3.黑盒測(cè)試技術(shù) 黑盒測(cè)試技術(shù)是指在不考慮產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)和代碼的情況下,對(duì)電子產(chǎn)品的輸入和輸出進(jìn)行測(cè)試,通過(guò)模擬用戶(hù)的操作和場(chǎng)景來(lái)驗(yàn)證產(chǎn)品的功能和性能。黑盒測(cè)試技術(shù)適用于多種類(lèi)型的產(chǎn)品測(cè)試,可以有效地發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的功能缺陷和性能問(wèn)題。 4.灰盒測(cè)試技...
電子產(chǎn)品測(cè)試的主要目標(biāo)包括以下幾個(gè)方面: 1.確保產(chǎn)品功能正確:通過(guò)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行功能測(cè)試,檢查產(chǎn)品是否符合用戶(hù)的需求和期望,確保產(chǎn)品功能正確。 2.確保產(chǎn)品性能可靠:通過(guò)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行性能測(cè)試,檢查產(chǎn)品在不同條件下的性能表現(xiàn),確保產(chǎn)品性能可靠。 ...
電子產(chǎn)品測(cè)試需要使用各種測(cè)試工具和設(shè)備,如萬(wàn)用表、示波器、信號(hào)源、模擬器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀等設(shè)備,以及各種軟件測(cè)試工具和自動(dòng)化測(cè)試工具。這些測(cè)試工具和設(shè)備能夠快速、準(zhǔn)確地檢測(cè)產(chǎn)品的各項(xiàng)功能、性能、可靠性、安全和兼容性等方面。 測(cè)試人員是電子產(chǎn)品...
當(dāng)數(shù)字信號(hào)疊加形成眼圖以后,為了方便地區(qū)分信號(hào)在不同位置出現(xiàn)的概率大小,更多的時(shí)候會(huì)用彩色余暉的模式進(jìn)行信號(hào)的觀察。彩色余暉就是把信號(hào)在屏幕上不同位置出現(xiàn)的概率大小用相應(yīng)的顏色表示出來(lái),這樣可以直觀地看出信號(hào)噪聲、抖動(dòng)等的分布情況。 對(duì)于眼圖的概念,...
4測(cè)試環(huán)境:測(cè)試環(huán)境是指進(jìn)行電子產(chǎn)品測(cè)試時(shí)所處的環(huán)境條件,包括溫度、濕度、電磁場(chǎng)等因素。 5測(cè)試設(shè)備:測(cè)試設(shè)備是進(jìn)行電子產(chǎn)品測(cè)試所需的儀器和設(shè)備,包括信號(hào)發(fā)生器、示波器、頻譜儀、溫濕度計(jì)等。 6測(cè)試程序:測(cè)試程序是進(jìn)行電子產(chǎn)品測(cè)試所需的軟件程序...
數(shù)字信號(hào)抖動(dòng)的成因 抖動(dòng)反映的是數(shù)字信號(hào)偏離其理想位置的時(shí)間偏差。高頻數(shù)字信號(hào)的比特周期都非常短,很小的抖動(dòng)都會(huì)造成信號(hào)采樣位置電平的變化,所以高頻數(shù)字信號(hào)對(duì)于抖動(dòng)都有嚴(yán)格要求。高速的串行數(shù)字信號(hào)對(duì)抖動(dòng)的要求更加嚴(yán)格,同時(shí)由于其傳輸路徑比較復(fù)雜,中...
由于眼圖是用一張圖形就完整地表征了串行信號(hào)的比特位信息,所以成為了衡量信號(hào)質(zhì)量的重要工具,眼圖測(cè)量有時(shí)侯就叫“信號(hào)質(zhì)量測(cè)試”。此外,眼圖測(cè)量的結(jié)果是合格還是不合格,其判斷依據(jù)通常是相對(duì)于“模板(Mask)”而言的。模板規(guī)定了串行信號(hào)“1”電平的容限,“0”電平...
