EMI近場(chǎng)輻射特性：SSCG示例：某一大型半導(dǎo)體廠商在解串器的并行總線上實(shí)現(xiàn)了SSCG功能。SSCG功能能夠通過(guò)將輻射峰值能量擴(kuò)展到更寬的頻帶上來(lái)減少輻射。頻率變化發(fā)生在額定時(shí)鐘中心頻率（中心擴(kuò)頻調(diào)制）附近，擴(kuò)展的頻譜為正或負(fù)1.0%（fdev）。在接收器并行總線端，輸出以千赫茲（fmod）的調(diào)制速率隨時(shí)間調(diào)制時(shí)鐘頻率和數(shù)據(jù)頻譜。定制的串行解串器芯片組的目標(biāo)客戶是要求所安裝電子設(shè)備具有低EMI輻射特性的汽車廠商。該公司期望用令人信服的量化證據(jù)來(lái)向汽車廠商說(shuō)明SSCG功能可以有效降低EMI輻射。在5m測(cè)量距離上，只2°C的溫度變化將在10kHz處產(chǎn)生180度的相位誤差。山東快速近場(chǎng)掃描方案系統(tǒng)
電磁場(chǎng)近場(chǎng)掃描的技術(shù)主要針對(duì)大尺寸的檢測(cè)對(duì)象，如無(wú)線局域網(wǎng)、蜂窩通訊等等空間通訊信號(hào)?？偟膩?lái)說(shuō)，主要技術(shù)大致可以分為兩種，一種采用尺寸較大的天線，另一種采用天線陣列。上述兩種技術(shù)針對(duì)的檢測(cè)對(duì)象尺寸在幾十厘米，甚至更大的尺寸。這兩種技術(shù)都意味著其空間分辨率將受到限制，同時(shí)其位移的精度和步長(zhǎng)也必然較為粗糙，若需實(shí)現(xiàn)小尺寸檢測(cè)對(duì)象內(nèi)部較高精度的空間定位，則其空間位置控制平臺(tái)必須要求很聞，其實(shí)現(xiàn)復(fù)雜，且實(shí)現(xiàn)成本聞昂。福建自動(dòng)連續(xù)近場(chǎng)掃描測(cè)出光纖折射率分布以及其他幾何特性參數(shù)的測(cè)試方法。也可用于測(cè)量模場(chǎng)直徑。
散射近場(chǎng)測(cè)量：1.天線口徑場(chǎng)分布診斷：天線口徑場(chǎng)分布診斷是通過(guò)測(cè)量天線近區(qū)場(chǎng)的分布逆推出天線口徑場(chǎng)分布，從而判斷出口徑場(chǎng)畸變處所對(duì)應(yīng)的輻射單元，這就是天線口徑分布診斷的基本原理。該方法對(duì)具有一維圓對(duì)稱天線口徑分布的分析是可靠的，尤其對(duì)相控陣天線的分析與測(cè)量已有了充分的可信度。2.測(cè)量精度及誤差分析：輻射近場(chǎng)測(cè)量的研究與誤差分析的探討是同時(shí)進(jìn)行的，研究結(jié)果表明：輻射近場(chǎng)測(cè)量的主要誤差源為18項(xiàng)，大致分為4個(gè)方面，即探頭誤差、機(jī)械掃描定位誤差、測(cè)量系統(tǒng)誤差以及測(cè)量環(huán)境誤差。對(duì)于平面輻射近場(chǎng)測(cè)量的誤差分析已經(jīng)完成，計(jì)算機(jī)模擬及各項(xiàng)誤差的上界也已給出；柱面、球面輻射近場(chǎng)測(cè)量的誤差分析尚未完成。
