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EMI認(rèn)證機(jī)構(gòu)通常按照EMI標(biāo)準(zhǔn)的準(zhǔn)峰值檢波進(jìn)行測(cè)試，而EMI診斷中往往用峰值檢波，兩者不匹配，EMI診斷是否還有意義？由于EMI診斷的目的是為了找出EMI的根源，并不需要一定精確的測(cè)試，而是需要相對(duì)的重復(fù)性好的測(cè)試。準(zhǔn)峰值檢波用來(lái)檢測(cè)信號(hào)包絡(luò)加權(quán)后的峰值(準(zhǔn)...

無(wú)線產(chǎn)品在復(fù)雜電磁環(huán)境下的EMC評(píng)估方案——無(wú)線穿戴產(chǎn)品可能在機(jī)場(chǎng)、地鐵、高鐵、商場(chǎng)、集市、居民區(qū)、工業(yè)區(qū)等多個(gè)場(chǎng)景下受電磁干擾會(huì)影響數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性，產(chǎn)生卡頓、遲延、斷連等問(wèn)題，影響用戶的體驗(yàn)感。在電磁干擾環(huán)境現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行測(cè)試受多方條件制約變得非常困難，通過(guò)將現(xiàn)...

從90年代末至今，近場(chǎng)微波成像已經(jīng)引起了學(xué)者們的濃厚興趣，但由于常規(guī)目標(biāo)散射近場(chǎng)的復(fù)雜性，致使近場(chǎng)微波成像遠(yuǎn)遠(yuǎn)滯后于遠(yuǎn)場(chǎng)成像。近場(chǎng)微波成像中，著眼于潛在的應(yīng)用，目標(biāo)函數(shù)既可以是理想導(dǎo)體目標(biāo)的輪廓函數(shù)，也可以是目標(biāo)介電常數(shù)的分布函數(shù)。從照射天線與成像目標(biāo)的相對(duì)運(yùn)...

近場(chǎng)掃描儀的特點(diǎn)：1.不需要消聲室：可以使用場(chǎng)分離技術(shù)將輻射聲從房間反射聲中分離出來(lái)。2.比消聲室測(cè)量精度更高100Hz以下，不需要房間校正曲線。3.快速測(cè)量：標(biāo)準(zhǔn)3D聲學(xué)測(cè)量，可在不到20分鐘內(nèi)完成典型兩分頻系統(tǒng)的聲功率測(cè)量。4.高信噪比：近場(chǎng)中聲壓級(jí)高，對(duì)...

可視化輻射抗擾度診斷分析系統(tǒng)—IS32產(chǎn)品特點(diǎn)：【高復(fù)現(xiàn)】模擬實(shí)際失效場(chǎng)景，采用射頻干擾耦合注入方式，極大的提高實(shí)際問(wèn)題的復(fù)現(xiàn)幾率，方便問(wèn)題分析；【高精度】視覺(jué)定位和機(jī)械手臂聯(lián)動(dòng)運(yùn)行，高精度的定位敏感源位置，方便分析問(wèn)題源頭和失效機(jī)理；【可量化】準(zhǔn)確模擬干擾距...

近場(chǎng)存在于距電磁輻射源（例如發(fā)射天線）一個(gè)波長(zhǎng)范圍內(nèi)的電磁場(chǎng)，一個(gè)聲源（如揚(yáng)聲器）附近的聲輻射場(chǎng)。在衍射光學(xué)中，近場(chǎng)定義如下：當(dāng)入射光波是平面波，經(jīng)過(guò)透鏡會(huì)聚后。以焦斑為中心，落在其前后半個(gè)瑞利長(zhǎng)度范圍外的光場(chǎng)為近場(chǎng)，否則稱為遠(yuǎn)場(chǎng)。一般來(lái)說(shuō)我們把菲涅耳衍射稱為...

可視化ESD抗擾度診斷分析系統(tǒng)—ES26-ESD產(chǎn)品特點(diǎn)■支持標(biāo)準(zhǔn)ESD波形的抗擾度可視化分析；■支持比較低的干擾電壓，可用于芯片等敏感器件的抗擾度分析；■干擾電壓步進(jìn)任意設(shè)置，兼顧測(cè)試效率及測(cè)試精度；■精確定位PCB板上受擾位置，快速找到敏感源；■自動(dòng)化測(cè)試...

