平面散射近場測量的基本理論已由文獻(xiàn)［12～15］給出。其基本原理是綜合平面波法，綜合平面波的基本思想為：如果對一個由N個輻射單元組成的線陣同時進(jìn)行激勵，每個輻射單元產(chǎn)生一個準(zhǔn)球面波e（θ，φ），選擇一個與方向角（θ，φ）有關(guān)的權(quán)函數(shù)W（θ，φ）對每個e（θ，φ）進(jìn)行加權(quán)并求和（線性系統(tǒng)），則所得的加權(quán)求和函數(shù)近似為均勻平面波，對不同方向的（θ，φ）選擇不同W（θ，φ）就可以獲得不同方向上的平面波對被測目標(biāo)的照射。這一過程實(shí)現(xiàn)了對平面波的綜合（這與綜合口徑雷達(dá)SAR的概念極為相似），并很容易在計算機(jī)上完成。距離天線一定范圍內(nèi)，電場和磁場基本為平面并以直角相交。天津電氣電力近場輻射掃描儀

傳統(tǒng)的EMI輻射測試往往借助EMI接收機(jī)，在專業(yè)實(shí)驗(yàn)室的暗室里進(jìn)行，這固然可以對產(chǎn)品的整體EMI輻射做嚴(yán)格的測試，但往往測試周期長、費(fèi)用較高，加之遠(yuǎn)場測試只能測出結(jié)果，而不能給出具體輻射的位置，所以給產(chǎn)品的設(shè)計和改善帶來不小的麻煩。隨著測試測量儀器的發(fā)展，近幾年，近場探頭和頻譜分析儀的組合個EMI輻射的測試定位帶來了新的方向。為采用一個近場探頭和實(shí)時頻譜分析儀對一個電路進(jìn)行輻射源的查找，我們可以很清楚的觀測到在近場探頭附件有四個主要頻率的輻射，這對于硬件工程師進(jìn)行設(shè)計的改善是具有極大幫助的。成都手機(jī)近場輻射測試儀價格根據(jù)天線的種類，一種場會成為主導(dǎo)。

展示了典型的半波偶極子天線是如何產(chǎn)生電場和磁場的。轉(zhuǎn)發(fā)后的信號被調(diào)制為正弦波，電壓呈極性變化，因此在天線的各元件間生成了電場，極性每半個周期變換一次。天線元件的電流產(chǎn)生磁場，方向每半個周期變換一次。電磁場互為直角正交。圍繞著半波偶極子的電磁場包括一個電場和一個磁場，電磁場均為球形且互成直角。天線旁邊的磁場呈球形或弧形，特別是距離天線近的磁場。這些電磁場從天線向外發(fā)出，越向外越不明顯，特性也逐漸趨向平面。接收天線通常接收平面波。

天線周圍的空間電磁場根據(jù)特性的不同又可劃分為三個不同的區(qū)域：(a)感應(yīng)近場，(b)輻射近場，(c)輻射遠(yuǎn)場，它們的區(qū)分依靠離開天線的不同距離來限定。在這些場區(qū)交界的距離處電磁場的結(jié)構(gòu)并無突變發(fā)生，但總體上來看，三個區(qū)域的電磁場特性是互不相同的。盡管有各種準(zhǔn)則來區(qū)分三者的邊界，但這些準(zhǔn)則并不是單獨(dú)的，我們需要了解的是相互之間的本質(zhì)區(qū)別：感應(yīng)近場區(qū)指靠近天線的區(qū)域。在此區(qū)域內(nèi)，由于感應(yīng)場分量占主導(dǎo)地位，其電場和磁場的時間相位差為90度，電磁場的能量是震蕩的，不產(chǎn)生輻射。雖然電磁場存在于天線周圍，但他們會向外擴(kuò)張。

相比而言，要在第三方測試箱中測試新設(shè)計，就要求工程師前往場外測試場所，并會耗費(fèi)大半天的時間。使用測試箱往往需要提前幾周安排，這會給開發(fā)過程帶來極大的延誤。極近場掃描解決方案不會替代在測試箱中測試設(shè)計的需求。不過，這種儀器可以在簡便的桌面系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)快速的前后一致性測試功能。與在測試箱中進(jìn)行的遠(yuǎn)場測量相比，極近場EMI特性可以提供實(shí)時反饋。此外，這些測量結(jié)果與在測試箱中測得的遠(yuǎn)場測量結(jié)果具有很高的相關(guān)性。因此，諸如EMxpert等極近場儀器可以減少在測試箱中進(jìn)行類似測試的數(shù)量?？傊?，這可以幫助設(shè)計團(tuán)隊加快測試進(jìn)程，更快地得到測試箱測試的一致性測試結(jié)果。近區(qū)場的電磁場強(qiáng)度隨距離的變化比較快，在此空間內(nèi)的不均勻度較大。天津汽車電子近場輻射分析儀價格

場的強(qiáng)度和天線的距離成反比(1/ r3)。天津電氣電力近場輻射掃描儀

柱面輻射近場測量能夠計算天線全部面的輻射方向圖，但在θ=-90°或90°時，柱面波展開式中漢克爾函數(shù)已無意義，所以，柱面輻射近場測量適用于天線方向圖為扇形波束天線的測量。球面輻射近場測量能夠計算除球心以外天線任意面上任意點(diǎn)的輻射場，但測量及計算時間都較長。輻射近場測量的基本理論雖然已經(jīng)成熟，且在實(shí)用中也取得了較多的研究成果，但對以下問題還應(yīng)進(jìn)行進(jìn)一步的探討研究：考慮探頭與被測天線多次散射耦合的理論公式。所有的理論公式都是在忽略多次散射耦合條件下而得出的，這些公式對常規(guī)天線的測量有一定的精度，但對低副瓣或很低副瓣天線測量就必需考慮這些因素，因此，需要建立嚴(yán)格的耦合方程。天津電氣電力近場輻射掃描儀