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臺州可靠性試驗(yàn)測試系統(tǒng)設(shè)備

來源: 發(fā)布時(shí)間:2024-06-30

先進(jìn)的測試系統(tǒng)備有故障診斷程序包,可根據(jù)測試過程中得到的情報(bào)自動判斷故障,故障發(fā)生時(shí),能自動查找故障的位置。在測試未通過的情況下,自動測試系統(tǒng)從測試程序自動轉(zhuǎn)換到診斷程序。自動故障診斷的方法大體上分為兩類。①導(dǎo)引探測法:操作人員根據(jù)自動測試系統(tǒng)顯示的探測指令逐點(diǎn)查找故障。②特征分析法:當(dāng)被測節(jié)點(diǎn)特征不正確時(shí),操作人員在程序指引下校驗(yàn)前面電路的特征。自動測試系統(tǒng)的可靠性是指它對被測對象誤差和故障的檢測能力。功能測試系統(tǒng)為產(chǎn)品性能提升提供可靠支持。臺州可靠性試驗(yàn)測試系統(tǒng)設(shè)備

功能系統(tǒng)測試的特點(diǎn),功能系統(tǒng)測試是從PCBA板卡的功能實(shí)現(xiàn)與否的角度來進(jìn)行的測試,因此相對于其它測試手段顯得簡捷直觀,但由于功能系統(tǒng)測試是把待測PCBA當(dāng)作一個(gè)類似于黑盒子的功能單元來進(jìn)行測試,有時(shí)并不能準(zhǔn)確定位出功能系統(tǒng)測試未能通過的PCBA所存在的問題之所在,不過采用。對比所列出的ICT、AOI、AXI等測試方法,采用功能系統(tǒng)測試的成本一般來說要小很多,對于一些小批量的PCBA板卡生產(chǎn),采用功能系統(tǒng)測試可以有效的節(jié)約成本。此外,對于一些對穩(wěn)定性和可靠性要求較高的產(chǎn)品,其測試系統(tǒng)往往是采用多種測試手段進(jìn)行流水線作業(yè),而功能系統(tǒng)測試是其中必不可少的步驟。通用功能測試系統(tǒng)定制功能測試系統(tǒng)有助于提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品一致性。

功能系統(tǒng)測試,元件測試和裝聯(lián)測試注重的是產(chǎn)品的加工質(zhì)量,功能系統(tǒng)測試注重的是PCBA的電氣特性參數(shù),并關(guān)注這些指標(biāo)是否達(dá)到了相關(guān)的國家標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)計(jì)規(guī)范的要求,功能系統(tǒng)測試是一類針對整件的綜合性測試,在以產(chǎn)品自行設(shè)計(jì)、加工為主的企業(yè)里應(yīng)用較廣。優(yōu)點(diǎn):⒈ 基本上不用人管著,如果程序停止運(yùn)行了一般就是被測試程序crash了。⒉ 設(shè)計(jì)完測試?yán)螅聛淼墓ぷ骶褪呛枚嗔?,?dāng)然更苦悶的是確定crash原因。缺點(diǎn):⒈ 結(jié)果取決于測試?yán)脑O(shè)計(jì),測試?yán)脑O(shè)計(jì)部分來勢來源于經(jīng)驗(yàn),OUSPG的東西很值得借鑒。⒉ 沒有狀態(tài)轉(zhuǎn)換的概念,一些成功的例子基本上都是針對PDU來做的,還做不到針對被測試程序的狀態(tài)轉(zhuǎn)換來作。⒊ 就沒有狀態(tài)概念的測試來說,尋找和確定造成程序crash的測試?yán)莻€(gè)麻煩事情,必須把周圍可能的測試?yán)龁为?dú)確認(rèn)一遍。而就有狀態(tài)的測試來說,就更麻煩了,尤其不是一個(gè)單獨(dú)的testcase造成的問題。這些在堆的問題中表現(xiàn)的更為突出。

裝備制造業(yè)是提供技術(shù)裝備的基礎(chǔ)性產(chǎn)業(yè),涉及一個(gè)國家一個(gè)地區(qū)的主要競爭力,是增強(qiáng)國民自信的源泉。隨著中國軟實(shí)力的不斷增強(qiáng),相信中國本土自動測試設(shè)備品牌必將在轉(zhuǎn)型升級、不斷創(chuàng)新中迎來更大的發(fā)展。自動測試設(shè)備(ATE)的研制工作始于 20世紀(jì)50年代?,F(xiàn)代測試內(nèi)容日益復(fù)雜, 測試工作量激增,而且要求完成測試的時(shí)間越來越短,人工測試很難滿足這些要求,自動測試技術(shù)因而得到迅速發(fā)展。較完善的自動測試設(shè)備是60年代采用電子計(jì)算機(jī)以后才問世的。功能測試系統(tǒng)可幫助定位產(chǎn)品功能故障和改進(jìn)設(shè)計(jì)。

測試儀能夠把好電路板上的各IC器件的狀態(tài)特征提取出來,存入計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)庫中,然后與同類有故障的電路板進(jìn)行比較,從而準(zhǔn)確地找出故障部位。VI特性測試分析該項(xiàng)測試功能建立在模擬特征分析技術(shù)基礎(chǔ)上,可用于模擬、數(shù)字、專門使用器件、可編程器件以及大規(guī)模、超大規(guī)模器件的測試。測試儀通過測試探棒或測試夾自動把被測點(diǎn)的特征曲線提取出來,顯示在微機(jī)屏幕上,較后存入計(jì)算機(jī)。進(jìn)特故障診斷時(shí),將實(shí)測到的VI曲線與事先存貯的標(biāo)準(zhǔn)曲線進(jìn)行比較,進(jìn)而發(fā)現(xiàn)故障??煽啃栽囼?yàn):模擬各種惡劣環(huán)境,驗(yàn)證電子設(shè)備在極端條件下的可靠性。無錫變壓器綜合測試系統(tǒng)測試步驟

功能測試系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)對產(chǎn)品功能的全方面檢測。臺州可靠性試驗(yàn)測試系統(tǒng)設(shè)備

Boundary-Scan邊界掃描技術(shù)ICT測試儀要求每一個(gè)電路節(jié)點(diǎn)至少有一個(gè)測試點(diǎn)。但隨著器件集成度增高,功能越來越強(qiáng),封裝越來越小,SMT元件的增多,多層板的使用,PCB板元件密度的增大,要在每一個(gè)節(jié)點(diǎn)放一根探針變得很困難,為增加測試點(diǎn),使制造費(fèi)用增高;同時(shí)為開發(fā)一個(gè)功能強(qiáng)大器件的測試庫變得困難,開發(fā)周期延長。為此,聯(lián)合測試組織(JTAG)頒布了IEEE1149.1測試標(biāo)準(zhǔn)。 IEEE1149.1定義了一個(gè)掃描器件的幾個(gè)重要特性。首先定義了組成測試訪問端口(TAP)的四(五〕個(gè)管腳:TDI、TDO、TCK、TMS,(TRST)。臺州可靠性試驗(yàn)測試系統(tǒng)設(shè)備

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