干擾正確的診斷：要解決產品上的EMI問題﹐若能在產品設計之初便加以考慮﹐則可以節(jié)省事后再投入許多時間。由于目前EMIDesign-in的觀念并不是十分普遍﹐而且由于事先的規(guī)劃并不能保證其成品可以完全符合電磁干擾的測試在﹐所以如何正確的診斷EMI問題﹐對于設計工程師及EMI工程師是非常重要的。頻譜分析儀是進行電磁干擾測試、診斷和故障檢測中應用廣的一種測試儀器。對于一個電磁兼容工程師（EMC）來講，頻譜分析儀除了測試商用和電磁發(fā)射的重要用途外，還可對對以下內容進行評估：1、材料的屏蔽效能，2、設備機箱的屏蔽效能，3、較大的試驗室或測試室的屏蔽效能，4、電源線濾波器的衰減特性；此外，頻譜分析儀可從事場地勘測。準峰值以便對從廣播角度看解釋為“干擾”的信號施加更多的權重。研發(fā)級EMI診斷原理

設計工程師經(jīng)常發(fā)現(xiàn)新產品設計需要經(jīng)過多次修改才能達到限值。他們既不擁有EMI診斷訣竅，EMI診斷也不是他們日常責任的一部分。通常，只當設計的電路板幾乎完工時才遞交給EMC部門或外部實驗室做進一步測試。然而，相比早期設計階段（這時某些設計考慮或許能夠妥善處理）修改，在這個階段做出改動極具挑戰(zhàn)性。符合EMC標準的結果在設計上是可控的，能夠做出規(guī)劃，同時也是設計師的責任。解決EMI并非使用什么巫術，也無需時域工程師躲避。使用您熟悉的儀器---示波器，您能夠更好地理解EMI問題，以及了解所用解決方案的效果。研發(fā)級EMI診斷原理事實上﹐我們如果把EMI當做一種疾病﹐當然平時的預防保養(yǎng)很重要的。

EMC測試伴隨著產品研制的全過程，眾所周知，一個產品的電磁兼容性能是否達標靠什么證明呢？無疑是試驗，試驗是檢驗產品性能好壞的單獨手段。然而，EMC試驗不單單承擔對產品性能終檢驗的任務，在產品設計階段也需要有輔助試驗手段檢驗每一個設計思想及每一項設計措施是否正確。特別是復雜的電子系統(tǒng)，在方案論證階段需要制定EMC試驗規(guī)范，在單機設備初樣、正樣研制階段需要對每項EMC指標進行測量，組成系統(tǒng)之后需要進行系統(tǒng)級的EMC測試。系統(tǒng)級EMC測試的目的一方面檢驗系統(tǒng)自身兼容性，另一方面檢驗該電子系統(tǒng)與特定的工作環(huán)境是否兼容。

許多頻譜分析儀重量輕，可以方便地移入測試室內以對被測產品進行連續(xù)觀察。測試人員可以用電場或磁場探頭探測被測設備泄漏區(qū)域。通常這些區(qū)域包括像箱體接縫、顯示屏前面板、接口線纜、鍵盤線纜、鍵盤、電源線和箱體開口部位等，探頭也可深入被測設備的箱體內進行探測。為了確切指出很大輻射區(qū)域，要求探頭靈敏度不要太高，通常，一段小線頭與一同軸線纜一起放入BNC連接器內就可以了。此外，應注意近場探頭探測過程中頻譜分析儀上所顯示的近場測試值可能會較大，但這不一定就是遠場輻射的主要原因。大多數(shù)公司的實驗室并不具備做一定EMI測量所需的測試室條件。

近場測量是可用于EMI排查的一種測量，因為它不要求測試站點提供專門的條件就能讓你查出能量源。然而，一致性測試是在遠場中進行的，而不是近場。你通常不會使用遠場，因為有太多的變量讓它變得復雜起來：遠場信號的強度不只取決于源的強度，而且取決于輻射機制以及可能采取的屏蔽或濾波措施。根據(jù)經(jīng)驗需要記住，如果你能觀察遠場中的信號，那么應該能看到近場中的相同信號。（然而，能觀察到近場中的信號而看不到遠場中的相同信號是很可能的）近場探針實際上就是設計用于拾取磁場（H場）或電場（E場）變化的天線。一般來說，近場探針沒有校準數(shù)據(jù)，因此它們適合用于相對測量。每種設備用到不同的測試方法，并提供不同但互補的診斷技術。研發(fā)級EMI診斷原理

在EMI，工程師從來無法完全掌握可能存在什么信號。研發(fā)級EMI診斷原理

在EMI，工程師從來無法完全掌握可能存在什么信號。由于每臺新被測設備都不同，根據(jù)EMI信號特征選擇正確的工具以及識別輻射源十分重要。當涉及預一致性和一致性測試時，示波器的頻譜分析功能并不能取代傳統(tǒng)的EMI測試設備，如頻譜分析儀或測試接收機。畢竟相對有限的動態(tài)范圍和帶寬，缺少預選器、前置放大器和與標準兼容的加權檢波器，限值了示波器在EMI測試領域的應用。示波器、頻譜分析儀或測試接收機可以從不同角度解決EMI問題。每種設備用到不同的測試方法，并提供不同但互補的診斷技術。示波器互補的方法為EMI排查診斷打開了全新的天地，提供前所未有的EMI排查能力。研發(fā)級EMI診斷原理

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