手機(jī)玻璃蓋板在生產(chǎn)過程中會產(chǎn)生不同程度的內(nèi)部應(yīng)力,這些應(yīng)力主要來源于切割、研磨、鋼化和貼合等工藝環(huán)節(jié)。殘余應(yīng)力的大小和分布直接影響蓋板的機(jī)械強(qiáng)度和光學(xué)性能,不當(dāng)?shù)膽?yīng)力分布可能導(dǎo)致產(chǎn)品在使用中出現(xiàn)碎裂、翹曲或光學(xué)畸變等問題。為了確保產(chǎn)品質(zhì)量,制造商通常采用雙折射...
快軸慢軸角度測量對波片類光學(xué)元件的質(zhì)量控制至關(guān)重要。相位差測量儀通過旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器法,可以精確確定雙折射材料的快慢軸方位。這種測試對VR設(shè)備中使用的1/4波片尤為重要,角度測量精度達(dá)0.05度。系統(tǒng)配備多波長光源,可驗(yàn)證波片在不同波段的工作性能。在聚合物延遲膜的檢...
相位差測量儀在AR/VR光學(xué)模組檢測中發(fā)揮著關(guān)鍵作用,特別是在Pancake光學(xué)系統(tǒng)的質(zhì)量控制環(huán)節(jié)。通過精確測量多層折疊光路中的相位差分布,可以評估光學(xué)模組的成像質(zhì)量和光能利用率。現(xiàn)代測試系統(tǒng)采用多波長干涉技術(shù),能夠同時檢測可見光波段內(nèi)不同波長下的相位差特性,...
光學(xué)特性諸如透過率、偏振度、貼合角和吸收軸等參數(shù),直接決定了偏光材料在顯示中的效果。因此控制各項(xiàng)參數(shù),是確保終端產(chǎn)品具備高效光學(xué)性能的重中之重。 PLM系列是由千宇光學(xué)精心設(shè)計研發(fā)及生產(chǎn)的高精度相位差軸角度測量設(shè)備,滿足QC及研發(fā)測試需求的同時,可根...
光程差測量是相位差測量儀的另一個重要的應(yīng)用領(lǐng)域?;谶~克爾遜干涉原理的測量系統(tǒng)可以檢測光學(xué)元件表面形貌引起的微小光程差異,分辨率可達(dá)納米級。這種方法廣泛應(yīng)用于光學(xué)鏡面加工的質(zhì)量控制,如望遠(yuǎn)鏡主鏡的面形檢測。在薄膜厚度測量中,通過分析反射光與入射光之間的光程差,...
在光學(xué)元件制造領(lǐng)域,應(yīng)力檢測具有特殊的重要性。光學(xué)玻璃在切割、研磨和鍍膜過程中會產(chǎn)生殘余應(yīng)力,這些應(yīng)力會導(dǎo)致光學(xué)性能下降甚至元件破裂。專業(yè)的應(yīng)力檢測儀能夠精確測量這些微觀應(yīng)力,通常采用激光干涉或數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù),分辨率可達(dá)納米級別。通過定期檢測,工藝工程師可以...
相位差測量儀在吸收軸角度測試中具有關(guān)鍵作用,主要用于液晶顯示器和偏光片的質(zhì)量控制。通過精確測量吸收材料的各向異性特性,可以評估偏光片對特定偏振方向光的吸收效率?,F(xiàn)代測試系統(tǒng)采用旋轉(zhuǎn)樣品臺配合高靈敏度光電探測器,測量精度可達(dá)0.01度。這種方法不僅能確定吸收軸的...
目視法應(yīng)力儀的校準(zhǔn)和維護(hù)對其檢測結(jié)果的可靠性至關(guān)重要。由于儀器的精度依賴于光學(xué)組件的對齊和偏振片的性能,定期校準(zhǔn)是保證測量準(zhǔn)確性的關(guān)鍵。校準(zhǔn)通常使用標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)力片或已知應(yīng)力分布的樣品,通過調(diào)整光源強(qiáng)度和偏振角度,確保儀器顯示的條紋與標(biāo)準(zhǔn)值一致。此外,環(huán)境因素如溫度...
