輻射雜散(RSE)近場電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場掃描診斷分析系統(tǒng)支持頻率范圍9kHz-40GHz的射頻輻射雜散（RSE）近場分析，使用電場近場探頭(H-Probe)、高低頻磁場近場探頭(H-Probe)，支持0.01mm分辨率步進電磁掃描，支持-90dBm以上輻射雜散信號分析。支持頻率分布、功率分布、頻譜分布、諧波分布等多輻射雜散RSE可視化分析功能，滿足研發(fā)級正向設計、整機、板級、芯片的輻射雜散問題自動診斷分析，普遍用于手機、多媒體設備、無線終端模塊、醫(yī)療、、儀器儀表等行業(yè)的電磁兼容可靠性正向研發(fā)、輻射雜散評估、輻射雜散干擾源頭定位、替代物料輻射雜散評估、器件選型輻射雜散評估、成本降低輻射雜散性能評估、更新方案設計的輻射雜散性能評估、電磁仿真驗證等方面?？焖俅判詷O近場測量儀器可以捕獲和顯示頻譜和實時空間掃描結果的可視圖像。鄭州智能近場掃描應用
SSCG功能為“開”時的EMI輻射特性。對測試結果進行比較之后，設計團隊發(fā)現(xiàn)由于使用了SSCG功能導致電磁輻射明顯減少。汽車電子工程師很大的挑戰(zhàn)在于減少EMI輻射?？蛻糁С謭F隊每次向汽車廠商客戶展示這些結果時，他們普遍都表現(xiàn)出了極大的興趣。任何降低EMI的功能（此案例中為SSCG功能）都可以縮短上市時間、降低屏蔽和成本支出。EMI近場輻射特性：新一代串行解串器例子，這是同一家半導體供應商的第二個例子，該公司開發(fā)了一個通過串行解串器進行點到點傳輸?shù)牡诙酒M解決方案。在第三代芯片組中，設計團隊采用了一種不同的技術并升級了傳輸能力。他們將雙向控制通道一起嵌入高速串行鏈路中，從而實現(xiàn)了雙向傳輸（全雙工）。西安電子近場掃描測試儀近場掃描儀的特點：適用于大型揚聲器：由于揚聲器不移動，因此可以測量大型揚聲器。
近場掃描分系統(tǒng)是一種用于化學領域的分析儀器，于2016年12月1日啟用。用擴展光源照射光纖輸入端面，而在光纖輸出端面上逐點測量出射度，從而測出光纖折射率分布以及其他幾何特性參數(shù)的測試方法。也可用于測量模場直徑，其條件是要使輸入端面照明只激勵光纖基模。此法被推薦作為幾何參數(shù)測定的基準測試法和單模光纖模場直徑的替代測試法，也被推薦作為多模光纖幾何參數(shù)和折射率分布測定的替代測試法。低頻測量更準確，不需要房間校準曲線。
輻射近場測量需要解決的問題：1.時域輻射近場測量的研究：為了反映脈沖工作狀態(tài)和消除環(huán)境及其他因素對測量數(shù)據(jù)的影響，時域測量是一個良好的解決此類問題的途徑，但目前處于研究階段。2.無相位的輻射近場測量的研究：前述的輻射近場測量方法都需要測量出近場的相位和幅度，才能利用近場理論計算出天線的遠場電特性，為了簡化計算公式和測量系統(tǒng)以及降低測量時間與測量的相位誤差（在頻率f很高的情況下，即f＞80GHz，相位的測量誤差是很大的），于是，有學者提出只用近場測量值的幅度來重建天線遠場的方法。對于供應商而言，極近場EMI掃描技術可以實現(xiàn)極具說服力的頻譜掃描。
PCB近場掃描儀FLS106PCBset的目的是，方便近場探頭檢測電子元件組的磁場或電場。掃描儀和近場探頭系列（從SX到LF）的組合可以測量頻率范圍為100kHz-10GHz的電場或磁場。該近場探頭可以在元件組上方沿三個軸運動。近場探頭在受試設備上方的光學定位可以在數(shù)字顯微相機的協(xié)助下完成。掃描儀支持防撞功能，在探頭沿垂直方向運動觸碰到受試設備時停止運動。PCB近場掃描儀FLS106PCBset的目的是方便近場探頭檢測電子元件組的磁場和電場，掃描儀和近場探頭系列的組合可以測量頻率范圍為100KHz-10GHz的電磁和磁場。該近場探頭可以在元件組上方沿三個軸運動。近場探頭在受測設備上方的光學定位可以在數(shù)字顯微鏡的協(xié)助下完成，掃描支持防撞功能，在探頭沿垂直方向運動觸碰到受試設備時停止運動，在電腦上通過ChipScan-Scanner軟件可以控制FLS106PCB型掃描儀。這款軟件同時可以從頻譜分析儀中讀取測量數(shù)據(jù)（2D或3D)圖像，以及輸出測量數(shù)據(jù)（CSV文件）。掃描儀的診斷功能可以幫助設計團隊將輻射測試時間縮短兩個數(shù)量級以上。重慶三維電磁近場掃描應用
測試的結果可以對設計更改的影響進行精確的驗證。鄭州智能近場掃描應用
散射近場測量：（1）常規(guī)天線電參數(shù)的測量：天線近場測量可以給出天線各個截面的方向圖以及立體方向圖，可以分析出方向圖上的所有電參數(shù)（波束寬度、副瓣電平、零值深度、零深位置等）和天線的極化參數(shù)（軸比、傾角和旋向）以及天線的增益。（2）低副瓣或很低副瓣天線的測量：天線方向圖副瓣電平在-28～-35dB之間的天線稱為低副瓣天線；副瓣電平小于-40dB的天線稱為很低副瓣天線。對它們的測量要用到“零探頭”技術，據(jù)文獻報導，副瓣電平在-40dB以上時，測量精度為±3dB，副瓣電平為-55dB時，測量精度為±5dB。鄭州智能近場掃描應用