從90年代末至今，近場(chǎng)微波成像已經(jīng)引起了學(xué)者們的濃厚興趣，但由于常規(guī)目標(biāo)散射近場(chǎng)的復(fù)雜性，致使近場(chǎng)微波成像遠(yuǎn)遠(yuǎn)滯后于遠(yuǎn)場(chǎng)成像。近場(chǎng)微波成像中，著眼于潛在的應(yīng)用，目標(biāo)函數(shù)既可以是理想導(dǎo)體目標(biāo)的輪廓函數(shù)，也可以是目標(biāo)介電常數(shù)的分布函數(shù)。從照射天線與成像目標(biāo)的相對(duì)運(yùn)動(dòng)方式來看，近場(chǎng)微波成像有兩種模式：即直線掃描模式和轉(zhuǎn)臺(tái)模式，研究方法可分為電磁逆散射法和球背向投影法（SphericalBackProjection，簡(jiǎn)寫為SBP）。其中電磁逆散射法散射機(jī)理清晰，但數(shù)學(xué)公式復(fù)雜且有很大的局限性，因而，實(shí)際中使用較少；而球背向投影法在實(shí)際中使用較多。利用球背向投影法在直線掃描模式和轉(zhuǎn)臺(tái)模式情況下的目標(biāo)函數(shù)解析公式已經(jīng)給出。電磁波不需要依靠介質(zhì)傳播，各種電磁波在真空中速率固定，速度為光速。上海歐盟CE輻射雜散實(shí)驗(yàn)室

近場(chǎng)掃描測(cè)試能計(jì)入環(huán)境影響嗎?近場(chǎng)測(cè)試是測(cè)的近場(chǎng)的表面電流,或者說很近的電磁場(chǎng),然后再計(jì)算成遠(yuǎn)場(chǎng)的方向圖,這顯然是無法考慮附近金屬體的影響的,其實(shí)近場(chǎng)測(cè)試只是對(duì)方向性高的陣列天線比較適用,到了邊上的話計(jì)算出的場(chǎng)也是不準(zhǔn)的,需要校準(zhǔn).我覺得如果你把金屬考慮進(jìn)去,一起測(cè)試比如一塊大的ground,那也會(huì)是比較準(zhǔn)確的。通過上述實(shí)施方式,其具有X、Y、Z及極化軸四軸運(yùn)動(dòng)能力,可以有效捕捉水平方向傳播的波譜信息,能夠容易地調(diào)整掃描架與待測(cè)設(shè)備之間的距離,自動(dòng)化程度高,測(cè)試效率高。福建3G無線性能檢測(cè)我們很多的設(shè)計(jì)都是在採用包地以后，避免了時(shí)鐘信號(hào)的輻射超標(biāo)。

輻射近場(chǎng)測(cè)量需要解決的問題：（1）考慮探頭與被測(cè)天線多次散射耦合的理論公式：在前述的理論中，所有的理論公式都是在忽略多次散射耦合條件下而得出的，這些公式對(duì)常規(guī)天線的測(cè)量有一定的精度，但對(duì)低副瓣或很低副瓣天線測(cè)量就必需考慮這些因素，因此，需要建立嚴(yán)格的耦合方程。（2）近場(chǎng)測(cè)量對(duì)天線口徑場(chǎng)診斷的精度和速度：近場(chǎng)測(cè)量對(duì)常規(guī)陣列天線口徑場(chǎng)的診斷有較好的診斷精度，但對(duì)于很低副瓣天線陣列而言，診斷精度和速度還需要進(jìn)一步研究。（3）輻射近場(chǎng)掃頻測(cè)量的研究：就一般情況而言，天線都在一個(gè)頻帶內(nèi)工作，因此，各項(xiàng)電指標(biāo)都是頻率的函數(shù)，為了快速獲得各個(gè)頻率點(diǎn)的電指標(biāo)，就需要進(jìn)行掃頻測(cè)量。掃頻測(cè)量的理論與點(diǎn)頻的理論完全一樣，只是在探頭掃描時(shí)，收發(fā)測(cè)量系統(tǒng)作掃頻測(cè)量。

