維度光電推出的 BeamHere 光斑分析儀系列提供高性價比光束質(zhì)量檢測解決方案，涵蓋掃描狹縫式、相機(jī)式及 M2 測試模塊三大產(chǎn)品線： 掃描狹縫式光斑分析儀采用國內(nèi)的刀口 / 狹縫雙模式切換技術(shù)，支持 190-2700nm 寬光譜范圍，可測量 2.5μm-10mm 光束直徑，0.1μm 超高分辨率實現(xiàn)亞微米級光斑細(xì)節(jié)捕捉。創(chuàng)新狹縫物理衰減機(jī)制使其無需外置衰減片即可直接測量近 10W 高功率激光，適用于激光加工等高能量場景。 相機(jī)式光斑分析儀覆蓋 400-1700nm 波段，支持 2D/3D 實時成像與動態(tài)分析，可測量非高斯光束（如平頂、貝塞爾光束）。獨特的六濾光片轉(zhuǎn)輪設(shè)計實現(xiàn)功率范圍擴(kuò)展，可拆卸結(jié)構(gòu)支持科研成像功能拓展。 M2 測試模塊適配全系產(chǎn)品，通過 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)算法測量光束傳播參數(shù)（M2 因子、發(fā)散角、束腰位置等），結(jié)合 BeamHere 軟件實現(xiàn)一鍵生成報告、多參數(shù)同步分析。系統(tǒng)以模塊化設(shè)計滿足光通信、醫(yī)療、工業(yè)等領(lǐng)域的光斑檢測需求，兼顧實驗室與產(chǎn)線在線監(jiān)測場景。微弱信號光斑如何檢測？維度光電動態(tài)范圍增強(qiáng)算法，突破探測器極限，同步清晰成像。激光加工光斑分析儀原理

使用 BeamHere 光斑分析儀測量激光光斑和質(zhì)量，包括以下步驟： 準(zhǔn)備：準(zhǔn)備 BeamHere 光斑分析儀、激光器和數(shù)據(jù)處理軟件。確保光斑傳感器放置并連接到計算機(jī)。 數(shù)據(jù)采集：啟動激光器，穩(wěn)定照射傳感器，實時傳輸圖像信息到計算機(jī)。 數(shù)據(jù)分析：BeamHere 軟件自動處理數(shù)據(jù)，計算光斑參數(shù)和光束質(zhì)量參數(shù)，支持 2D/3D 視圖。 結(jié)果展示：軟件以圖表和數(shù)值展示結(jié)果，一鍵生成包含所有數(shù)據(jù)的測試報告，便于導(dǎo)出和打印。 這些步驟幫助用戶測量光斑和光束質(zhì)量，支持激光技術(shù)。束腰半徑光斑分析儀測量近場光斑測試方案，推進(jìn)半導(dǎo)體，硅光行業(yè)優(yōu)化升級。

維度光電BeamHere 光斑分析儀系列，提供全場景激光光束質(zhì)量分析解決方案。產(chǎn)品覆蓋 190-2700nm 光譜，包括掃描狹縫式和相機(jī)式技術(shù)，實現(xiàn)亞微米至毫米級光斑測量。掃描狹縫式支持 2.5μm-10mm 光斑檢測，具備 0.1μm 分辨率，適用于高功率激光。相機(jī)式提供 400-1700nm 響應(yīng)，實現(xiàn) 2D/3D 成像分析，測量功率范圍 1μW-1W。M2 因子測試模塊基于 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)，評估光束質(zhì)量。軟件提供自動化分析和標(biāo)準(zhǔn)化報告。技術(shù)創(chuàng)新包括正交狹縫轉(zhuǎn)動輪結(jié)構(gòu)和適應(yīng)復(fù)雜光斑的面陣傳感器。產(chǎn)品適用于光束整形檢驗、光鑷系統(tǒng)檢測和準(zhǔn)直監(jiān)測。結(jié)構(gòu)設(shè)計優(yōu)化，通過 CE/FCC 認(rèn)證，應(yīng)用于多個領(lǐng)域，助力光束質(zhì)量分析和工藝優(yōu)化。

