X射線衍射儀技術(shù)（XRD）注意事項(xiàng)： （1）固體樣品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必須平整，可以用幾塊粘貼一起。 （2）對于片狀、圓拄狀樣品會存在嚴(yán)重的擇優(yōu)取向，衍射強(qiáng)度異常，需提供測試方向。 （3）對于測量金屬樣品的微觀應(yīng)力（晶格畸變），測量殘余奧氏體，要求制備成金相樣品，并進(jìn)行普通拋光或電解拋光，消除表面應(yīng)變層。 （4）粉末樣品要求磨成320目的粒度，直徑約40微米，重量大于5g。X射線是原子內(nèi)層電子在高速運(yùn)動電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數(shù)目的粒子（原子、離子或分子）所產(chǎn)生的相干散射將會發(fā)生光的干涉作用，從而使得散射的X射線的強(qiáng)度增強(qiáng)或減弱。衍射儀廠家直供優(yōu)勢。歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！宿遷衍射儀批發(fā)

便攜式XRD衍射儀是一種用于能源科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域的科學(xué)儀器X射線發(fā)生器，射線管功率：10W，X射線輻射劑量：儀器表面2cm處輻射能級0.5mRad/H；樣品振動系統(tǒng)，測量角度范圍：5°—55°，微量樣品室：小可檢測樣品量15mg，掃描方式：全譜掃描；探測器，探測效率：98%，XRD 分辨率 0.25°(2θFWHM)，XRF 分辨率230eV；冷卻系統(tǒng)：制冷方式：2D Peltier 電子制冷，儀器制冷效率：儀器正常工作持續(xù)8時(shí)機(jī)箱溫度不超過35℃；數(shù)據(jù)庫：PDF2由國際衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)中心提供，至少包含3000多種礦物30000多個(gè)礦物數(shù)據(jù)。 江蘇奧林巴斯XRD代理公司X射線能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機(jī)乳膠感光、氣體電離。

樣品的平均晶粒尺寸，基本原理：當(dāng)X射線入射到小晶體時(shí)，其衍射線條將變得彌散而寬化，晶體的晶粒越小，x射線衍射譜帶的寬化程度就越大。樣品的相對結(jié)晶度：一般將很強(qiáng)衍射峰積分所得的面積（As）當(dāng)作計(jì)算結(jié)晶度的指標(biāo)，與標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)積分所得面積(Ag)進(jìn)行比較，結(jié)晶度=As/Ag*100%。物相含量的定量分析：主要有K值法也叫RIR方法和Rietveld全譜精修定量等。其中，RIR法的基本原理為1:1混合的某物質(zhì)與剛玉(Al2O3),其很強(qiáng)衍射峰的積分強(qiáng)度會有一個(gè)比值，該比值為RIR值。通過將該物質(zhì)的積分強(qiáng)度/RIR值總是可以換算成Al2O3的積分強(qiáng)度。對于一個(gè)混合物而言，物質(zhì)中所有組分都按這種方法進(jìn)行換算，可以通過歸一法得到某一特定組分的百分含量。

衍射儀對晶體結(jié)構(gòu)不完整性的研究包括對層錯(cuò)、位錯(cuò)、原子靜態(tài)或動態(tài)地偏離平衡位置，短程有序，原子偏聚等方面的研究（見晶體缺陷）。合金相變包括脫溶、有序無序轉(zhuǎn)變、母相新相的晶體學(xué)關(guān)系等。結(jié)構(gòu)分析對新發(fā)現(xiàn)的合金相進(jìn)行測定，確定點(diǎn)陣類型、點(diǎn)陣參數(shù)、對稱性、原子位置等晶體學(xué)數(shù)據(jù)。液態(tài)金屬和非晶態(tài)金屬研究非晶態(tài)金屬和液態(tài)金屬結(jié)構(gòu)，如測定近程序參量、配位數(shù)等。X射線衍射是一種通過儀器進(jìn)行檢測的光學(xué)分析法，將單色X射線照到粉晶樣品上，若其中一個(gè)晶粒的一組面網(wǎng)取向和入射X射線夾角為θ時(shí)，滿足衍射條件，則在衍射角2θ處產(chǎn)生衍射。粉末衍射也可以分析出空間結(jié)構(gòu).但是大分子（比如蛋白質(zhì)等）等復(fù)雜的很難分析。

X射線衍射儀技術(shù)(X-raydiffraction，XRD)。通過對材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí),該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生特有的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此,X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法,已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。X-衍射儀是一種用于物理學(xué)、地球科學(xué)領(lǐng)域的分析儀器。蕪湖衍射儀哪家可以代理

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X射線衍射儀技術(shù)（XRD）可為客戶解決的問題： （1）當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。 （2）很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。 （3）新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測試出點(diǎn)陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)。 （4）產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應(yīng)力。 （5）納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。宿遷衍射儀批發(fā)