ICT在線測(cè)試儀測(cè)試是怎樣讀取時(shí)間的?1.往單元A寫入數(shù)據(jù)"0"，往單元B寫入數(shù)據(jù)"1"，堅(jiān)持READ為使能狀態(tài)并讀取單元A值。2.地址轉(zhuǎn)換到單元B，實(shí)質(zhì)上就是ICT在線測(cè)試儀丈量?jī)?nèi)存數(shù)據(jù)的堅(jiān)持時(shí)間，轉(zhuǎn)換時(shí)間就是從地址轉(zhuǎn)換開始到數(shù)據(jù)變換之間的時(shí)間。3.建立時(shí)間--輸入數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換必需提前鎖定輸入時(shí)鐘的時(shí)間。4.堅(jiān)持時(shí)間--鎖定輸入時(shí)鐘之后輸入數(shù)據(jù)必需堅(jiān)持的時(shí)間。5.暫停時(shí)間--內(nèi)存單元能保持它狀態(tài)的時(shí)間。6.刷新時(shí)間--刷新內(nèi)存的很大允許時(shí)間。7.寫入恢復(fù)時(shí)間--寫操作之后的能讀取某一內(nèi)存單元所必須等待的時(shí)間。使用ict檢測(cè)能極大地提高生產(chǎn)效率，降低生產(chǎn)成本。重慶ICT治具供應(yīng)商

ICT測(cè)試不良及常見故障的分析方法：A、如果測(cè)試值與標(biāo)準(zhǔn)值比較只是發(fā)生了較大的偏移，而不是量測(cè)值為無窮大的情況，則可能存在的原因有以下幾個(gè)方面：（1）錯(cuò)件；（2）有內(nèi)阻的被動(dòng)組件的影響；（3）測(cè)試點(diǎn)有問題。B、如果量測(cè)值與標(biāo)準(zhǔn)值比較只是發(fā)生了很小的偏移，這種情況多為零件誤差引起的，但是為了準(zhǔn)確起見，較好是通過比較的方法看是否真的是由于誤差的原因而造成的量測(cè)值偏移，如果由于誤差的原因造成的話，需由工程人員作相應(yīng)的程序調(diào)整。杭州在線檢測(cè)治具廠家報(bào)價(jià)ICT治具關(guān)鍵控制點(diǎn)：板厚、高度、定位孔高度直徑、探針位置、銑讓位、擋柱等都需符合設(shè)計(jì)規(guī)范。

ICT在線測(cè)試治具的技術(shù)應(yīng)用，由于現(xiàn)代技術(shù)的發(fā)展，ICT在線測(cè)試儀的技術(shù)也得到了很大的提升，使得其普遍的應(yīng)用到現(xiàn)代電子儀器的檢測(cè)當(dāng)中，ICT在線測(cè)試儀主要是對(duì)組裝電路板進(jìn)行測(cè)試，可以在不斷開電路的情況下能夠?qū)x器進(jìn)行測(cè)試介紹了新的技術(shù)有非矢量技術(shù)，以及邊界掃描技術(shù)，以及對(duì)整個(gè)系統(tǒng)進(jìn)行功能測(cè)試，并與針床式在線測(cè)試進(jìn)行了分析比較，指出了其各自的適用領(lǐng)域。具體內(nèi)容下面詳細(xì)分析。線測(cè)驗(yàn)儀測(cè)驗(yàn)其作業(yè)辦法主要指元器件在線路上。在線測(cè)驗(yàn)是一種不斷開電路，不拆下元器件管腳的測(cè)驗(yàn)技能，“在線”反映了ICT重在經(jīng)過對(duì)在線路上的元器件或開短路狀況的測(cè)驗(yàn)來查看電路板的拼裝疑問。電氣測(cè)驗(yàn)運(yùn)用的根本儀器是在線測(cè)驗(yàn)儀（ICT），根本的ICT近年來跟著戰(zhàn)勝先進(jìn)技能限制的技能而改善。

ICT測(cè)試不良及常見故障的分析方法：零件不良：所謂零件不良是指在ICT測(cè)試時(shí)，顯示“OpenFail”在零件不良打印報(bào)表中其量測(cè)值往往與該零件的標(biāo)準(zhǔn)值不一致，而存在一定的偏移，這種偏移有時(shí)很大，有時(shí)很小，出現(xiàn)的原因也很多，下面分以下幾個(gè)步驟加以分析：A．如果是M-V：9999.99Dev：+999.9%，那么可能存在的原因有以下幾個(gè)方面：（1）空焊（2）漏件；（3）PCB開路（4）測(cè)試點(diǎn)有問題：a．針未接觸到；b．測(cè)試點(diǎn)氧化；c．測(cè)試點(diǎn)有東西擋?。籨．測(cè)試點(diǎn)在防焊區(qū)?，F(xiàn)在ICT已可以測(cè)試三極管、穩(wěn)壓管、光耦、IC等多種元器件。

導(dǎo)致ICT測(cè)試冶具測(cè)試不良的原因分析：開路不良（常由探針接觸不良所致），開路不良只針對(duì)某一短路群而言，例如：短路群：<1，4，10，12>，ICT測(cè)試冶具測(cè)試出1，10開路不良，表示PCB上測(cè)試點(diǎn)1與測(cè)試點(diǎn)10之間電阻大于55Ω（或55-85Ω），可以用萬用表在PCB上的測(cè)試點(diǎn)上進(jìn)行驗(yàn)證；可能原因：1）測(cè)試針壞掉，或針型與待測(cè)板上的測(cè)試點(diǎn)不適合；2）測(cè)試點(diǎn)上有松香等絕緣物品；3）某一元器件漏裝、焊接不良、錯(cuò)件等；4）繼電器、開關(guān)或變阻器的位置有變化；5）PCB上銅箔斷裂，或ViaHole與銅箔之間Open。ICT治具關(guān)鍵控制點(diǎn)：具體標(biāo)準(zhǔn)以實(shí)際零件為準(zhǔn)，以測(cè)量值較大為較佳。金華在線檢測(cè)儀器銷售公司

ICT技術(shù)增加ICT測(cè)試點(diǎn)，并定義測(cè)試點(diǎn)載荷（力或者位移）。重慶ICT治具供應(yīng)商

ICT技術(shù)參數(shù)：1)較大測(cè)試點(diǎn)數(shù)表示設(shè)備較多能設(shè)多少個(gè)測(cè)試點(diǎn)。一般電阻、電容等元件只有兩條引腳，每個(gè)元件只用兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)就夠了。ICT有多個(gè)引腳，每條引腳都需要設(shè)一個(gè)測(cè)試點(diǎn)。元件越多，電路板越復(fù)雜，需要測(cè)試點(diǎn)越多。因此，測(cè)試儀需要足夠多的測(cè)試點(diǎn)數(shù)。目前ICT的較大測(cè)試點(diǎn)數(shù)可達(dá)2048點(diǎn)，已足夠用了。2)可測(cè)試的元器件種類早期的ICT只可以測(cè)試開、短路，電阻、電容、電感、二極管等較少種類的元器件，經(jīng)不斷改進(jìn)，現(xiàn)在ICT已可以測(cè)試三極管、穩(wěn)壓管、光耦、IC等多種元器件。重慶ICT治具供應(yīng)商