射頻抗干擾(Desense)近場(chǎng)電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場(chǎng)掃描診斷分析系統(tǒng)使用電場(chǎng)近場(chǎng)探頭(H-Probe)、高低頻磁場(chǎng)近場(chǎng)探頭(H-Probe)套裝，支持0.01mm分辨率步進(jìn)電磁掃描，能快速有效的預(yù)防、解決接收感度惡化（DegradationofSensitivity）問(wèn)題，使得產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)化設(shè)計(jì)，滿(mǎn)足研發(fā)級(jí)正向設(shè)計(jì)、整機(jī)、板級(jí)、芯片的射頻抗干擾Desense問(wèn)題自動(dòng)診斷分析，普遍用于2/3/4/5G手機(jī)、藍(lán)牙、WiFi、物聯(lián)網(wǎng)無(wú)線(xiàn)終端模塊等行業(yè)，在電磁兼容可靠性正向研發(fā)、射頻抗干擾源頭定位、器件選型射頻抗干擾評(píng)估、更新方案設(shè)計(jì)的射頻抗干擾性能評(píng)估、天線(xiàn)仿真驗(yàn)證等方面。掃描技術(shù)有助于快速解決普遍的電磁設(shè)計(jì)問(wèn)題。北京電磁波近場(chǎng)掃描方案系統(tǒng)

提供一種電磁場(chǎng)近場(chǎng)掃描裝置與掃描方法,掃描裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,通過(guò)探頭實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)物品的電磁場(chǎng)近場(chǎng)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確采集,通過(guò)空間移動(dòng)平臺(tái)和計(jì)算機(jī)協(xié)調(diào)工作實(shí)現(xiàn)對(duì)探頭位置的準(zhǔn)確控制,通過(guò)顯微攝像裝置準(zhǔn)確監(jiān)測(cè)探頭與待測(cè)物品之間的距離,從而能夠準(zhǔn)確獲得待測(cè)物品的電磁場(chǎng)近場(chǎng)掃描結(jié)果,另外,探頭在掃描待測(cè)物品電磁場(chǎng)近場(chǎng)時(shí),采用逐點(diǎn)掃描,實(shí)時(shí)采集傳輸,即每一次探頭移動(dòng),均采集一次數(shù)據(jù)并及時(shí)將采集到的數(shù)據(jù)發(fā)送至信號(hào)分析裝置,避免掃描過(guò)程中,掃描裝置自身對(duì)待測(cè)物品電磁場(chǎng)近場(chǎng)的影響,以及數(shù)據(jù)采集延時(shí)對(duì)信號(hào)準(zhǔn)確度的影響,從而更進(jìn)一步提高了掃描的精度和掃描結(jié)果的準(zhǔn)確度。西安快速近場(chǎng)掃描測(cè)試儀價(jià)格設(shè)計(jì)工程師可以在采取了相應(yīng)的解決措施之后，對(duì)器件進(jìn)行重新測(cè)試并立即量化出校正設(shè)計(jì)后的效果。

近場(chǎng)掃描系統(tǒng)的制作方法：測(cè)量一件介質(zhì)對(duì)電磁波的響應(yīng)特征，需要檢測(cè)穿過(guò)該介質(zhì)后的電磁波其空間各個(gè)點(diǎn)的電磁特性，然后利用一定的處理設(shè)備將檢測(cè)到的空間各點(diǎn)的電磁特性值記錄下來(lái)并進(jìn)行分析，對(duì)比未穿過(guò)介質(zhì)以前的電磁波，可以計(jì)算出介質(zhì)對(duì)電磁波的響應(yīng)特性。以上過(guò)程需要通過(guò)三維近場(chǎng)掃描系統(tǒng)完成?，F(xiàn)有的三維近場(chǎng)掃描系統(tǒng)I所示，主要包括采集單元2、分析單元3、處理單元6以及移動(dòng)單元4和控制單元5。其中，采集單元2如接收天線(xiàn)用于采集穿過(guò)介質(zhì)I后的電磁波在空間各個(gè)點(diǎn)上的電磁參數(shù)，移動(dòng)單元4例如電機(jī)、滑軌則輔助采集單元2在三維空間上以一定的步長(zhǎng)上下、左右或前后移動(dòng)，控制單元5用來(lái)驅(qū)動(dòng)移動(dòng)單元4的啟動(dòng)、停止等。

