光學(xué)干涉測(cè)量的工作原理基于干涉儀的原理：當(dāng)光波經(jīng)過(guò)物體表面時(shí)，會(huì)發(fā)生干涉現(xiàn)象，形成干涉條紋。通過(guò)觀察和分析干涉條紋的變化，可以推斷出物體表面的形變情況。光學(xué)干涉測(cè)量通常使用干涉儀、激光器和相機(jī)等設(shè)備進(jìn)行測(cè)量。光學(xué)應(yīng)變測(cè)量和光學(xué)干涉測(cè)量在測(cè)量原理和應(yīng)用領(lǐng)域上有著明顯的不同。光學(xué)應(yīng)變測(cè)量技術(shù)相比于其他應(yīng)變測(cè)量方法具有非接觸性、高精度和高靈敏度、全場(chǎng)測(cè)量能力、快速實(shí)時(shí)性以及較好的可靠性和穩(wěn)定性等優(yōu)勢(shì)。這些優(yōu)勢(shì)使得光學(xué)應(yīng)變測(cè)量技術(shù)在材料研究、結(jié)構(gòu)分析、動(dòng)態(tài)應(yīng)變分析和實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域具有普遍的應(yīng)用前景。隨著科技的不斷進(jìn)步，相信光學(xué)應(yīng)變測(cè)量技術(shù)將在未來(lái)發(fā)展中發(fā)揮更加重要的作用。光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量利用物體的應(yīng)變數(shù)據(jù)可以建立應(yīng)力應(yīng)變關(guān)系模型，從而轉(zhuǎn)化為應(yīng)力數(shù)據(jù)。貴州VIC-3D非接觸應(yīng)變系統(tǒng)

進(jìn)行變形測(cè)量時(shí)，需滿足以下基本要求：1.對(duì)于大型或重要工程建筑物、構(gòu)筑物，在工程設(shè)計(jì)階段應(yīng)多方面考慮變形測(cè)量，并在施工開(kāi)始時(shí)進(jìn)行測(cè)量。2.變形測(cè)量點(diǎn)應(yīng)分為基準(zhǔn)點(diǎn)、工作基點(diǎn)和變形觀測(cè)點(diǎn)。3.每次變形觀測(cè)應(yīng)遵循以下要求：采用相同的圖形和觀測(cè)方法，使用同一儀器和設(shè)備，由固定的觀測(cè)人員在基本相同的環(huán)境和條件下工作。4.平面和高程監(jiān)測(cè)網(wǎng)應(yīng)定期檢測(cè)。建網(wǎng)初期，每半年檢測(cè)一次；點(diǎn)位穩(wěn)定后，檢測(cè)周期可適當(dāng)延長(zhǎng)。如果對(duì)變形結(jié)果有疑問(wèn)，應(yīng)隨時(shí)進(jìn)行檢核。湖南VIC-2D非接觸式應(yīng)變測(cè)量光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量是一種非接觸式的測(cè)量方法，具有高精度和高靈敏度。

外部變形包括變形體外部形狀及其空間位置的改變，如傾斜、裂縫、垂直和水平位移等。因此，變形觀測(cè)可分為垂直位移觀測(cè)（常稱(chēng)為沉降觀測(cè)）、水平位移觀測(cè)（常簡(jiǎn)稱(chēng)為位移觀測(cè)）、傾斜觀測(cè)、裂縫觀測(cè)、撓度觀測(cè)（建筑的基礎(chǔ)、上部結(jié)構(gòu)或構(gòu)件等在彎矩作用下因撓曲引起的垂直于軸線的線位移）、風(fēng)振觀測(cè)（對(duì)受強(qiáng)風(fēng)作用而產(chǎn)生的變形進(jìn)行觀測(cè)）、日照觀測(cè)（對(duì)受陽(yáng)光照射受熱不均而產(chǎn)生的變形進(jìn)行觀測(cè)）以及基坑回彈觀測(cè)（對(duì)基坑開(kāi)挖時(shí)由于卸除土的自重而引起坑底土隆起的現(xiàn)象進(jìn)行觀測(cè)）等。內(nèi)部變形則指變形體內(nèi)部應(yīng)力、溫度、水位、滲流、滲壓等的變化。