圖測(cè)量中需要疊加的波形或比特的數(shù)量:在眼圖測(cè)量中,疊加的波形或比特的數(shù)量不一樣,可能得到的眼圖結(jié)果會(huì)有細(xì)微的差異。由于隨機(jī)噪聲和隨機(jī)抖動(dòng)的存在,疊加的波形或比特?cái)?shù)量越多,則眼的張開(kāi)程度會(huì)越小,就越能測(cè)到惡劣的情況,但相應(yīng)的測(cè)試時(shí)間也會(huì)變長(zhǎng)。為了在測(cè)...
數(shù)字信號(hào)抖動(dòng)的成因 抖動(dòng)反映的是數(shù)字信號(hào)偏離其理想位置的時(shí)間偏差。高頻數(shù)字信號(hào)的比特周期都非常短,很小的抖動(dòng)都會(huì)造成信號(hào)采樣位置電平的變化,所以高頻數(shù)字信號(hào)對(duì)于抖動(dòng)都有嚴(yán)格要求。高速的串行數(shù)字信號(hào)對(duì)抖動(dòng)的要求更加嚴(yán)格,同時(shí)由于其傳輸路徑比較復(fù)雜,中...
在電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)和制造過(guò)程中,電氣完整性測(cè)試可以幫助發(fā)現(xiàn)和解決電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)和制造中的電氣問(wèn)題。電氣完整性測(cè)試通常包括以下方面: 1.信號(hào)完整性測(cè)試:測(cè)試信號(hào)的傳輸速率、傳輸距離、信噪比、時(shí)鐘偏差等參數(shù)。這些參數(shù)對(duì)于高速數(shù)字電路設(shè)計(jì)和光電信號(hào)傳輸技術(shù)非常...
信號(hào)完整性(英語(yǔ):Signal integrity, SI)是對(duì)于電子信號(hào)質(zhì)量的一系列度量標(biāo)準(zhǔn)。在數(shù)字電路中,一串二進(jìn)制的信號(hào)流是通過(guò)電壓(或電流)的波形來(lái)表示。然而,自然界的信號(hào)實(shí)際上都是模擬的,而非數(shù)字的,所有的信號(hào)都受噪音、扭曲和損失影響。在短距離、低比...
電氣完整性是電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)中極其重要的一環(huán),它是指在電路或系統(tǒng)運(yùn)行過(guò)程中保持正常的電學(xué)特性,如電壓、電流、電阻等,同時(shí)也涵蓋了電磁兼容性和信號(hào)完整性分析。在設(shè)計(jì)高速電子設(shè)備時(shí),如高速集成電路、高速I(mǎi)O端口等,電氣完整性分析是必不可少的,因?yàn)殡姎馔暾詥?wèn)題可能...
振鈴?fù)ǔJ怯捎谛盘?hào)傳輸路徑過(guò)長(zhǎng)并且阻抗不連續(xù)所引起的多次反射造成的,或者是由 于信號(hào)之間的干擾(串?dāng)_)、信號(hào)跳變所引起的電源/地波動(dòng)(同步開(kāi)關(guān)噪聲)造成的。 (4)邊沿單調(diào)性(Monotonicity)指信號(hào)上升或下降沿的回溝。對(duì)于邊沿判決的時(shí)鐘信號(hào)...
要想得到零邊沿時(shí)間的理想方波,理論上是需要無(wú)窮大頻率的頻率分量。如果比較高只考 慮到某個(gè)頻率點(diǎn)處的頻率分量,則來(lái)出的時(shí)域波形邊沿時(shí)間會(huì)蛻化,會(huì)使得邊沿時(shí)間增大。 如,一個(gè)頻率為500MHz的理想方波,其5次諧波分量是2500M,如果把5次諧波以 內(nèi)所...
