深圳市聯(lián)合多層線路板有限公司2025-05-16

線路板的可測試性設(shè)計（DFT）包含內(nèi)容：設(shè)計測試點，在關(guān)鍵節(jié)點和元器件引腳處設(shè)置測試點，測試點的布局要便于測試探針接觸，且數(shù)量和位置應(yīng)滿足測試覆蓋率要求，一般測試點間距不小于 1.27mm ；采用邊界掃描技術(shù)（如 JTAG），通過在芯片內(nèi)部集成邊界掃描單元，實現(xiàn)對芯片引腳和內(nèi)部邏輯的測試，提高測試的便利性和準確性 。設(shè)計自測試電路，如在電路板上添加自檢程序或測試模塊，可在設(shè)備啟動或運行過程中自動檢測線路板的功能是否正常 。優(yōu)化元器件布局，將易出現(xiàn)故障的元器件或需要測試的元器件放置在便于測試的位置，減少測試夾具的復(fù)雜性 。此外，還應(yīng)提供詳細的測試說明文檔，包括測試步驟、測試參數(shù)、故障診斷方法等，方便測試人員操作 。

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