光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量技術(shù)是一種非接觸、高精度的應(yīng)變測(cè)量方法，普遍應(yīng)用于工程領(lǐng)域中的結(jié)構(gòu)應(yīng)變分析、材料力學(xué)性能研究等方面。在光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量技術(shù)中，儀器設(shè)備起著至關(guān)重要的作用。這里將介紹幾種常見(jiàn)的光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量技術(shù)儀器設(shè)備。首先，光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量技術(shù)中較常用的儀器設(shè)備之一是光柵應(yīng)變計(jì)。光柵應(yīng)變計(jì)是一種基于光柵原理的應(yīng)變測(cè)量?jī)x器，通過(guò)測(cè)量光柵的位移來(lái)計(jì)算應(yīng)變。光柵應(yīng)變計(jì)具有高精度、高靈敏度、非接觸等特點(diǎn)，普遍應(yīng)用于結(jié)構(gòu)應(yīng)變分析、材料力學(xué)性能研究等領(lǐng)域。光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量應(yīng)用于匯總公共交通工具的檢測(cè)領(lǐng)域。

光學(xué)應(yīng)變測(cè)量的分辨率是指測(cè)量系統(tǒng)能夠分辨的較小應(yīng)變量。分辨率的大小取決于測(cè)量設(shè)備的性能和測(cè)量方法的選擇。一般來(lái)說(shuō)，光學(xué)應(yīng)變測(cè)量設(shè)備的分辨率可以達(dá)到亞微應(yīng)變級(jí)別。這得益于光學(xué)測(cè)量方法的高靈敏度和高分辨率。例如，常用的全場(chǎng)測(cè)量方法，如全息術(shù)和數(shù)字圖像相關(guān)法，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)整個(gè)被測(cè)物體表面的應(yīng)變分布進(jìn)行測(cè)量，從而提高了測(cè)量的分辨率。此外，還有一些局部測(cè)量方法，如光纖光柵傳感器和激光干涉儀等，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)特定區(qū)域的高精度測(cè)量，進(jìn)一步提高了測(cè)量的分辨率。光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量方法可以通過(guò)比較不同載荷下的光強(qiáng)分布或圖像相關(guān)系數(shù)，獲取物體表面的應(yīng)變信息。浙江高速光學(xué)數(shù)字圖像相關(guān)應(yīng)變測(cè)量裝置

雖然光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量存在局限性，但通過(guò)在不同平面上投射多個(gè)光柵，可以實(shí)現(xiàn)多個(gè)方向上的應(yīng)變測(cè)量。貴州VIC-3D非接觸應(yīng)變系統(tǒng)

光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量和應(yīng)力測(cè)量是兩個(gè)在工程領(lǐng)域中普遍應(yīng)用的重要技術(shù)。它們之間存在著密切的關(guān)聯(lián)，通過(guò)光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量可以間接地獲得物體的應(yīng)力信息。這里將探討光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量和應(yīng)力測(cè)量的關(guān)聯(lián)，并介紹它們?cè)诠こ虒?shí)踐中的應(yīng)用。首先，我們來(lái)了解一下光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量的原理。光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量是利用光學(xué)原理來(lái)測(cè)量物體在受力作用下的應(yīng)變情況。當(dāng)物體受到外力作用時(shí)，其內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生應(yīng)變，即物體的形狀和尺寸會(huì)發(fā)生變化。光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量利用光的干涉原理，通過(guò)測(cè)量物體表面上的干涉條紋的變化來(lái)間接地獲得物體的應(yīng)變信息。通過(guò)分析干涉條紋的形態(tài)和密度變化，可以計(jì)算出物體在不同位置上的應(yīng)變大小。而應(yīng)力測(cè)量是直接測(cè)量物體內(nèi)部受力狀態(tài)的一種方法。應(yīng)力是物體內(nèi)部的分子間相互作用力，是物體受力狀態(tài)的直接體現(xiàn)。應(yīng)力測(cè)量可以通過(guò)應(yīng)變測(cè)量來(lái)實(shí)現(xiàn)，即通過(guò)測(cè)量物體在受力作用下的形變情況來(lái)間接地獲得物體的應(yīng)力信息。應(yīng)力測(cè)量的常用方法有應(yīng)變片法、電阻應(yīng)變片法等。這些方法通過(guò)將應(yīng)變片或電阻應(yīng)變片粘貼在物體表面上，當(dāng)物體受到外力作用時(shí)，應(yīng)變片或電阻應(yīng)變片會(huì)發(fā)生形變，通過(guò)測(cè)量形變的大小和方向，可以計(jì)算出物體在不同位置上的應(yīng)力大小。貴州VIC-3D非接觸應(yīng)變系統(tǒng)