高速電路信號(hào)完整性測(cè)試方法 高速電路信號(hào)完整性測(cè)試是通過(guò)測(cè)量信號(hào)傳輸路徑中的各種特性來(lái)評(píng)估電路傳輸系統(tǒng)的質(zhì)量和可靠性。以下是一些常見(jiàn)的高速電路信號(hào)完整性測(cè)試方法: 1.時(shí)域反射測(cè)試(TimeDomainReflectometry,TDR):利用...
電氣完整性大致可以分為以下幾個(gè)類(lèi)別: 1.傳輸線完整性。傳輸線完整性是指在傳輸線上保持信號(hào)傳輸?shù)姆€(wěn)定性和一致性。主要包括信號(hào)反射、信號(hào)失真、串?dāng)_和噪聲等。 2.時(shí)序完整性。時(shí)序完整性是指在系統(tǒng)中保持時(shí)鐘信號(hào)傳輸?shù)臅r(shí)序一致性。主要包括時(shí)鐘抖動(dòng)、時(shí)...
數(shù)字示波器使用及MIPI-DSI信號(hào)測(cè)量 數(shù)字示波器主要用于時(shí)域波形測(cè)試,測(cè)量電壓/電流隨時(shí)間的變化情況,MIPI-DSI是MIPI聯(lián)盟針對(duì)顯示設(shè)備開(kāi)發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)接口協(xié)議,這里記錄下本人學(xué)習(xí)數(shù)字示波器的使用和MIPI-DSI信號(hào)測(cè)試的一些總結(jié)。 一...
高速電路測(cè)試技術(shù)的發(fā)展現(xiàn)狀及趨勢(shì) 摘要:隨著現(xiàn)代電子設(shè)備中高速串行通信信號(hào)的廣泛應(yīng)用,高速電路測(cè)試技術(shù)的重要性越來(lái)越突出。本文針對(duì)高速電路測(cè)試技術(shù)的發(fā)展現(xiàn)狀和趨勢(shì)進(jìn)行了相關(guān)分析和總結(jié),包括測(cè)試機(jī)構(gòu)和設(shè)備、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范、測(cè)試場(chǎng)景和應(yīng)用、測(cè)試技術(shù)和難點(diǎn)...
相關(guān)器件的應(yīng)用手冊(cè),ApplicationNote:在這個(gè)文檔中,廠家一般會(huì)提出一些設(shè)計(jì)建議,甚至參考設(shè)計(jì),有時(shí)該文檔也會(huì)作為器件手冊(cè)的一部分出現(xiàn)在器件手冊(cè)文檔中。但是在資料的搜集和準(zhǔn)備中,要注意這些信息是否齊備。 參考設(shè)計(jì),ReferenceDes...
MIPI物理層一致性測(cè)試 MIPI物理層一致性測(cè)試是一種用于檢測(cè)MIPI接口物理層性能是否符合規(guī)范的測(cè)試方法。MIPI物理層包括電氣規(guī)范和信令協(xié)議,這些規(guī)范確保了MIPI接口在不同設(shè)備之間的互通性和穩(wěn)定性。在MIPI物理層一致性測(cè)試中,測(cè)試設(shè)備會(huì)模擬...
電氣完整性測(cè)試的應(yīng)用 電氣完整性測(cè)試在電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)和制造過(guò)程中發(fā)揮著重要作用。在電子產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)階段,它應(yīng)用非常廣博,應(yīng)用場(chǎng)景包括: 1.電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段:在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段,電氣完整性測(cè)試能夠幫助設(shè)計(jì)人員優(yōu)化設(shè)計(jì)方案,以便確保設(shè)計(jì)方案中不存在電...
典型的數(shù)字信號(hào)波形可以知道如下幾點(diǎn) (1)過(guò)沖包括上過(guò)沖(Overshoot_High)和下過(guò)沖(Overshoot_Low)。上過(guò)沖是信號(hào)高于信號(hào)供電電源電壓Kc的最高電壓,下過(guò)沖是信號(hào)低于參考地電壓厶的比較低電壓。過(guò)沖可能不會(huì)對(duì)功能產(chǎn)生影響,但是...