近場(chǎng)掃描測(cè)試系統(tǒng)：對(duì)天線(xiàn)近場(chǎng)區(qū)（離開(kāi)天線(xiàn)幾個(gè)波長(zhǎng)范圍）的電磁場(chǎng)分布進(jìn)行測(cè)量，然后利用有關(guān)的電磁場(chǎng)定律，通過(guò)嚴(yán)格的數(shù)學(xué)變換，得到待測(cè)天線(xiàn)在遠(yuǎn)場(chǎng)任意角域的電磁場(chǎng)分布。天線(xiàn)的近場(chǎng)測(cè)量技術(shù)的主要優(yōu)點(diǎn)主要有：由于可以在室內(nèi)進(jìn)行測(cè)試，因而擺脫了遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試場(chǎng)地、天氣、安全性和惡劣電磁環(huán)境干擾的問(wèn)題。易于控制多路徑效應(yīng)造成的測(cè)試誤差。易于架設(shè)待測(cè)天線(xiàn)，待測(cè)天線(xiàn)不做相對(duì)運(yùn)動(dòng)，適宜大口徑天線(xiàn)的測(cè)試。可以實(shí)現(xiàn)對(duì)天線(xiàn)口徑分布的診斷，尤其適用于相控陣天線(xiàn)的口徑校準(zhǔn)與測(cè)試。為了量化比較半雙工解串器與新一代全雙工設(shè)計(jì)的輻射特性，設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)使用了內(nèi)部的EMI極近場(chǎng)掃描儀。

為了量化比較半雙工解串器與新一代全雙工設(shè)計(jì)的輻射特性，設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)再次使用了內(nèi)部的EMI極近場(chǎng)掃描儀。他們將原來(lái)的半雙工板放在掃描儀上，進(jìn)行基線(xiàn)測(cè)量。對(duì)待測(cè)器件加電后，他們?cè)赑C上開(kāi)啟了掃描儀。這是同一家半導(dǎo)體供應(yīng)商的第二個(gè)例子，該公司開(kāi)發(fā)了一個(gè)通過(guò)串行解串器進(jìn)行點(diǎn)到點(diǎn)傳輸?shù)牡诙酒M解決方案。在第三代芯片組中，設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)采用了一種不同的技術(shù)并升級(jí)了傳輸能力。他們將雙向控制通道一起嵌入高速串行鏈路中，從而實(shí)現(xiàn)了雙向傳輸（全雙工）。低頻測(cè)量更準(zhǔn)確，不需要房間校準(zhǔn)曲線(xiàn)。北京電磁波近場(chǎng)掃描方案系統(tǒng)

汽車(chē)電子工程師很大的挑戰(zhàn)在于減少EMI輻射。北京電磁波近場(chǎng)掃描方案系統(tǒng)

EMI近場(chǎng)輻射測(cè)試的操作指南：i.根據(jù)跡線(xiàn)類(lèi)型，我們可以先掃描未整改前的板子輻射情況，并記錄為跡線(xiàn)1，用很大保持掃描后，得到高的跡線(xiàn)情況，用查看固定跡線(xiàn)使其不再更新。ii.打開(kāi)跡線(xiàn)2，并用很大保持掃描我們整改后的板子，得到整改后的跡線(xiàn)情況，得到跡線(xiàn)2.對(duì)比1與2的跡線(xiàn)，可以了解整改前后各個(gè)頻點(diǎn)的輻射很大值是否有改善。iii.打開(kāi)跡線(xiàn)3，并用去除寫(xiě)入進(jìn)行檢測(cè)，可得到板子目前每個(gè)測(cè)量點(diǎn)的輻射情況，并跡線(xiàn)1、2進(jìn)行對(duì)比，可觀測(cè)每個(gè)測(cè)量點(diǎn)的不同輻射情況。iv.將三條跡線(xiàn)進(jìn)行對(duì)比，可得到我們整改的效果是否符合要求，并將板子上每個(gè)點(diǎn)的輻射情況與整體的輻射情況作對(duì)比，可知每個(gè)較強(qiáng)輻射的信號(hào)點(diǎn)產(chǎn)生的位置。北京電磁波近場(chǎng)掃描方案系統(tǒng)