X射線熒光光譜儀的原理是什么？X熒光光譜儀由激發(fā)源和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應用范圍不斷拓展，已成為一種普遍應用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領(lǐng)域，特別是在檢測領(lǐng)域應用得多也普遍。大多數(shù)分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。X射線衍射儀是揭示材料晶體結(jié)構(gòu)和化學信息的一種通用性測試儀器。上海奧林巴斯XRD哪家專業(yè)

衍射儀中XRD采用單色X射線為衍射源，一般可以穿透固體，從而驗證其內(nèi)部結(jié)構(gòu)，因此XRD給出的是材料的體相結(jié)構(gòu)信息。XRD多以定性物相分析為主，但也可以進行定量分析。通過待測樣品的X射線衍射譜圖與標準物質(zhì)的X射線衍射譜圖進行對比,可以定性分析樣品的物相組成;通過對樣品衍射強度數(shù)據(jù)的分析計算,可以完成樣品物相組成的定量分析.根據(jù)XRD譜圖信息，可以確定樣品是無定型還是晶體：無定型樣品為大包峰，沒有精細譜峰結(jié)構(gòu)；晶體則有豐富的譜線特征。把樣品中很強峰的強度和標準物質(zhì)的進行對比，可以定性知道樣品的結(jié)晶度。浙江奧林巴斯BTX小型臺式XRD定制費用歡迎致電上海澤權(quán)咨詢衍射儀。歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！

X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量分析.普遍應用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生產(chǎn)等領(lǐng)域.X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的一種大型分析儀器，普遍應用于各大、專院校，科研院所及廠礦企業(yè)?；緲?gòu)造：X射線衍射儀的形式多種多樣, 用途各異, 但其基本構(gòu)成很相似, X射線衍射儀的基本構(gòu)造原理圖, 主要部件包括4部分。高穩(wěn)定度X射線源　提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長, 調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強度。

X射線衍射分析可以獲得哪些實驗數(shù)據(jù)?通常做的是粉末衍射，可以得到樣品在不同角度的衍射強度，也就是兩列數(shù)據(jù)，一列是角度，一列是強度，對比已有的衍射譜的卡片，從而知道材料中是有哪些相存在。如果材料中有未知的相，也可以通過XRD確定其結(jié)構(gòu)。先對其做指標化，確定了hkl，同時還能把晶體結(jié)構(gòu)定下來，還有就是定晶格參數(shù)。如果你還要做進一步的分析，你可以做結(jié)構(gòu)精修，從而確定不同原子在晶格內(nèi)的位置，鍵長鍵角什么的。如果技術(shù)好，還可以得到材料中的應力，溫度因子，晶格取向等信息。X射線衍射儀無需外接電源，使用電池供電，并且確保能持續(xù)工作6小時。

X射線衍射分析方法是材料微觀結(jié)構(gòu)表征很常規(guī)和有效的方法之一，它的適用性很廣，通常用于測量粉末、單晶或多晶體等塊體材料，并擁有檢測快速、操作簡單、數(shù)據(jù)處理方便等優(yōu)點，能為物理、化學、地球科學、材料科學、冶金以及各種工程技術(shù)科學的研究和教學提供專業(yè)服務。分為照相法和衍射儀法，其中照相法分為三種：德拜法、聚焦法和法。X射線衍射儀的思想很早是由布拉格提出的，原始叫X射線分光計。X射線衍射儀是以特征X射線照射多晶體樣品，用探測器記錄衍射信息的衍射實驗裝置，主要由：X射線發(fā)生器、X射線測角儀、探測器、探測電路、控制操作系統(tǒng)和計算機系統(tǒng)組成。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點。江蘇奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀批發(fā)商

X射線衍射儀配備一個獨特的小樣品托架，只需15毫克樣品就可以完成分析，提升工作效率。上海奧林巴斯XRD哪家專業(yè)

X射線衍射分析是利用晶體形成的X射線衍射，對物質(zhì)進行內(nèi)部原子在空間分布狀況的結(jié)構(gòu)分析方法。將具有一定波長的X射線照射到結(jié)晶性物質(zhì)上時，X射線因在結(jié)晶內(nèi)遇到規(guī)則排列的原子或離子而發(fā)生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強，從而顯示與結(jié)晶結(jié)構(gòu)相對應的特有的衍射現(xiàn)象。衍射X射線滿足布拉格（W.L.Bragg）方程：2dsinθ=nλ式中：λ是X射線的波長；θ是衍射角；d是結(jié)晶面間隔；n是整數(shù)。波長λ可用已知的X射線衍射角測定，進而求得面間隔，即結(jié)晶內(nèi)原子或離子的規(guī)則排列狀態(tài)。將求出的衍射X射線強度和面間隔與已知的表對照，即可確定試樣結(jié)晶的物質(zhì)結(jié)構(gòu)，此即定性分析。從衍射X射線強度的比較，可進行定量分析。上海奧林巴斯XRD哪家專業(yè)