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馬波斯（上海）測(cè)量設(shè)備科技有限公司2025-04-05
無(wú)論是繞線式還是發(fā)卡式的定子，其質(zhì)量控制要求產(chǎn)品的功能特性檢查要貫穿于整個(gè)生產(chǎn)鏈中。局部放電測(cè)試（PDIV）功能由馬波斯產(chǎn)品E.D.C.集成在一套完整的產(chǎn)品系列中，單一設(shè)備可集成所有不同的電性能和功能測(cè)試選項(xiàng)，這些測(cè)試選項(xiàng)通常是在設(shè)計(jì)階段或量產(chǎn)階段需要完成的。更多信息可關(guān)注馬波斯官網(wǎng)。
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自1998年以來(lái)開(kāi)發(fā)的用于局部放電絕緣測(cè)試的方法基于電容耦合技術(shù)。與市場(chǎng)上通常使用的天線法方案相比，定子局部放電測(cè)試儀所采用的技術(shù)更復(fù)雜，對(duì)外部電磁干擾不敏感，因此更適合在生產(chǎn)環(huán)境中使用。馬波斯定子局部放電測(cè)試儀提供了多方面的電性能測(cè)試應(yīng)用程序，包括手動(dòng)和自動(dòng)方案，該方案可以在實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線上對(duì)定子進(jìn)行所有必要的功能和電性能測(cè)試。更多信息可關(guān)注馬波斯公眾號(hào)。
馬波斯（上海）測(cè)量設(shè)備科技有限公司
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