群脈沖（EFT）近場(chǎng)電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場(chǎng)掃描診斷分析系統(tǒng)使用電磁場(chǎng)近場(chǎng)耦合探頭套裝，支持0.01mm分辨率步進(jìn)電磁掃描，采用近場(chǎng)電磁耦合的方式將100V-4kV的群脈沖(EFT)電壓耦合到電路中，從而找到敏感源頭位置，解決群脈沖抗擾度...

車(chē)載導(dǎo)航產(chǎn)品的輻射干擾包含寬帶干擾和窄帶干擾。車(chē)載導(dǎo)航儀內(nèi)的DC/DC變換器工作在脈沖狀態(tài)下，本身就會(huì)產(chǎn)生很強(qiáng)的寬帶干擾。而車(chē)載電子產(chǎn)品的主控芯片的速度在不斷提高，時(shí)鐘上升沿的振鈴就會(huì)產(chǎn)生豐富的諧波窄帶干擾。對(duì)這些車(chē)載導(dǎo)航儀的輻射干擾的整改，需要對(duì)其電磁輻射干...

從90年代末至今，近場(chǎng)微波成像已經(jīng)引起了學(xué)者們的濃厚興趣，但由于常規(guī)目標(biāo)散射近場(chǎng)的復(fù)雜性，致使近場(chǎng)微波成像遠(yuǎn)遠(yuǎn)滯后于遠(yuǎn)場(chǎng)成像。近場(chǎng)微波成像中，著眼于潛在的應(yīng)用，目標(biāo)函數(shù)既可以是理想導(dǎo)體目標(biāo)的輪廓函數(shù)，也可以是目標(biāo)介電常數(shù)的分布函數(shù)。從照射天線與成像目標(biāo)的相對(duì)運(yùn)...

輻射近場(chǎng)掃頻測(cè)量的研究，就一般情況而言，天線都在一個(gè)頻帶內(nèi)工作，因此，各項(xiàng)電指標(biāo)都是頻率的函數(shù)，為了快速獲得各個(gè)頻率點(diǎn)的電指標(biāo)，就需要進(jìn)行掃頻測(cè)量。掃頻測(cè)量的理論與點(diǎn)頻的理論完全一樣，只是在探頭掃描時(shí)，收發(fā)測(cè)量系統(tǒng)作掃頻測(cè)量。時(shí)域輻射近場(chǎng)測(cè)量的研究，為了反映脈...

輻射雜散快速測(cè)試系統(tǒng)— TS13整體介紹：輻射雜散性能是帶有無(wú)線射頻功能的電子產(chǎn)品的關(guān)鍵性能指標(biāo)，并且，影響輻射雜散性能的因素特別復(fù)雜，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和生產(chǎn)階段都需要保證輻射雜散方案性能的可靠性和一致性。標(biāo)準(zhǔn)全電波暗室測(cè)試方案成本高，測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)，不能滿足研發(fā)階段的...

EMI分析整改方法：在晶片電源接腳、I/O接口、重要訊號(hào)介面等位置增加旁路電容，有助于濾除積體電路的開(kāi)關(guān)雜訊。晶片電源接腳增加旁路電容(0.1μF)處理，電容要靠近接腳擺放。訊號(hào)線下方的地要完整，要有完整的參考面。訊號(hào)電流經(jīng)過(guò)一個(gè)低阻抗的路徑返還其驅(qū)動(dòng)源，能夠...

空口性能（OTA）自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6整體介紹：空口性能OTA自動(dòng)化系統(tǒng)主要由雙極化喇叭天線和小型偶極子校準(zhǔn)天線以及全覆膜吸波材料的電波暗室組成，主要用于手機(jī)、智能穿戴、無(wú)人機(jī)、路由器、智能機(jī)器人、小型終端等無(wú)線產(chǎn)品在真實(shí)環(huán)境下使用的性能，如發(fā)射性能（TR...

在EMI測(cè)試中，信號(hào)線對(duì)于電磁噪聲來(lái)說(shuō)是一個(gè)很好的耦合傳播途徑，無(wú)論是外部還是內(nèi)部干擾都能通過(guò)信號(hào)線傳導(dǎo)至其他設(shè)備，因此信號(hào)端口濾波的好壞是影響設(shè)備EMI是否超標(biāo)的一個(gè)重要因素。差分傳輸是一種信號(hào)傳輸?shù)募夹g(shù)，區(qū)別于傳統(tǒng)的一根信號(hào)線一根地線的單端信號(hào)傳輸，差分傳...

