事實上﹐當然平時的預防保養(yǎng)是很重要的﹐而一旦正確的診斷﹐才能得到快速的痊愈﹐沒有正確的診斷﹐找不到病癥的源頭﹐往往事倍功半而拖延費時。故在EMI的問題上﹐常?？吹揭粋€EMI有問題的產品﹐由于未能找到造成EMI問題的關鍵﹐花了許多時間﹐下了許多對策﹐卻始終無法解決﹐其中亦不乏專業(yè)的EMI工程師。以往談到EMI往往強調對策方法﹐甚而視許多對策秘決或絕招﹐然而沒有正確的診斷﹐而在產品上加了一大堆EMI壓制組件﹐其結果往往只會使EMI情況更糟。電源是EMI干擾噪聲的主要來源，示波器的電源諧波分析在這類排查工作中很有潛力。武漢電氣電力EMI診斷原理

當設備完全符合有關的規(guī)定后,如果為了降低產品成本,減少不必要的器件或設計,可以將先前診斷過程中所采取的措施逐個去掉。首先應該考慮去掉的是成本較高的器件或材料,以及在正式產品上難以實現(xiàn)的措施。如果去掉后,產品的輻射發(fā)射并沒有超標,那么就可以去掉這個措施。然后通過測試,使產品成本降到低。EMI診斷是設計階段的主要測試手段產品的設計階段需要EMC測試。EMC試驗可分為規(guī)范的EMC測試和EMI診斷。EMC測量必須根據設備類型及使用范圍，按標準規(guī)定的測量要求，在標準實驗室采取規(guī)范的測量方法完成數據采集。重慶 研發(fā)級EMI診斷測試儀一般來說，近場探針沒有校準數據，因此它們適合用于相對測量。

電路板上的組件成為輻射來源，由于所使用的IC或CPU本身在運作時產生很大的輻射﹐使得EMI測試無法通過﹐卵石種情往往在經過（1）﹑（2）﹑（3）的分析后噪聲依然存在﹐通常解決的方法不外換一個類似的組件﹐看EMI特性是否會好一些。另外就是電路板重新布線時﹐將其擺放于影響小的位置﹐也就是附近沒有I/OPort及連接線等經過﹐當然若情況允許﹐將整個組件用金屬外殼包覆（Shielding）也是一種快速有效的方法。由以上的分析介紹我們可以了解﹐造成電磁干擾輻射關鍵的地方就是電線的問題﹐當有了適當的天線條件存在很容易就產生干擾﹐另外電源線往往亦是造成天線效應的主因﹐這是在許EMI對策中容易疏忽的。

一個實際使用的設備箱體屏蔽效能測試方法與剛才描述的屏蔽盒測試方法相似，小發(fā)射天線放在設備箱體外部而不是屏蔽盒內部。發(fā)射天線經箱體屏蔽和未屏蔽的兩種情況下，用接收天線和頻譜分析儀測得的兩者之差即屏蔽效能值。如果設備箱體完全是金屬或射頻密封，它能夠很容易地得到100dB以上的屏蔽效能。然而，通常情況下，屏蔽箱體帶有開口，如縫隙、未屏蔽的顯示屏、非金屬區(qū)域以及通風口。如果屏蔽效能值沒滿足要求，這里就可以使用輻射發(fā)射測試中描述的故障診斷和檢測方法。待測設備（DUT）可能放在一個轉盤上，以 便于從多個角度收集信號。

以往我們?？吹秸凟MI對策離不開屏蔽（Shielding），濾波（Filter），接地（Grounding）﹐對于接地往往一塊電路板多已固定﹐而無法再做處理﹐因為這一部份在電路板布線（Layout）時就須仔細考慮﹐若板子已完成則此時可變動的空間就非常小﹐一般方式只能找出噪聲小的接地處用較粗的地線連接﹐減低共模（Commonmode）噪聲。屏蔽所牽涉的材質與花費亦甚高﹐濾波的方式則是?？梢夿ead電感等﹐往往用了一大堆亦不甚見效﹐何以如此﹐許多時候是我們沒有解決其輻射的天線效應。一般而言﹐噪聲的能量并不會因加一些對策組件便消失﹐也就是能量不減﹐我們所要做的工作是如何避免噪聲輻射到空間（輻射測試）或由電源傳出（傳導測試）。并不需要完全復制測試室的條件才能排查EMI測試故障。重慶 研發(fā)級EMI診斷測試儀

需要記住的一個好規(guī)則是，準峰值檢測值總是小于或等于峰值檢測值，永遠不會大于峰值檢測值。武漢電氣電力EMI診斷原理

EMI診斷在電子設備設計、調試階段，隨時進行EMI診斷是保證電子設備通過EMC認證行之有效且費用低的手段。如果終產品EMC認證不合格，設計者需要重新進行EMI診斷，找出EMI問題的根源，但此時可用的整改手段已經不多，進行重新設計，費用將倍增。由此可見EMI診斷是日常工作中經常進行的，而EMI預認證以及認證測試只有在電子產品定型階段才進行。傳導類EMI可以用示波器追蹤，同時需要用頻譜儀測試，需要兩種儀器結合運用。結合示波器中現(xiàn)有的在EMI排查方面的分析工具，將幫助您快速發(fā)現(xiàn)您設計中的潛在問題。武漢電氣電力EMI診斷原理