散射近場(chǎng)測(cè)量：（1）常規(guī)天線電參數(shù)的測(cè)量：天線近場(chǎng)測(cè)量可以給出天線各個(gè)截面的方向圖以及立體方向圖，可以分析出方向圖上的所有電參數(shù)（波束寬度、副瓣電平、零值深度、零深位置等）和天線的極化參數(shù)（軸比、傾角和旋向）以及天線的增益。（2）低副瓣或很低副瓣天線的測(cè)量：天線方向圖副瓣電平在-28～-35dB之間的天線稱為低副瓣天線；副瓣電平小于-40dB的天線稱為很低副瓣天線。對(duì)它們的測(cè)量要用到“零探頭”技術(shù)，據(jù)文獻(xiàn)報(bào)導(dǎo)，副瓣電平在-40dB以上時(shí)，測(cè)量精度為±3dB，副瓣電平為-55dB時(shí)，測(cè)量精度為±5dB。設(shè)計(jì)工程師可以在采取了相應(yīng)的解決措施之后，對(duì)器件進(jìn)行重新測(cè)試并立即量化出校正設(shè)計(jì)后的效果。
在任何新PCB的開發(fā)過(guò)程中，設(shè)計(jì)工程師都必須找出設(shè)計(jì)之外的輻射體或射頻泄漏，并對(duì)其進(jìn)行描述和處理以通過(guò)一致性測(cè)試?？赡艿妮椛潴w包括高速、大功率器件以及具有高密度或高復(fù)雜度的器件。掃描系統(tǒng)以疊加在Gerber文件上的形式顯示空間輻射特性，因此測(cè)試人員可以準(zhǔn)確地找出所有輻射問(wèn)題的來(lái)源。快速磁性極近場(chǎng)測(cè)量?jī)x器可以捕獲和顯示頻譜和實(shí)時(shí)空間掃描結(jié)果的可視圖像。芯片廠商和PCB設(shè)計(jì)工程師可以掃描任何一塊電路板，并識(shí)別出50kHz至4GHz頻率范圍內(nèi)的恒定或時(shí)基的輻射源。這種掃描技術(shù)有助于快速解決普遍的電磁設(shè)計(jì)問(wèn)題，包括濾波、屏蔽、共模、電流分布、抗干擾性和寬帶噪聲。設(shè)計(jì)工程師可以在采取了相應(yīng)的解決措施之后，對(duì)器件進(jìn)行重新測(cè)試并立即量化出校正設(shè)計(jì)后的效果。掃描系統(tǒng)由一個(gè)掃描儀、小型適配器、一個(gè)客戶提供的頻譜分析儀和運(yùn)行掃描系統(tǒng)軟件的PC組成。廣州全自動(dòng)近場(chǎng)掃描儀器廠家
借助掃描系統(tǒng)，電路板設(shè)計(jì)工程師可以預(yù)先測(cè)試和解決電磁兼容問(wèn)題。山東快速近場(chǎng)掃描方案系統(tǒng)
射頻干擾（RFI）近場(chǎng)電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場(chǎng)掃描診斷分析系統(tǒng)支持診斷和分析9kHz-40GHz射頻干擾（RFI）電磁波所帶來(lái)的干擾問(wèn)題，使用電場(chǎng)近場(chǎng)探頭(H-Probe)、高低頻磁場(chǎng)近場(chǎng)探頭(H-Probe)套裝，支持0.01mm分辨率步進(jìn)電磁掃描，支持-90dBm以上射頻信號(hào)分析。支持頻率分布、功率分布、頻譜分布、諧波分布等多射頻干擾信號(hào)可視化分析功能，滿足研發(fā)級(jí)正向設(shè)計(jì)、整機(jī)、板級(jí)、芯片的輻射雜散問(wèn)題自動(dòng)診斷分析，普遍用于2/3/4/5G手機(jī)、藍(lán)牙、WiFi、物聯(lián)網(wǎng)無(wú)線終端模塊等行業(yè)，在電磁兼容可靠性正向研發(fā)、輻射雜散評(píng)估、輻射雜散干擾源頭定位、替代物料輻射雜散評(píng)估、器件選型輻射雜散評(píng)估、成本降低輻射雜散性能評(píng)估、更新方案設(shè)計(jì)的輻射雜散性能評(píng)估、電磁仿真驗(yàn)證等方面。山東快速近場(chǎng)掃描方案系統(tǒng)