大部分的DRAM都是在一個(gè)同步時(shí)鐘的控制下進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫(xiě),即SDRAM(Synchronous Dynamic Random -Access Memory) 。SDRAM根據(jù)時(shí)鐘采樣方式的不同,又分為SDR SDRAM(Single Data Rate SD...
2. 全局規(guī)劃與細(xì)節(jié)設(shè)計(jì)相結(jié)合。通過(guò)整體規(guī)劃和細(xì)節(jié)設(shè)計(jì)的有機(jī)結(jié)合,優(yōu)化電路完整性,減小電磁噪聲和輻射,提高電路信號(hào)傳輸?shù)母哳l響應(yīng)速率。 3. 等長(zhǎng)線、天線和濾波器的設(shè)計(jì)。在電路布局設(shè)計(jì)中,需要考慮等長(zhǎng)線、天線和濾波器的應(yīng)用,將其設(shè)計(jì)嵌入到電路中,以減...
典型的數(shù)字信號(hào)波形可以知道如下幾點(diǎn) (1)過(guò)沖包括上過(guò)沖(Overshoot_High)和下過(guò)沖(Overshoot_Low)。上過(guò)沖是信號(hào)高于信號(hào)供電電源電壓Kc的最高電壓,下過(guò)沖是信號(hào)低于參考地電壓厶的比較低電壓。過(guò)沖可能不會(huì)對(duì)功能產(chǎn)生影響,但是...
電氣完整性是指在電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)和布局中,確保電路或系統(tǒng)在運(yùn)行時(shí)能夠保持正常的電學(xué)特性的能力。電氣完整性問(wèn)題可能導(dǎo)致設(shè)備頻繁出錯(cuò)或無(wú)法正常工作,從而影響系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。電氣完整性需要從電路、傳輸線、信號(hào)響應(yīng)等多方面進(jìn)行分析和檢測(cè),以保證系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。...
要想得到零邊沿時(shí)間的理想方波,理論上是需要無(wú)窮大頻率的頻率分量。如果比較高只考慮到某個(gè)頻率點(diǎn)處的頻率分量,則來(lái)出的時(shí)域波形邊沿時(shí)間會(huì)蛻化,會(huì)使得邊沿時(shí)間增大。例如,一個(gè)頻率為500MHz的理想方波,其5次諧波分量是2500M,如果把5次諧波以?xún)?nèi)所有分量成時(shí)...
1.信號(hào)引腳布局:在PCB設(shè)計(jì)中,正確的信號(hào)引腳布局可以很大程度地減少電磁干擾和噪聲。 2.阻抗匹配:設(shè)計(jì)正確的阻抗匹配可以有效地減少信號(hào)反射和信號(hào)失真。 3.地面規(guī)劃:合理的地面規(guī)劃不僅可以提高抗干擾能力,還可以減少信號(hào)反射和串?dāng)_。 4...
4.選擇測(cè)試參數(shù):根據(jù)測(cè)試對(duì)象的不同和測(cè)試要求,選擇相應(yīng)的測(cè)試參數(shù),如測(cè)試頻率、測(cè)試電壓、測(cè)試時(shí)間等。5.進(jìn)行測(cè)試:根據(jù)測(cè)試設(shè)備的顯示結(jié)果或輸出結(jié)果,判斷被測(cè)對(duì)象在測(cè)試條件下是否能夠正常工作或滿足要求。 6.分析測(cè)試結(jié)果:對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析、對(duì)比和歸...
(2)阻抗匹配(impedance matching):信號(hào)源和接收器的輸入輸出端口阻抗不匹配,導(dǎo)致信號(hào)反射、信噪比下降等問(wèn)題。 (3)噪聲(noise):干擾源、地線回流、耦合等問(wèn)題導(dǎo)致的信號(hào)噪聲。 (4)時(shí)序誤差(timingerror):...