輻射雜散（RSE）快速測(cè)量系統(tǒng)——小型化無(wú)線終端產(chǎn)品（如手機(jī)、平板智能穿戴產(chǎn)品）輻射雜散(RSE)性能快速測(cè)量系統(tǒng)，主要特點(diǎn)如下：【便捷化】相較于其他多天線微波屏蔽箱，體積更小，重量更輕，帶支架和腳輪，方便測(cè)試工位便捷移動(dòng)；【測(cè)試快】?jī)?nèi)置16個(gè)接收天線，配合自...

輻射雜散快速測(cè)試系統(tǒng)— TS13整體介紹：輻射雜散性能是帶有無(wú)線射頻功能的電子產(chǎn)品的關(guān)鍵性能指標(biāo)，并且，影響輻射雜散性能的因素特別復(fù)雜，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和生產(chǎn)階段都需要保證輻射雜散方案性能的可靠性和一致性。標(biāo)準(zhǔn)全電波暗室測(cè)試方案成本高，測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)，不能滿足研發(fā)階段的...

輻射雜散快速測(cè)試系統(tǒng)— TS13產(chǎn)品特點(diǎn)：【便捷化】系統(tǒng)相較于標(biāo)準(zhǔn)輻射雜散測(cè)試實(shí)驗(yàn)室及預(yù)測(cè)試系統(tǒng)，體積更小，搬運(yùn)更方便;【測(cè)試快】?jī)?nèi)置16個(gè)接收天線，省去轉(zhuǎn)臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)間，600MHz-13GHz測(cè)試時(shí)間只需幾秒鐘，更適用于產(chǎn)線快速抽檢及研發(fā)階段的摸底測(cè)試；【系統(tǒng)...

PCB近場(chǎng)掃描儀FLS106PCBset的目的是，方便近場(chǎng)探頭檢測(cè)電子元件組的磁場(chǎng)或電場(chǎng)。掃描儀和近場(chǎng)探頭系列（從SX到LF）的組合可以測(cè)量頻率范圍為100kHz-10GHz的電場(chǎng)或磁場(chǎng)。該近場(chǎng)探頭可以在元件組上方沿三個(gè)軸運(yùn)動(dòng)。近場(chǎng)探頭在受試設(shè)備上方的光學(xué)定位...

EMI分析整改是工程師在設(shè)計(jì)中不可回避的問(wèn)題：一次性很難通過(guò)昂貴的EMI一致性測(cè)試；難以捕獲偶發(fā)的EMI突發(fā)信號(hào)；需要擁有較長(zhǎng)儀器采集時(shí)間的實(shí)時(shí)頻譜分析儀才可能捕獲EMI突發(fā)信號(hào)；大多數(shù)頻譜分析儀不是實(shí)時(shí)頻譜分析儀；EMI調(diào)試中很難找到噪聲來(lái)源；截短PCB線路...

多功能吞吐量性能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)：測(cè)試環(huán)境：小型化或標(biāo)準(zhǔn)電波暗室在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下模擬：典型場(chǎng)景信號(hào)、標(biāo)準(zhǔn)場(chǎng)景信號(hào)、復(fù)雜場(chǎng)景信號(hào)覆蓋測(cè)試項(xiàng)包括：傳導(dǎo)吞吐量測(cè)試，輻射吞吐量測(cè)試，方向性吞吐量測(cè)試，同頻和鄰頻干擾測(cè)試高精細(xì)電磁干擾發(fā)射強(qiáng)度控制監(jiān)控方...

空口性能（OTA）自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6整體介紹：空口性能OTA自動(dòng)化系統(tǒng)主要由雙極化喇叭天線和小型偶極子校準(zhǔn)天線以及全覆膜吸波材料的電波暗室組成，主要用于手機(jī)、智能穿戴、無(wú)人機(jī)、路由器、智能機(jī)器人、小型終端等無(wú)線產(chǎn)品在真實(shí)環(huán)境下使用的性能，如發(fā)射性能（TR...