透鏡內(nèi)應(yīng)力的精確檢測需要綜合運(yùn)用多種測量技術(shù)。對于透明光學(xué)材料,偏振光應(yīng)力儀可直觀顯示應(yīng)力分布情況,配合定量分析軟件能獲得具體的應(yīng)力數(shù)值。當(dāng)需要更高空間分辨率時,可采用數(shù)字全息干涉法,其測量精度可達(dá)0.1nm/cm。對于不透明或鍍膜透鏡,則適用X射線衍射法,能...
斯托克斯測試方法通過測量光的四個斯托克斯參數(shù),可以完整描述光束的偏振狀態(tài)。相位差信息隱含在斯托克斯參數(shù)的相互關(guān)系之中,反映了光學(xué)系統(tǒng)的偏振調(diào)制特性。這種測試對偏振相關(guān)器件的性能評估尤為重要,如液晶相位調(diào)制器、光纖偏振控制器等。當(dāng)前的實(shí)時斯托克斯測量系統(tǒng)采用高速...
光學(xué)材料的應(yīng)力主要來自兩個方面:內(nèi)部應(yīng)力和外部應(yīng)力。內(nèi)部應(yīng)力是由材料的制備過程和結(jié)構(gòu)導(dǎo)致,如晶體材料的晶格缺陷、材料的熱膨脹系數(shù)不匹配等。外部應(yīng)力則是來源于外界環(huán)境的作用,如機(jī)械壓力、溫度變化等。千宇光學(xué)自主研發(fā)的成像式內(nèi)應(yīng)力測試儀PRM-90S,高精高速,采...
在光學(xué)薄膜的研發(fā)與檢測中,相位差測量儀發(fā)揮著不可替代的作用。多層介質(zhì)膜在設(shè)計和制備過程中會產(chǎn)生復(fù)雜的相位累積效應(yīng),這直接影響著增透膜、分光膜等光學(xué)元件的性能指標(biāo)。通過搭建基于邁克爾遜干涉儀原理的相位差測量系統(tǒng),研究人員可以實(shí)時監(jiān)測鍍膜過程中各層薄膜的相位變化,...
相位差測量在光學(xué)薄膜特性分析中是不可或缺的。多層介質(zhì)膜的相位累積效應(yīng)直接影響其光學(xué)性能,通過測量透射或反射光的相位差,可以評估膜系的均勻性和光學(xué)常數(shù)。這種方法特別適用于寬波段消色差波片的研發(fā),能夠驗(yàn)證不同波長下的相位延遲特性。在制備抗反射鍍膜時,實(shí)時相位監(jiān)測確...
Rth相位差測試儀專門用于測量光學(xué)材料在厚度方向的相位延遲特性,可精確表征材料的雙折射率分布。該系統(tǒng)基于傾斜入射橢偏技術(shù),通過改變?nèi)肷浣嵌?,獲取樣品在不同深度下的相位差數(shù)據(jù)。在聚合物薄膜檢測中,Rth測試儀能夠評估拉伸工藝導(dǎo)致的分子取向差異,測量范圍可達(dá)±30...
玻璃制品內(nèi)應(yīng)力的精確檢測是確保產(chǎn)品質(zhì)量和安全性的重要環(huán)節(jié)。在玻璃成型、退火和加工過程中,由于溫度梯度和機(jī)械作用,會產(chǎn)生不同程度的內(nèi)應(yīng)力。這些應(yīng)力如果超過允許值,會導(dǎo)致產(chǎn)品在運(yùn)輸、使用過程中自爆或破裂。專業(yè)的玻璃應(yīng)力檢測主要采用偏光應(yīng)力儀,基于應(yīng)力雙折射原理進(jìn)行...
成像式應(yīng)力儀的未來發(fā)展將更加注重多功能集成和智能化應(yīng)用。新一代設(shè)備開始融合多種檢測模式,如將應(yīng)力檢測與尺寸測量、表面缺陷檢測等功能集成于一體。部分創(chuàng)新產(chǎn)品引入增強(qiáng)現(xiàn)實(shí)(AR)技術(shù),通過頭戴顯示器將應(yīng)力分布直接疊加在真實(shí)產(chǎn)品上,極大方便了現(xiàn)場檢測工作。在數(shù)據(jù)分析...