輻射雜散快速測(cè)試系統(tǒng)— TS13產(chǎn)品特點(diǎn)：【便捷化】系統(tǒng)相較于標(biāo)準(zhǔn)輻射雜散測(cè)試實(shí)驗(yàn)室及預(yù)測(cè)試系統(tǒng)，體積更小，搬運(yùn)更方便;【測(cè)試快】?jī)?nèi)置16個(gè)接收天線，省去轉(zhuǎn)臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)間，600MHz-13GHz測(cè)試時(shí)間只需幾秒鐘，更適用于產(chǎn)線快速抽檢及研發(fā)階段的摸底測(cè)試；【系統(tǒng)搭建簡(jiǎn)單】配套的濾波器組，內(nèi)置放大器及切換控制單元小型化封裝于一體，測(cè)試系統(tǒng)搭建容易；【多方位天線布置】可準(zhǔn)確識(shí)別雜散輻射源的方向和位置，并且實(shí)時(shí)呈現(xiàn)結(jié)果，方便進(jìn)行樣品的“敲擊”測(cè)試，電連接性能測(cè)試及問題分析定位。信號(hào)接收端比較這兩個(gè)電壓的差值來判斷發(fā)送端發(fā)送的邏輯狀態(tài)。

EMI設(shè)計(jì)要點(diǎn)很多初學(xué)者對(duì)于EMI設(shè)計(jì)都摸不著頭腦，其實(shí)我當(dāng)初也是一樣，但是在做了幾次設(shè)計(jì)以后，也逐漸有了一些體會(huì)。首先，對(duì)于大腦里面一定要清楚一個(gè)概念－－在高頻里面，自由空間的阻抗是377歐姆，對(duì)于一般的EMI中的空間輻射來說，是由于信號(hào)的回路到了可以和空間阻抗相比擬的地步，因而信號(hào)通過空間“輻射”出來。瞭解了這一點(diǎn)，要做的就是把信號(hào)回路的阻抗降下來。控制信號(hào)回路的阻抗，主要的辦法是縮短信號(hào)的長(zhǎng)度，減少回路的面積，其次是採取合理的端接，控制回路的反射。其實(shí)控制信號(hào)回路的一個(gè)簡(jiǎn)單的辦法就是對(duì)重點(diǎn)信號(hào)進(jìn)行包地處理（在兩邊近的距離走地線，尤其是雙面板要特別注意，因?yàn)殡p面微帶模型阻抗有150歐姆，和自由空間布相上下，而包地可以提供幾十歐姆的阻抗），請(qǐng)注意由于走線本身在高頻里面也是有阻抗的，所以好採用地平面或者地線多次接過孔到地平面。我很多的設(shè)計(jì)都是在採用包地以后，避免了時(shí)鐘信號(hào)的輻射超標(biāo)。EMI分析整改方法，歡迎來電咨詢。上海歐盟CE輻射雜散實(shí)驗(yàn)室

輻射近場(chǎng)測(cè)量需要解決的問題有哪些？上海歐盟CE輻射雜散實(shí)驗(yàn)室

EMI輻射近場(chǎng)探頭是用于配合頻譜分析儀查找干擾源的設(shè)備。產(chǎn)品性能：EMI輻射近場(chǎng)探頭（DC-9G）適合任何頻譜分析儀、示波器或EMI測(cè)試接收機(jī)，頻率范圍超寬，滿足您現(xiàn)在以及未來的測(cè)量需求。（DC-9G）包括4個(gè)磁場(chǎng)探頭和1個(gè)電場(chǎng)探頭，所有探頭均覆蓋絕緣層。配備手握式三角架，固定探頭組，以消除抖動(dòng)帶來的影響。產(chǎn)品特點(diǎn)：覆蓋有絕緣層的安全措施；非常方便的設(shè)計(jì)包括涂橡膠握把；非常小的尺寸，完善精確的干擾源定位；可以由一個(gè)信號(hào)源驅(qū)動(dòng)產(chǎn)生的電磁敏感性測(cè)試領(lǐng)域。輻射近場(chǎng)區(qū)介乎于感應(yīng)近場(chǎng)區(qū)與輻射遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)之間，在此區(qū)域內(nèi)，與距離的一次方、平方、立方成反比的場(chǎng)分量都占據(jù)一定的比例，場(chǎng)的角分布(即天線方向圖)與離開天線的距離有關(guān)，也就是說，在不同的距離上計(jì)算出的天線方向圖是有差別的。上海歐盟CE輻射雜散實(shí)驗(yàn)室

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