EMC現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試整改EMC傳導(dǎo)輻射整改實(shí)驗(yàn)室EMC測(cè)試整改實(shí)驗(yàn)室

　　EMC電磁兼容測(cè)試

　　一、EMC測(cè)試試驗(yàn)室：

　　10M法電波暗室（標(biāo)準(zhǔn)9Mx6Mx6M電波暗室）

　　租場(chǎng)測(cè)試項(xiàng)目：

　　1 輻射騷擾測(cè)試/RE

　　2 輻射騷擾測(cè)試/RE

　　3 諧波電流/Harmonic

　　4 電壓波動(dòng)與閃爍/Flicker

　　5 電壓波動(dòng)與閃爍/Flicker

　　6 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度/RS

　　7 電快速瞬變脈沖群抗擾度/EFT

　　8 浪涌(沖擊)抗擾度/SURGE

　　9 射頻電磁場(chǎng)傳導(dǎo)抗擾度/CS

　　10 電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度/DIPs

　　11 騷擾功率

　　12 輻射雜散測(cè)試/RSE

　　輻射發(fā)射：

　　通過(guò)空間以電磁波形式傳播的電磁干擾。

　　傳導(dǎo)發(fā)射：

　　沿著導(dǎo)體傳播的電磁干擾。

　　測(cè)試場(chǎng)地：

　　開闊場(chǎng)、半電波暗室、屏蔽室。

　　電磁干擾測(cè)試主要設(shè)備：

　　1、電波暗室 2、接收機(jī) 3、接收天線 4、人工電源網(wǎng)絡(luò)

　　5、功率吸收嵌 6、轉(zhuǎn)臺(tái)、升降臺(tái) 7、轉(zhuǎn)臺(tái)、升降臺(tái)控制器

　　EMC包含兩大項(xiàng)：EMI（干擾）和 EMS(敏感度，抗干擾）

　　EMI測(cè)試項(xiàng)包括：RE（輻射，發(fā)射）

　　CE(傳導(dǎo)干擾）

　　Harmonic（諧波）

　　Flicker (閃爍)

　　EMS測(cè)試項(xiàng)包括：ESD （靜電）

　　EFT（瞬態(tài)脈沖干擾）

　　DIP(電壓跌落）

　　CS（傳導(dǎo)抗干擾）

　　RS（輻射抗干擾）

　　Surge（浪涌，雷擊）

　　PMS(工頻磁場(chǎng)抗擾度）

　　1.EMI（Electro-Magnetic Interference）---電磁騷擾測(cè)試

　　此測(cè)試之目的為：檢測(cè)電器產(chǎn)品所產(chǎn)生的電磁輻射對(duì)人體、公共電網(wǎng)以及其他正常工作之電器產(chǎn)品的影響。

　　EMI測(cè)試主要包含什么內(nèi)容？

　　Radiated Emission －輻射騷擾測(cè)試

　　Conducted Emission－傳導(dǎo)騷擾測(cè)試

　　Harmonic－諧波電流騷擾測(cè)試

　　Flicker－電壓變化和閃爍測(cè)試

　　2. EMS（Electro-Magnetic Susceptibility）---電磁抗擾度測(cè)試

　　此測(cè)試之目的為：檢測(cè)電器產(chǎn)品能否在電磁環(huán)境中穩(wěn)定工作，不受影響。

　　EMS測(cè)試主要包含什么內(nèi)容？

　　ESD－靜電抗擾度測(cè)試

　　RS－射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度測(cè)試

　　CS－射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度測(cè)試

　　DIP－電壓暫降，短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度測(cè)試

　　SURGE－浪涌（沖擊）抗擾度測(cè)試

　　EFT－電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試

　　PFMF－工頻磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試