無(wú)損檢測(cè)是一種利用射線、超聲波、紅外、電磁等原理和技術(shù)，結(jié)合儀器，在不損壞或影響被測(cè)物體使用性能的情況下，檢測(cè)材料、零件和設(shè)備的缺陷、化學(xué)和物理參數(shù)的技術(shù)。常見的例子包括焊縫裂紋的超聲波檢查。中國(guó)機(jī)械工程學(xué)會(huì)無(wú)損檢測(cè)學(xué)會(huì)是中國(guó)無(wú)損檢測(cè)的學(xué)術(shù)組織，TC56是其標(biāo)準(zhǔn)化組織。即：國(guó)家無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)。損傷檢測(cè)是工業(yè)發(fā)展不可或缺的有效工具，在一定程度上反映了一個(gè)國(guó)家的工業(yè)發(fā)展水平，其重要性已得到公認(rèn)。1978年11月，中國(guó)成立了國(guó)家無(wú)損檢測(cè)學(xué)術(shù)機(jī)構(gòu)——中國(guó)機(jī)械工程學(xué)會(huì)無(wú)損檢測(cè)分會(huì)。研索儀器科技（上海）有限公司的原位加載系統(tǒng)在多個(gè)領(lǐng)域得到了應(yīng)用，并取得了成效。西安激光散斑無(wú)損檢測(cè)儀銷售公司

無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)案例2：動(dòng)力電池電極涂層剝離失效分析??技術(shù)?：微米級(jí)光學(xué)應(yīng)變測(cè)量+原位充放電裝置?挑戰(zhàn)?：硅碳負(fù)極在鋰嵌入/脫出時(shí)發(fā)生體積膨脹（>300%），導(dǎo)致涂層與集流體分層。?解決方案?：采用長(zhǎng)工作距顯微鏡（50×）搭配白光干涉儀，在充放電循環(huán)中實(shí)時(shí)測(cè)量電極表面3D形貌。通過(guò)DIC算法計(jì)算涂層橫向應(yīng)變分布，定位剝離起始點(diǎn)。?成果?：量化發(fā)現(xiàn)?界面剪切應(yīng)力峰值?出現(xiàn)在SOC60%階段（應(yīng)變跳變≥0.8%），指導(dǎo)開發(fā)梯度粘結(jié)劑方案，循環(huán)壽命提升150%。青海ISI無(wú)損檢測(cè)儀價(jià)格檢測(cè)探頭自動(dòng)校準(zhǔn)功能，消除人為誤差，保證結(jié)果一致性。

    無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的重要性與挑戰(zhàn)：新型技術(shù)的發(fā)展，比如3D打印、微、納和精細(xì)加工制造技術(shù)、復(fù)合材料結(jié)構(gòu)件等，對(duì)無(wú)損檢測(cè)方法來(lái)說(shuō)又是不斷增加的挑戰(zhàn)，需要我們提前研究和認(rèn)真考慮。隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的快速發(fā)展和大數(shù)據(jù)技術(shù)的出現(xiàn)，我們可能需要考慮未來(lái)的無(wú)揭檢測(cè)應(yīng)該是什么樣子，傳統(tǒng)的無(wú)損檢測(cè)方法和管理體系是否需要改變，是否有可能改變除了學(xué)術(shù)水平的培養(yǎng)，能力特別是創(chuàng)新能力和解決工程應(yīng)用中難題的能力的培養(yǎng)也很重要，面對(duì)各種挑戰(zhàn)，團(tuán)隊(duì)精神、艱苦奮斗和奉南精神的培養(yǎng)也需要特別，這是由無(wú)損檢測(cè)的工程應(yīng)用背量決定的基本的要素。

在經(jīng)典的儀表管理中，我們一直使用“校驗(yàn)”這個(gè)詞，但在計(jì)量管理中，我們稱之為“校準(zhǔn)”。校準(zhǔn)是指確定計(jì)量器具示值誤差（必要時(shí)也包括其他計(jì)量性能）的全部工作。雖然校準(zhǔn)和檢定是兩個(gè)不同的概念，但兩者之間有密切的聯(lián)系，校準(zhǔn)通常使用比被校計(jì)量器具精度高的計(jì)量器具（稱為標(biāo)準(zhǔn)器具）與被校計(jì)量器具進(jìn)行比較，以確定被校計(jì)量器具的示值誤差，有時(shí)也包括部分計(jì)量性能。然而，進(jìn)行校準(zhǔn)的計(jì)量器具通常只需要確定示值誤差，而檢定則需要更嚴(yán)格的條件，因此需要在檢定室內(nèi)進(jìn)行。雖然校準(zhǔn)過(guò)程中可以進(jìn)行調(diào)整，但調(diào)整并不等同于校準(zhǔn)。因此，有人將校準(zhǔn)理解為將計(jì)量器具調(diào)整到規(guī)定誤差范圍的過(guò)程是不夠確切的。模塊化教學(xué)套件+虛擬仿真系統(tǒng)，本科至研究生實(shí)驗(yàn)課程全覆蓋。

無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)案例4：生物可吸收支架體內(nèi)力學(xué)行為模擬??技術(shù)?：微流體環(huán)境同步輻射CT+光學(xué)應(yīng)變映射?挑戰(zhàn)?：鎂合金支架在血管中降解時(shí)的動(dòng)態(tài)支撐力衰減機(jī)制不明確。?解決方案?：在仿生流道內(nèi)植入支架，通過(guò)同步輻射CT（分辨率1μm/幀）觀測(cè)降解孔隙演變。表面噴涂熒光納米標(biāo)記點(diǎn)，利用顯微成像追蹤局部應(yīng)變。?成果?：揭示?降解前沿應(yīng)變集中?現(xiàn)象（局部應(yīng)變達(dá)基體3倍），優(yōu)化開槽設(shè)計(jì)后支撐力穩(wěn)定性提升70%（動(dòng)物實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)）。研索無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)，快速精確完成缺陷篩查。安徽ISI復(fù)合材料無(wú)損檢測(cè)代理商

采用模塊化設(shè)計(jì)，可根據(jù)客戶需求靈活擴(kuò)展檢測(cè)功能與覆蓋范圍。西安激光散斑無(wú)損檢測(cè)儀銷售公司

無(wú)損檢測(cè)設(shè)備的應(yīng)用之航空航天：目前，中國(guó)的航空航天技術(shù)已經(jīng)取得了巨大的進(jìn)步，嫦娥五號(hào)探測(cè)器的每一個(gè)部件都有非常嚴(yán)格的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，這是中國(guó)一次無(wú)人地外物體采樣。重要的部分是電路板。嫦娥五號(hào)探測(cè)器的中間控制單元電路板與計(jì)算機(jī)的CPU一樣重要。我們稱控制單元電路板為葡萄酒探測(cè)器的“大腦”由于衛(wèi)星產(chǎn)品的特殊性，所使用的組件不是行業(yè)中較小的組件。因此，檢測(cè)焊接質(zhì)量的主要困難不是部件的尺寸，而是部件的數(shù)量。在傳統(tǒng)的電路板上，組件的數(shù)量約為兩三百個(gè)，通常為500個(gè)。然而，探測(cè)器的重要電路板上焊接了2000多個(gè)組件，其中大部分是引腳芯片。檢測(cè)焊接質(zhì)量的更大困難是如此多引腳的間距和數(shù)量。因此，檢測(cè)檢測(cè)器的電路板的難度按簾的順序增加。西安激光散斑無(wú)損檢測(cè)儀銷售公司