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相控陣探頭有著各種尺寸、形狀、頻率及晶片數(shù)量,所有這些探頭的共同特點是都裝有一個被分割成若干段的壓電晶片。用于工業(yè)NDT的現(xiàn)代相控陣探頭一般由壓電復合材料構(gòu)建,具體地說就是許多細小、極薄的壓電陶瓷棒被嵌在聚合物矩陣中。雖然制造這種探頭會復雜一些,但是與在其它方面設計相似的壓電陶瓷探頭相比,這種復合材料探頭在一般情況下可提供的靈敏度會高出10dB到30dB。分成小段的金屬鍍層用于將條狀的復合材料分割成若干可單獨接收電子脈沖激勵的晶片個體。這個被分割成小段的晶片被裝入探頭組合件中。探頭組合件包含一個保護性匹配層、一個背襯層、線纜連接器以及一個外殼。用戶對相控陣探頭的類型選擇需要考慮到被測材料的可達性。高速相控陣探頭廠家
相控陣探頭的應用特點:超聲相控陣的兩個重要特性是偏轉(zhuǎn)和聚焦,這些特性在理論上的實現(xiàn)都是基于波的疊加和干涉以及惠更斯原理。相控陣探頭根據(jù)晶片的排布可以分成環(huán)陣、一維線陣、扇形環(huán)陣、二維矩陣、曲率線陣等。超聲相控陣技術(shù)在掃查方式上主要分為線性掃查、扇形掃查、動態(tài)深度聚焦等,在顯示方式上分為A顯示、B顯示、C顯示、D顯示、S顯示等。上世紀80年代,出現(xiàn)了工業(yè)用相控陣系統(tǒng),這種系統(tǒng)非常的大,需要把數(shù)據(jù)傳入電腦來進行數(shù)據(jù)處理和圖像展示,至少需要兩個人來操作。這類設備大部分都是用在在役電站的檢查中,特別是核電領域。上世紀90年代以來,隨著電子和軟件技術(shù)的發(fā)展,依靠低功率的電子元件、低能耗的結(jié)構(gòu),結(jié)合微處理器技術(shù),使得電池驅(qū)動的相控陣設備的產(chǎn)生成為可能。池州水浸相控陣探頭購買相控陣探頭的頻率越高,那么分辨率和聚焦力度就越高。
相控陣探頭的應用:相控陣探傷儀通過軟件可以單獨控制相控陣探頭中每個晶片的激發(fā)時間,從而控制產(chǎn)生波束的角度、聚焦位置和焦點尺寸。相控陣技術(shù)優(yōu)勢:掃查裝置簡單,便于操作和維護;使用更便捷,對人體無傷害,對環(huán)境無污染;檢測結(jié)果受人為因素影響小,數(shù)據(jù)便于儲存、管理和調(diào)用,以及連接電腦打印查看。也可以直接連接鼠標在儀器上操作。可以節(jié)省許多成本費用,一探頭+各角度楔塊的多用處,可以自動生成圖文缺陷報告,若有內(nèi)部網(wǎng)路可以直接發(fā)送質(zhì)檢報告到數(shù)據(jù)中心查閱。
對相控陣延遲的理解:相控陣的超聲波脈沖發(fā)射裝置由探頭晶片與楔塊組成,延遲激發(fā)晶片發(fā)射超聲波形成扇形聲束,各角度的聲束經(jīng)過楔塊與耦合層到達工件接觸面所需要的時間,紅色線為各角度聲束的延遲。雖然在儀器初始設置過程中輸入了探頭與楔塊等相關參數(shù),但是輸入的參數(shù)與實際參數(shù)的誤差,楔塊磨損,掃查角度,耦合劑等因素都會影響實際的延遲數(shù)值。超聲相控陣技術(shù)較早應用在醫(yī)療領域,從上個世紀80年代起,超聲相控陣技術(shù)開始應用到核電領域。20多年以來,超聲相控陣技術(shù)在工業(yè)上的應用范圍越來越普遍,在電力、航空、航天、石化等行業(yè)都能夠看到它的身影。相信隨著相控陣設備價格的不斷下降、人員培訓規(guī)模的日益擴大以及相關標準的逐步建立與完善,工業(yè)相控陣技術(shù)的應用會越來越普及。大多數(shù)相控陣探頭與楔塊一起搭配使用。
凹面陣相控陣探頭:凹面陣多用于管道的外檢測,因其能很好地匹配相同曲率管子的外徑,并且其陣列的排列方式有物理聚焦的特點,聲束比平面陣列更加容易匯聚。凸面陣能很好地匹配相同曲率管子的內(nèi)徑,但在陣列凸面排列的狀態(tài)下,聲場旁瓣十分明顯,特別是小徑管中的聚焦聲場更容易向空間擴散;凸面陣多用于醫(yī)學B超超聲診斷領域。在工業(yè)方面,國內(nèi)已有部分學者對凸面陣探頭進行了開發(fā)應用,但總體研究并不多。除了陣列排布方式、延時法則之外,超聲相控陣探頭的檢測能力還與探頭盲區(qū)大小、中心頻率、發(fā)射脈沖寬度、楔塊的選擇、耦合介質(zhì)、試件表面平整度等因素有關。因此,針對一些特殊的檢測對象,調(diào)整其中的某些因素,便可以獲得不同用途的超聲相控陣探頭。不同的相控陣探頭陣列排布方式將會產(chǎn)生不同的聲場特性。山東雙線陣相控陣探頭售價
相控陣探頭的靈敏度是指激勵脈沖波幅與從指定目標反射的回波波幅之間的關系。高速相控陣探頭廠家
相控陣探頭的應用方法有哪些?直接接觸法:直接接觸法通常采用斜探頭進行橫波檢測,檢測面為曲面,應將探頭斜楔嚴格按規(guī)程的要求加工成與管子曲面相吻合,利用對比樣管調(diào)整檢測靈敏度。通常使用材質(zhì)與試件相同或相近、外徑壁厚也相同的管材制作,按相關標準制作人工缺陷、調(diào)整靈敏度時,將對比樣管內(nèi)外壁上的人工缺陷回波高度調(diào)整到規(guī)定高度,進行掃查。管材檢測時,有時采用雙探頭橫波接觸法,兩個探頭相背并列,同時發(fā)射、接收管材中的一個缺陷的兩個信號。直接接觸法在檢驗檢疫領域應用較為普遍,對環(huán)境條件要求比較低,容易操作,但現(xiàn)場檢驗工作強度較大,速度較慢。高速相控陣探頭廠家
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