X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應進行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術。每一種結(jié)晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu)，包括點陣類型、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的x射線照射試樣，試樣中的物質(zhì)受激發(fā)，會產(chǎn)生二次熒光X射線（標識X射線），晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過測定衍射角位置（峰位）可以進行化合物的定性分析，測定譜線的積分強度（峰強度）可以進行定量分析，而測定譜線強度隨角度的變化關系可進行晶粒的大小和形狀的檢測。上海澤權(quán)簡述衍射儀規(guī)范標準。歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！上海奧林巴斯XRD代理公司

被檢測出來，體現(xiàn)在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強度的衍射峰。對于非晶體材料，由于其結(jié)構(gòu)不存在晶體結(jié)構(gòu)中原子排列的長程有序，只是在幾個原子范圍內(nèi)存在著短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應力，精確的進行物相分析，定性分析，定量分析。普遍應用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教學，材料生產(chǎn)等領域。X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的一種大型分析儀器，普遍應用于各大、專院校，科研院所及廠礦企業(yè)。江蘇衍射儀生產(chǎn)廠家上海澤權(quán)衍射儀誠信經(jīng)營。歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！

X射線熒光光譜儀優(yōu)缺點：優(yōu)點: a) 分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結(jié)合狀態(tài)無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應更為明顯。波長變化用于化學位的測定 。c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析。e) 分析精密度高。f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。缺點：a）難于作相對分析，故定量分析需要標樣。 b）對輕元素的靈敏度要低一些。c）容易受相互元素干擾和疊加峰影響。

X射線單晶體衍儀器基本公式： 由于晶體中原子是周期排列的，其周期性可用點陣表示。而一個三維點陣可簡單地用一個由八個相鄰點構(gòu)成的平行六面體（稱晶胞）在三維方向重復得到。一個晶胞形狀由它的三個邊（a,b,c）及它們間的夾角（γ，α，β）所規(guī)定，這六個參數(shù)稱點陣參數(shù)或晶胞參數(shù)。這樣一個三維點陣也可以看成是許多相同的平面點陣平行等距排列而成的，這樣一族平面點陣稱為一個平面點陣族，常用符號HKL（HKL為整數(shù)）來表示。一個三維空間點陣劃分為平面點陣族的方式是很多的，其平面點陣的構(gòu)造和面間距d可以是不同的。晶體結(jié)構(gòu)的周期性就可以由這一組dHKL來表示。X射線衍射儀的原理是什么？

使用粉末多晶衍射儀測量單晶體樣品時得到的X射線衍射譜，相對于與所測單晶體同種類的多晶樣品的X射線衍射譜來說，它的譜圖特征可能是：衍射峰數(shù)量可能會變少，峰強度會有變化:有的會變強、有的會變?nèi)?；如果測試時單晶樣品不旋轉(zhuǎn)，有些峰可能就根本不出現(xiàn)，因為其照射角派生的2θ滿足不了布拉格公式而發(fā)生衍射；其峰強弱依賴于單晶樣品在譜儀樣品架上的作固定安裝的立體角參數(shù)。若將一束單色X射線照射到一粒靜止的單晶體上，入射線與晶粒內(nèi)的各晶面族都有一定的交角θ，其中只有很少數(shù)的晶面能符合布拉格公式而發(fā)生衍射。要使各晶面族都發(fā)生衍射，常用的方法就是轉(zhuǎn)動晶體。轉(zhuǎn)動中各晶面族時刻改變著與入射線的交角，會在某個時候符合布拉格方程而產(chǎn)生衍射。目前常用的收集單晶體衍射數(shù)據(jù)的方法是：一為回擺法，二為四圓衍射儀法。測角儀是粉末衍射儀上精密的機械部件，用來精確測量衍射角。奧林巴斯XRD費用

X射線單晶體衍儀器分析的對象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。上海奧林巴斯XRD代理公司

X射線衍射儀是物質(zhì)進行物相分析的常用儀器之一。由于不同物質(zhì)具有不同的結(jié)構(gòu)，因此具有各自不同的衍射譜線。目前可以根據(jù)表征出來的晶型結(jié)構(gòu)的衍射譜線，可以確定物質(zhì)中的晶格種類；根據(jù)表征出來的衍射峰的峰強等進行物質(zhì)晶型含量的分析。本文通過X射線衍射儀來對鈦白粉的晶型和晶型比例進行分析，也對鈦白粉表面改性劑中包膜物質(zhì)進行定性研究，研究鈦白粉產(chǎn)品中雜質(zhì)元素的種類。根據(jù)使用的X射線衍射儀的性能及待測樣品的實際情況選擇比較好測試條件，即調(diào)節(jié)光管電流、電壓和狹縫等條件。上海奧林巴斯XRD代理公司