晶體的X射線衍射圖像實質(zhì)上是晶體微觀結(jié)構(gòu)的一種精細復(fù)雜的變換，每種晶體的結(jié)構(gòu)與其X射線衍射圖之間都有著一一對應(yīng)的關(guān)系，其特征X射線衍射圖譜不會因為它種物質(zhì)混聚在一起而產(chǎn)生變化，這就是X射線衍射物相分析方法的依據(jù)。 制備各種標(biāo)準(zhǔn)單相物質(zhì)的衍射花樣并使之規(guī)范化，將待分析物質(zhì)的衍射花樣與之對照，從而確定物質(zhì)的組成相，就成為物相定性分析的基本方法。 鑒定出各個相后，根據(jù)各相花樣的強度正比于改組分存在的量（需要做吸收校正者除外），就可對各種組分進行定量分析。目前常用衍射儀法得到衍射圖譜，用“粉末衍射標(biāo)準(zhǔn)聯(lián)合會（JCPDS）”負責(zé)編輯出版的“粉末衍射卡片（PDF卡片）”進行物相分析。衍射儀的制作方法難嗎？上海澤權(quán)告訴您。奧林巴斯XRD定制廠家

通過儀器分析測試，對鈦白粉產(chǎn)品進行更加直觀的表征分析，X射線衍射儀（XRD）與X熒光光譜儀（XRF）對于鈦白粉產(chǎn)品的研究提供了一個客觀的基礎(chǔ)，為鈦白粉生產(chǎn)過程中的工藝控制，產(chǎn)品應(yīng)用的品質(zhì)提高提供了更加準(zhǔn)確、快速的評價手段。X射線衍射儀和X熒光光譜儀為鈦白粉產(chǎn)品的進一步研究提供了強有力的技術(shù)支持，其分析測試結(jié)果重復(fù)性好、再現(xiàn)性強、人為因素少，在鈦白粉分析中有著非常多方面的應(yīng)用空間。X射線衍射儀無法檢測出來，這就可以說明X射線衍射儀對樣品的分析不多方面，還需要進一步進行分析。通過分析元素組成與物質(zhì)組成，二者的結(jié)果可以互相驗證，從而使分析結(jié)果更加準(zhǔn)確。湖州衍射儀產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應(yīng)力。

X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer)。本儀器分析的對象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會發(fā)生衍射，由對衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規(guī)律，也即解出晶體的結(jié)構(gòu)。物質(zhì)或由其構(gòu)成的材料的性能是與晶體的結(jié)構(gòu)密切相關(guān)的，如金剛石和石墨都是由純的碳構(gòu)成的，由于它們的晶體結(jié)構(gòu)不同就有著截然不同的性質(zhì)。粉末衍射儀要求樣品試片具有一個十分平整的平面，而且對平面中的晶粒的取向常常要求是完全無序的，不存在擇優(yōu)取向（在粘土分析中有時又要求制作定向的試片）。

衍射儀是進行X射線分析的重要設(shè)備，主要由X射線發(fā)生器、測角儀(測量角度2θ的裝置)、記錄儀(測量X射線強度的計數(shù)裝置)和水冷卻系統(tǒng)組成。新型的衍射儀還帶有條件輸入和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。X射線發(fā)生器主要由高壓控制系統(tǒng)和X光管組成，它是產(chǎn)生X射線的裝置(產(chǎn)生X射線的裝置)，由X光管發(fā)射出的X射線包括連續(xù)X射線光譜和特征X射線光譜，連續(xù)X射線光譜主要用于判斷晶體的對稱性和進行晶體定向的勞埃法，特征X射線用于進行晶體結(jié)構(gòu)研究的旋轉(zhuǎn)單體法和進行物相鑒定的粉末法。衍射儀的價格分析。歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！

X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的一種大型分析儀器，普遍應(yīng)用于各大、專院校，科研院所及廠礦企業(yè)。作為X射線衍射儀（XRD）家族中一款顛覆性的產(chǎn)品，與傳統(tǒng)臺式XRD相比較，X射線衍射儀（XRD）具有以下優(yōu)勢: 1.便攜式機體小，2.自動化使用樣品振動裝置，使用簡單3.集成性使用透射幾何衍射技術(shù)及高靈敏度CCD探測器4. 微量化檢測檢測樣品只需15mg,尤其適合刑偵、環(huán)境、管道腐蝕等難于收集樣品的檢測分析。5.無線傳輸采用WIFI無線連接，可遠程操控及傳輸采集的數(shù)據(jù)，實現(xiàn)數(shù)據(jù)采集的現(xiàn)場性和數(shù)據(jù)處理的及時性。 衍射儀法以其方便、快捷、準(zhǔn)確和可以自動進行數(shù)據(jù)處理等特點在許多領(lǐng)域中取代了照相法，現(xiàn)在已成為晶體結(jié)構(gòu)分析等工作的主要方法。x射線粉末衍射可以計算物質(zhì)結(jié)構(gòu)的應(yīng)力?；茨涎苌鋬x品牌

X-衍射儀主要用于單礦物及礦物結(jié)構(gòu)測定。奧林巴斯XRD定制廠家

樣品的平均晶粒尺寸，基本原理：當(dāng)X射線入射到小晶體時，其衍射線條將變得彌散而寬化，晶體的晶粒越小，x射線衍射譜帶的寬化程度就越大。樣品的相對結(jié)晶度：一般將很強衍射峰積分所得的面積（As）當(dāng)作計算結(jié)晶度的指標(biāo)，與標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)積分所得面積(Ag)進行比較，結(jié)晶度=As/Ag*100%。物相含量的定量分析：主要有K值法也叫RIR方法和Rietveld全譜精修定量等。其中，RIR法的基本原理為1:1混合的某物質(zhì)與剛玉(Al2O3),其很強衍射峰的積分強度會有一個比值，該比值為RIR值。通過將該物質(zhì)的積分強度/RIR值總是可以換算成Al2O3的積分強度。對于一個混合物而言，物質(zhì)中所有組分都按這種方法進行換算，可以通過歸一法得到某一特定組分的百分含量。奧林巴斯XRD定制廠家