透鏡內(nèi)應(yīng)力的精確檢測需要綜合運(yùn)用多種測量技術(shù)。對于透明光學(xué)材料,偏振光應(yīng)力儀可直觀顯示應(yīng)力分布情況,配合定量分析軟件能獲得具體的應(yīng)力數(shù)值。當(dāng)需要更高空間分辨率時,可采用數(shù)字全息干涉法,其測量精度可達(dá)0.1nm/cm。對于不透明或鍍膜透鏡,則適用X射線衍射法,能...
光學(xué)晶體材料的應(yīng)力檢測對成像式應(yīng)力儀提出了更高要求。這類材料如氟化鈣、硅等,在激光、紅外等特殊光學(xué)系統(tǒng)中應(yīng)用普遍。由于其晶體結(jié)構(gòu)的各向異性,常規(guī)應(yīng)力測量方法往往難以適用。特制成像式應(yīng)力儀采用可調(diào)諧激光光源和多向偏振檢測技術(shù),能夠準(zhǔn)確解析晶體材料內(nèi)部的復(fù)雜應(yīng)力狀...
定 性 檢 測 之測量方法,565nm光程差的全波片翻入光路中,視場顏色是紫紅色(使視域中出現(xiàn)彩色干涉色,提高肉眼對干涉色的分辯能力,將試件置入儀器偏振場中,人眼通過目鏡筒觀察被測試件表面的干涉色,可定性地判斷退火的質(zhì)量, 如果被測試件放入光路后,視場的顏色基...
成像應(yīng)力檢測設(shè)備通過將應(yīng)力分布可視化,極大提升了檢測效率和結(jié)果判讀的直觀性。這類設(shè)備通?;诠鈴椥曰驍?shù)字圖像相關(guān)技術(shù),能夠?qū)崟r捕捉樣品表面的應(yīng)力分布情況。先進(jìn)的成像應(yīng)力檢測系統(tǒng)采用高分辨率CMOS傳感器和多光譜光源,結(jié)合智能圖像處理算法,可以自動識別應(yīng)力集中區(qū)...
透鏡內(nèi)應(yīng)力是影響光學(xué)成像質(zhì)量的關(guān)鍵因素,主要來源于材料成型、加工和裝配過程中的各種機(jī)械和熱作用。在注塑成型工藝中,熔融塑料在模具內(nèi)冷卻固化時,由于溫度梯度和收縮不均會產(chǎn)生明顯的殘余應(yīng)力。這種應(yīng)力會導(dǎo)致透鏡產(chǎn)生雙折射現(xiàn)象,進(jìn)而引起成像畸變和分辨率下降。通過偏振光...
玻璃制品內(nèi)應(yīng)力的精確檢測是確保產(chǎn)品質(zhì)量和安全性的重要環(huán)節(jié)。在玻璃成型、退火和加工過程中,由于溫度梯度和機(jī)械作用,會產(chǎn)生不同程度的內(nèi)應(yīng)力。這些應(yīng)力如果超過允許值,會導(dǎo)致產(chǎn)品在運(yùn)輸、使用過程中自爆或破裂。專業(yè)的玻璃應(yīng)力檢測主要采用偏光應(yīng)力儀,基于應(yīng)力雙折射原理進(jìn)行...
偏光度測量是評估AR/VR光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量的重要指標(biāo)。相位差測量儀采用穆勒矩陣橢偏技術(shù),可以分析光學(xué)模組的偏振特性。這種測試對Pancake光學(xué)系統(tǒng)中的反射偏光膜尤為重要,測量范圍覆蓋380-780nm可見光譜。系統(tǒng)通過32點(diǎn)法測量,確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠。在光波導(dǎo)...
應(yīng)力雙折射測量技術(shù)是基于光彈性原理發(fā)展起來的一種應(yīng)力分析方法,特別適用于透明或半透明材料的應(yīng)力檢測。當(dāng)偏振光通過存在應(yīng)力的材料時,會產(chǎn)生雙折射現(xiàn)象,通過測量光程差的變化即可計算出應(yīng)力大小。這種測量方法具有非接觸、高靈敏度的特點(diǎn),被廣泛應(yīng)用于光學(xué)玻璃、液晶面板等...