EMI電磁干擾場地勘測：便攜式的頻譜分析儀與寬帶天線的組合在探測電磁干擾過程中特別有用。在1KHz～1GHz之間的輻射電磁干擾探測只用一臺頻譜分析儀和一根天線就可完成。不同地理位置環(huán)境干擾的勘測有助于確定好的的EMI開闊測試場地。勘測的信息也可用于確定安置EMI敏感校驗或設計組的好的位置。大多數情況下，來自建筑物外小的環(huán)境電磁干擾區(qū)域趨于建筑物的中間。對于多層建筑物，地下室或較低樓層通常具有小的環(huán)境電磁干擾。頻譜分析儀在電磁敏感度測試過程中用于監(jiān)視被測設備上的傳導或輻射發(fā)射電平。全世界幾乎所有有關部門都在嘗試控制他們國家生產的電子產品產生的有害電磁干擾（EMI）。天津消費電子EMI診斷頻譜儀

如果用于識別輻射源，由于準峰值檢波器算法結果總是小于或等于峰值檢波器，因此使用峰值檢波器足夠。準峰值檢波器結果和峰值檢波器結果都涉及相同的信號重復率，您可以用公式表示數學波形，或者在故障排查過程中考慮到這一點。另一方面，EMI濾波器只會略微改變結果。與測試接收機不同，示波器在設計上沒有內置EMI一致性限值測試。使用大多數示波器都配有的模板測試，或遠程軟件，可以在示波器上定義EMI一致性限值從而模擬EMI標準測試。然后，您可以進一步設置更多的模板，發(fā)現感興趣的問題區(qū)域。山東電磁EMI診斷測試儀問題信號發(fā)生的越頻繁，問題信號的一定幅度就越可能被準峰值測量所屏蔽。

為了確定一塊特定電路板上的能量源以及位于特定EMI問題中心的天線，你需要檢查被觀察信號的周期。信號的射頻頻率是多少？是脈沖式的還是連續(xù)的？這些信號特征可以使用基本的頻譜分析儀進行監(jiān)視。你還需要查看巧合性。待測設備（DUT）上的哪個信號與EMI事件是同時發(fā)生的？一般常見的做法是用示波器探測DUT上的電氣信號。檢查EMI問題與電氣事件的巧合性無疑是EMI排查中耗時間的工作。過去，將來自頻譜分析儀和示波器的信息以同步方式關聯在一起一直是很難做的一件事。

測試室為出EMI報告而開展的掃描通常是在特殊條件下進行的，你的公司實驗室也許無法復制這些條件。舉例來說，待測設備（DUT）可能放在一個轉盤上，以便于從多個角度收集信號。這種方位角信息是很有用的，因為它能指示問題發(fā)生的DUT區(qū)域?；蛘逧MI測試室可能在校準過的射頻房內開展他們的測量，并報告作為強場的測量結果。幸運的是，你并不需要完全復制測試室的條件才能排查EMI測試故障。與在高度受控的EMI測試線上執(zhí)行的一定測量不同，可以使用測試報告中的信息、深入理解用于產生報告的測量技術以及對待測設備周邊的相對觀察以隔離問題源并估計糾正有效性來開展問題的排查工作。信號的射頻頻率是多少？是脈沖式的還是連續(xù)的？這些信號特征可以使用基本的頻譜分析儀進行監(jiān)視。

EMI診斷在電子設備設計、調試階段，隨時進行EMI診斷是保證電子設備通過EMC認證行之有效且費用低的手段。如果終產品EMC認證不合格，設計者需要重新進行EMI診斷，找出EMI問題的根源，但此時可用的整改手段已經不多，進行重新設計，費用將倍增。由此可見EMI診斷是日常工作中經常進行的，而EMI預認證以及認證測試只有在電子產品定型階段才進行。傳導類EMI可以用示波器追蹤，同時需要用頻譜儀測試，需要兩種儀器結合運用。結合示波器中現有的在EMI排查方面的分析工具，將幫助您快速發(fā)現您設計中的潛在問題。使用報告中的數據確定設計中的哪個元件包含問題源頻率，并特別加以注意，以便通過下一輪測試。深圳GJB151BEMI診斷頻譜儀

要解決產品上的EMI問題﹐若能在產品設計之初便加以考慮。天津消費電子EMI診斷頻譜儀

通常EMI部門或外部實驗室一開始是使用簡單的峰值檢測器執(zhí)行掃描來發(fā)現問題區(qū)域的。但當所發(fā)現的信號超過或接近規(guī)定極限時，他們也執(zhí)行準峰值測量。準峰值是EMI測量標準定義的一種方法，用來檢測信號包絡的加權峰值。它根據信號的持續(xù)時間和重復率對信號進行加權，以便對從廣播角度看解釋為“干擾”的信號施加更多的權重。與不頻發(fā)的脈沖相比，發(fā)生頻率更高的信號將導致更高的準峰值測量結果。換句話說，問題信號發(fā)生的越頻繁，問題信號的一定幅度就越可能被準峰值測量所屏蔽。天津消費電子EMI診斷頻譜儀