維度光電 BeamHere 系列為激光光束質(zhì)量檢測提供高性價比解決方案： 掃描狹縫式：國內(nèi)刀口 / 狹縫雙模式切換，覆蓋 190-2700nm 光譜，可測 2.5μm-10mm 光束，0.1μm 分辨率實現(xiàn)亞微米級光斑分析。創(chuàng)新狹縫衰減機(jī)制支持 10W 級高功率直接測量，無需外置衰減片。 相機(jī)式：400-1700nm 寬譜響應(yīng)，支持實時 2D/3D 成像與非高斯光束測量。六濾光片轉(zhuǎn)輪設(shè)計擴(kuò)展功率量程，可拆卸結(jié)構(gòu)兼顧工業(yè)檢測與科研成像需求。 M2 測試模塊：通過 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)算法，測量 M2 因子、發(fā)散角、束腰位置等參數(shù)，適配全系產(chǎn)品。 配套 BeamHere 軟件提供直觀操作界面，支持一鍵生成標(biāo)準(zhǔn)化報告，滿足光通信、醫(yī)療、工業(yè)等多場景需求。系統(tǒng)以模塊化設(shè)計實現(xiàn)高精度檢測，助力客戶提升效率與產(chǎn)品質(zhì)量。脈沖激光光束質(zhì)量怎么測檢測？維度光電，超快激光器研發(fā)利器。

相機(jī)式與狹縫式光斑分析儀對比指南 光斑分析儀的選擇需基于應(yīng)用場景的光斑尺寸、功率、脈沖特性及形態(tài)復(fù)雜度： 1. 光斑尺寸 相機(jī)式：受限于 sensor 尺寸（≤10mm），小光斑為 55μm（10 倍 5.5μm 像元）。 狹縫式：刀口模式可測小 2.5μm 光斑，適合亞微米級檢測。 2. 功率范圍 相機(jī)式： 6 片衰減片（BeamHere 標(biāo)配），可測 1W，需控制功率 < 10μW/cm2。 狹縫式：狹縫物理衰減機(jī)制支持近 10W 直接測量，無需外置衰減片。 3. 脈沖激光 相機(jī)式：觸發(fā)模式同步捕獲完整單脈沖光斑，兼容性強(qiáng)。 狹縫式：需匹配掃描頻率與激光重頻，易丟失脈沖信息。 4. 光斑形態(tài) 相機(jī)式：面陣傳感器保留非高斯光束（如貝塞爾光束）及高階橫模細(xì)節(jié)。 狹縫式：狹縫累加導(dǎo)致復(fù)雜光斑失真，適合高斯或規(guī)則光斑。 選擇建議 狹縫式：亞微米光斑、高功率或高斯光斑檢測。 相機(jī)式：大光斑、脈沖激光或復(fù)雜非高斯光束分析。 維度光電 BeamHere 系列提供兩種技術(shù)方案，適配實驗室與工業(yè)場景的全場景需求?？捎糜诋a(chǎn)線檢測的光斑分析儀。國產(chǎn)光斑分析儀廠家

光束質(zhì)量M2怎么測量？激光加工光斑分析儀原理

維度光電作為全球激光測量領(lǐng)域解決商，致力于打造 "三橫三縱" 產(chǎn)品矩陣： 橫向覆蓋： 光譜范圍：190-2700nm 全波段 光斑尺寸：0.1μm-10mm 全尺寸 功率等級：1μW-10W 全功率 縱向深度： 工業(yè)級：支持產(chǎn)線在線監(jiān)測與自動化對接 醫(yī)療級：符合 ISO 13485 認(rèn)證，保障臨床精度 科研級：開放 API 接口支持自定義算法 差異化優(yōu)勢： 同時提供雙技術(shù)方案的廠商（狹縫式 + 相機(jī)式） AI 算法庫支持光束質(zhì)量預(yù)測性維護(hù) 模塊化設(shè)計實現(xiàn)設(shè)備功能動態(tài)擴(kuò)展 適合各類激光應(yīng)用中激光光束質(zhì)量測量與分析。激光加工光斑分析儀原理