FrameScan電容藕合測試 FrameScan利用電容藕合探測管腳的脫開。每個器件上面有一個電容性探頭，在某個管腳激勵信號，電容性探頭拾取信號。如圖所示：1 夾具上的多路開關(guān)板選擇某個器件上的電容性探頭。2 測試儀內(nèi)的模擬測試板（ATB）依次向每個被測管腳發(fā)出交流信號。3 電容性探頭采集并緩沖被測管腳上的交流信號。4 ATB測量電容性探頭拾取的交流信號。如果某個管腳與電路板的連接是正確的，就會測到信號；如果該管腳脫開，則不會有信號。GenRad類式的技術(shù)稱Open Xpress。原理類似。此技術(shù)夾具需要傳感器和其他硬件，測試成本稍高。個性化定制：針對不同用戶需求，提供個性化的功能測試解決方案。無錫通用自動測試系統(tǒng)安裝

全球主要ICT自動測試設備生產(chǎn)廠商主要有Agilent Technologies安捷倫(美國)，Teradyne泰瑞達(美國)、Check Sum（美國）、AEROFLEX（美國）、WINCHY瑩琦、Hioki（日本）、IFR(AEROFLEX并購)、Takaya（日本）、Tescon（日本）, Okano（日本）、系新（中國臺灣）、JET(捷智）、Tr(德泰)、SRC星河、Concord、Rohde & Schwarz、Scorpion 、Shindenski、SPEA、Tecnost-MTI、Testronics、WK Test 、Schuhll、Viper、TTI,NI,APM(全天科技)等等品牌。不同品牌ICT的測試原理相同或相似。江蘇電路板功能測試系統(tǒng)安裝功能測試系統(tǒng)能夠及時發(fā)現(xiàn)和解決產(chǎn)品功能性問題。

ICT測試理論做一些簡單介紹1基本測試方法：模擬器件測試利用運算放大器進行測試。由“A”點“虛地”的概念有： ∵Ix = Iref∴Rx = Vs/ V0*RrefVs、Rref分別為激勵信號源、儀器計算電阻。測量出V0，則Rx可求出。 若待測Rx為電容、電感，則Vs交流信號源，Rx為阻抗形式，同樣可求出C或L。 1.2 隔離（Guarding）上面的測試方法是針對單獨的器件，而實際電路上器件相互連接、相互影響，使Ix笽ref，測試時必須加以隔離（Guarding）。隔離是在線測試的基本技術(shù)。

功能系統(tǒng)測試，元件測試和裝聯(lián)測試注重的是產(chǎn)品的加工質(zhì)量，功能系統(tǒng)測試注重的是PCBA的電氣特性參數(shù)，并關(guān)注這些指標是否達到了相關(guān)的國家標準和設計規(guī)范的要求，功能系統(tǒng)測試是一類針對整件的綜合性測試，在以產(chǎn)品自行設計、加工為主的企業(yè)里應用較廣。優(yōu)點：⒈ 基本上不用人管著，如果程序停止運行了一般就是被測試程序crash了。⒉ 設計完測試例之后，下來的工作就是好多了，當然更苦悶的是確定crash原因。缺點：⒈ 結(jié)果取決于測試例的設計，測試例的設計部分來勢來源于經(jīng)驗，OUSPG的東西很值得借鑒。⒉ 沒有狀態(tài)轉(zhuǎn)換的概念，一些成功的例子基本上都是針對PDU來做的，還做不到針對被測試程序的狀態(tài)轉(zhuǎn)換來作。⒊ 就沒有狀態(tài)概念的測試來說，尋找和確定造成程序crash的測試例是個麻煩事情，必須把周圍可能的測試例單獨確認一遍。而就有狀態(tài)的測試來說，就更麻煩了，尤其不是一個單獨的testcase造成的問題。這些在堆的問題中表現(xiàn)的更為突出。功能測試與生產(chǎn)過程的融合：將功能測試與生產(chǎn)過程緊密結(jié)合，實現(xiàn)產(chǎn)品質(zhì)量的實時監(jiān)控。

電路在線測試技術(shù)，1、在線測試原理：在線測試的基本原理是測試儀為印制電路板上的被測芯片提供輸入激勵，同時在計算機控制下自動采集記錄被測芯片的輸出響應和狀態(tài)值，通過計算機將其記錄的所有狀態(tài)值與標準的狀態(tài)真值表比較，從而判斷被測對象的故障情況。2、后驅(qū)動測試技術(shù)：后驅(qū)動測試技術(shù)主要用于數(shù)字電路的在線測試。其實質(zhì)是在被測器件的輸入級（前級驅(qū)動芯片的輸出級）灌入或拉出瞬態(tài)大電流，迫使其電位按要求變高或變低，達到對被測器件在線施加測試激勵的目的。電路板功能測試系統(tǒng)用于檢測電路板的各項功能。江蘇軟件測試系統(tǒng)定制方案

模塊化設計：功能測試系統(tǒng)采用模塊化設計，方便用戶根據(jù)需求進行組合和升級。無錫通用自動測試系統(tǒng)安裝

邊界掃描技術(shù)解決了無法增加測試點的困難，更重要的是它提供了一種簡單而且快捷地產(chǎn)生測試圖形的方法，利用軟件工具可以將BSDL文件轉(zhuǎn)換成測試圖形，如Teradyne的Victory，GenRad的Basic Scan和Scan Path Finder。解決編寫復雜測試庫的困難。用TAP訪問口還可實現(xiàn)對如CPLD、FPGA、Flash Memroy的在線編程（In-System Program或On Board Program）。4 Nand-TreeNand-Tree是Inter公司發(fā)明的一種可測性設計技術(shù)。在我司產(chǎn)品中，現(xiàn)只發(fā)現(xiàn)82371芯片內(nèi)此設計。描述其設計結(jié)構(gòu)的有一一般程*.TR2的文件，我們可將此文件轉(zhuǎn)換成測試向量。 無錫通用自動測試系統(tǒng)安裝