的漏檢問題，不過主要影響其可靠性的還是誤檢問題。PCB加工過程中的粉塵、沾污和一部分材料的反射性差都可能造成虛假報警，因此目前在使用AOI檢測出缺陷后，必須進行人工驗證。東莞國內AOI檢測設備生產廠家AOI工作原理自動光學檢測的光源分類？

AOI光學檢測原理  AOI，即自動光學檢查。它是自動檢查經過波峰焊以及回流焊后的印刷電路板的焊錫焊接狀況和實裝情況的裝置。首先，機器通過內部的照明單元，將焊錫及元器件分解成不同的顏色。在制作檢查程序時，首先取一塊標準板，對上面的各個元器件的不同部分分別設定合適的顏色參數。在進行檢查時，機器將拍攝到的標準板的圖像作為標準影像，以設定好的顏色參數作為標準。將被檢查的基板的圖像與標準影像進行對比，以設定好的色參數為基準進行判別。

二、AOI被應用于電子元器件檢測時主要運用在中下游領域AOI檢測目前階段主要對于PCB印刷電路板的光板、錫膏印刷、元件、焊后組件以及集成電路芯片的晶圓外觀、2D/3D、Bumping和IC封裝等領域開展檢測。PCB印刷電路板：PCB光板檢測，錫膏印刷檢測，元件檢測，焊后組件檢測等；集成電路芯片：晶圓外觀檢測、2D/3D檢測，Bumping檢測、IC封裝檢測等；FPD平板顯示器：Mura缺陷檢測，Colorfilter檢測，PI檢測，LC液晶檢測，色度、膜厚、光學密度檢測LC液晶檢測，色度、膜厚、光學密度檢測；其他行業(yè)汽車電子檢測、MicroCrack檢測等；AOI 檢測設備具備高分辨率鏡頭，能清晰捕捉微小元件的貼裝位置偏差與極性錯誤。

光電轉化攝影系統指的是光電二極管器件和與之搭配的成像系統。是獲得圖像的”眼睛”,原理都是光電二極管接受到被檢測物體反射的光線，光能轉化產生電荷，轉化后的電荷被光電傳感器中的電子元件收集，傳輸形成電壓模擬信號二極管吸收光線強度不同時生成的模擬電壓大小不同，依次輸出的模擬電壓值被轉化為數字灰階0-255值，灰階值反映了物體反射光的強弱，進而實現識別不同被檢測物體的目的光電轉化器可以分為CCD和CMOS兩種，因為制作工藝與設計不同，CCD與CMOS傳感器工作原理主要表現為數字電荷傳送的方式的不同CCD采用硅基半導體加工工藝，并設置了垂直和水平移位寄存器，電極所產生的電場推動電荷鏈接方式傳輸到模數轉換器。而CMOS采用了無機半導體加工工藝，每像素設計了額外的電子電路，每個像素都可以被定位，無需CCD中那樣的電荷移位設計，而且其對圖像信息的讀取速度遠遠高于CCD芯片，因光暈和拖尾等過度曝光而產生的非自然現象的發(fā)生頻率要低得多，價格和功耗相較CCD光電轉化器也低。但其非常明顯的缺點，作為半導體工藝制作的像素單元缺陷多，靈敏度會有問題，為每個像素電子電路提供所需的額外空間不會作為光敏區(qū)，域而且CMOS芯片表面上的光敏區(qū)域部分小于CCD芯片。將AOI放置在爐后位置檢測，PCBA經過回流焊后直接流向AOI檢測設備進行檢測。陽江銷售AOI檢測設備設備價錢

用戶通過使用AOI作為減少缺陷的工具，在裝配過程中盡早發(fā)現和修正錯誤，實現良好的過程管控。半導體AOI檢測設備設備廠家

AOI從鏡頭數量來說有單鏡頭和多鏡頭，這是技術方案實現的一種選擇，但并非多鏡頭的就比較好，因為單鏡頭通過多個光源的不同角度照射也能得到很好的檢測圖像。尤其是針對無鉛焊接的表面比較粗糙，會產生形狀不同的焊點，容易形成氣泡，而且容易出現零件一端翹立的特點，新的AOI設備也都進行了適應性的硬件和算法的更新。和田古德AOI采用的高清彩色全局曝光數字相機，同時配備的遠心鏡頭，能夠消除卷簾相機的拖影現象，提升了檢測速度，同時可以從容應對高元件側面焊盤的檢測。在直線型測試、偏轉角度測試、距離測試上，均有更精細的效果。AOI雖然可用于生產線上的多個位置，每個位置均可檢測特殊缺陷，比如和田古德AOI舉支持smt爐前，爐后以及sip工位的檢測，同時也支持0201封裝的元件檢測。不過，一般的SMT工作者習慣將AOI檢測設備放置在回流焊之后，也是在SMT工藝過程步驟進行檢查，因為這個位置可發(fā)現全部的裝配錯誤。回流焊后檢查能夠提供高度的安全性，因為它能識別由錫膏印刷、元件貼裝和回流過程引起的錯誤。半導體AOI檢測設備設備廠家