從90年代末至今，近場(chǎng)微波成像已經(jīng)引起了學(xué)者們的濃厚興趣，但由于常規(guī)目標(biāo)散射近場(chǎng)的復(fù)雜性，致使近場(chǎng)微波成像遠(yuǎn)遠(yuǎn)滯后于遠(yuǎn)場(chǎng)成像。近場(chǎng)微波成像中，著眼于潛在的應(yīng)用，目標(biāo)函數(shù)既可以是理想導(dǎo)體目標(biāo)的輪廓函數(shù)，也可以是目標(biāo)介電常數(shù)的分布函數(shù)。從照射天線與成像目標(biāo)的相對(duì)運(yùn)...

預(yù)測(cè)試系統(tǒng)——預(yù)測(cè)試系統(tǒng)和標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)相比，具有如下優(yōu)勢(shì)：1.建造成本低；2.測(cè)試精度接近；3.高效率分析問(wèn)題；4.承擔(dān)90%研發(fā)測(cè)試工作量；5.無(wú)人員資質(zhì)要求；6.后期維護(hù)費(fèi)用低?？筛鶕?jù)如下系列標(biāo)準(zhǔn)要求定制方案：國(guó)軍標(biāo)：GJB151B；汽車(chē)電子：CISPR12/...

可視化輻射抗擾度診斷分析系統(tǒng)—IS32產(chǎn)品特點(diǎn)：【高復(fù)現(xiàn)】模擬實(shí)際失效場(chǎng)景，采用射頻干擾耦合注入方式，極大的提高實(shí)際問(wèn)題的復(fù)現(xiàn)幾率，方便問(wèn)題分析；【高精度】視覺(jué)定位和機(jī)械手臂聯(lián)動(dòng)運(yùn)行，高精度的定位敏感源位置，方便分析問(wèn)題源頭和失效機(jī)理；【可量化】準(zhǔn)確模擬干擾距...

射頻抗干擾(Desense)近場(chǎng)電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場(chǎng)掃描診斷分析系統(tǒng)使用電場(chǎng)近場(chǎng)探頭(H-Probe)、高低頻磁場(chǎng)近場(chǎng)探頭(H-Probe)套裝，支持0.01mm分辨率步進(jìn)電磁掃描，能快速有效的預(yù)防、解決接收感度惡化（Degradat...

輻射雜散預(yù)測(cè)試系統(tǒng)-TS18整體介紹：具有無(wú)線射頻功能的電子產(chǎn)品在工作時(shí)，除了主載波頻率及正常調(diào)制相關(guān)的邊帶信號(hào)外，往往會(huì)產(chǎn)生其他的離散頻率信號(hào)，造成對(duì)外邊設(shè)備和電磁環(huán)境的干擾。按照標(biāo)準(zhǔn)法規(guī)要求，雜散信號(hào)的強(qiáng)度不能超過(guò)相應(yīng)的限值，否則產(chǎn)品就不能對(duì)外銷(xiāo)售。雜散信...

可視化EMC(電磁兼容)近場(chǎng)掃描診斷分析系統(tǒng)根據(jù)用戶的需求進(jìn)行配置，可選配一個(gè)或多個(gè)功能，也可以后續(xù)逐步升級(jí)功能，主要功能如下：輻射(RE)近場(chǎng)電磁掃描診斷分析，可視化EMC(電磁兼容)近場(chǎng)掃描診斷分析系統(tǒng)支持頻率范圍9kHz-18GHz的輻射(RE)近場(chǎng)分析...

EMI設(shè)計(jì)要點(diǎn)很多初學(xué)者對(duì)于EMI設(shè)計(jì)都摸不著頭腦，其實(shí)我當(dāng)初也是一樣，但是在做了幾次設(shè)計(jì)以后，也逐漸有了一些體會(huì)。首先，對(duì)于大腦里面一定要清楚一個(gè)概念－－在高頻里面，自由空間的阻抗是377歐姆，對(duì)于一般的EMI中的空間輻射來(lái)說(shuō)，是由于信號(hào)的回路到了可以和空間...

可視化EFT抗擾度診斷分析系統(tǒng)—ES26-EFT整體介紹：電子產(chǎn)品在做脈沖群抗擾度測(cè)試時(shí)，通過(guò)電源端口、I/O端口直接注入或者耦合注入的EMS干擾，會(huì)引起產(chǎn)品的死機(jī)、重啟、性能功能 下降等異常，甚至?xí)?dǎo)致直接硬件損壞。在解決此類問(wèn)題時(shí)，比較大的困難在于注入到產(chǎn)...