x射線光電子能譜分析： x射線光電子能譜法（x-ray photoelectron spectrom-----xps）在表面分析領域中是一種嶄新的方法。雖然用x射線照射固體材料并測量由此引起的電子動能的分布早在本世紀初就有報道，但當時可達到的分辯率還不足以觀測到光電子能譜上的實際光峰。直到1958年，以siegbahn為首的一個瑞典研究小組觀測到光峰現(xiàn)象，并發(fā)現(xiàn)此方法可以用來研究元素的種類及其化學狀態(tài)，故而取名“化學分析光電子能譜（eletron spectroscopy for chemical analysis-esca）。目前xps和esca已公認為是同義詞而不再加以區(qū)別。衍射儀的特點分析。歡迎來電咨詢上海澤權！舟山衍射儀哪個品牌好

將單色X射線照到晶體樣品上，若其中一個晶粒的一組晶面取向和入射X射線夾角為θ時，滿足衍射條件，則在衍射角2θ處產(chǎn)生衍射。樣品中有多個晶粒并滿足衍射。通過使用X射線衍射儀的探測器以一定的角度繞樣品旋轉，接收到粉晶中不同網(wǎng)面、不同取向的全部衍射線，獲得相應的衍射圖譜。通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態(tài)等信息，要求所需樣品含量大于1%（樣品最低檢出限），分析樣品量區(qū)分粉末樣品和塊狀樣品。揚州衍射儀代理費用上海澤權衍射儀品質保障。歡迎來電咨詢上海澤權！

X-射線衍射儀（X-RayDiffractomer）是采用輻射探測器和測角儀來記錄衍射峰位置及強度的分析儀器。我們常用的衍射儀X射線衍射儀主要由X射線發(fā)生器、衍射測角儀、輻射探測器、測量電路、控制操作和運行軟件的電子計算機系統(tǒng)組成，中心部件是測角儀。XRD的樣品一般都是粉末樣，要求樣品顆粒度小于300目，壓成十分平整的平面。XRD是研究材料的晶體結構及物相分析不可或缺的有力工具，有助于我們探究同成份不同相的材料性能差異，找到獲得預想性能的物質。由于XRD具有所需樣品數(shù)量少、對樣品的破壞性微小、對結構和缺陷靈敏，能得到有關晶體完整性的大量信息等特點，在冶金、機械、地質、化工、礦物、陶瓷、建材、耐火材料、天航空、能源、生物工程等諸多領域都得到了廣泛應用。

X射線衍射儀技術（XRD）注意事項： （1）固體樣品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必須平整，可以用幾塊粘貼一起。 （2）對于片狀、圓拄狀樣品會存在嚴重的擇優(yōu)取向，衍射強度異常，需提供測試方向。 （3）對于測量金屬樣品的微觀應力（晶格畸變），測量殘余奧氏體，要求制備成金相樣品，并進行普通拋光或電解拋光，消除表面應變層。 （4）粉末樣品要求磨成320目的粒度，直徑約40微米，重量大于5g。X射線是原子內層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數(shù)目的粒子（原子、離子或分子）所產(chǎn)生的相干散射將會發(fā)生光的干涉作用，從而使得散射的X射線的強度增強或減弱。上海澤權的衍射儀怎么樣？歡迎來電咨詢上海澤權！

鈦白粉中二氧化鈦的晶型種類主要有金紅石型、銳鈦型和板鈦型。由于板鈦型二氧化鈦屬于斜方晶系列，化學性質不穩(wěn)定，在650℃的高溫中可以轉化為金紅石型鈦白粉，因此在工業(yè)上沒有多大的實用價值。金紅石型的鈦白粉與銳鈦型鈦白粉比較而言，金紅石型鈦白粉的晶體結構很穩(wěn)定的產(chǎn)品，金紅石型鈦白粉與銳鈦型鈦白有更好的硬度、密度、耐候性、介電常數(shù)與折光率等性能。金紅石型和銳鈦型都是屬于四方晶系，但是具有不同的晶格，因此X射線的圖像也有很大的不同，銳鈦型鈦白的衍射角為°，金紅石型鈦白衍射角為°。由于鈦白粉中晶格類型和晶格比例的控制對涂料、塑料等下游應用領域產(chǎn)品的質量有非常大的影響，因此對鈦白粉晶型和晶型比例的測定有實際意義。衍射儀購買需要多少錢？歡迎來電咨詢上海澤權！嘉興衍射儀代理

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衍射儀中K系射線又可以細分為Kα（L層電子填充）和Kβ（M層電子填充）兩種波長略有差異的兩種射線。而X射線衍射儀要求使用單色X射線。因此，需要在XRD測試時把后者除掉，傳統(tǒng)的方法是在光路上加入一個濾波片（如Ni）。現(xiàn)在一般使用銅靶，在光路上增加一個石墨晶體單色器來去除Kβ射線。單色器可以去除衍射背底，也可以去除Kβ射線的干擾。XRD全譜很難直觀地表現(xiàn)衍射圖樣的變化，而為了更好地說明情況，一般將某個特征峰（常見為主峰）進行放大（也可以在XRD測試時，只選取某個較小范圍進行測試），然后比較其衍射峰位置。舟山衍射儀哪個品牌好