相控陣探頭的波形持續(xù):波形持續(xù)是指每次探頭被脈沖觸發(fā)后生成的波動(dòng)周期的數(shù)量。窄帶寬探頭要比寬帶寬探頭生成的波動(dòng)周期數(shù)量多。晶片直徑、基底材料、電子調(diào)諧、探頭激勵(lì)的方式都會(huì)影響波形持續(xù)。帶寬:帶寬是指處于特定波幅范圍內(nèi)的頻率響應(yīng)的部分。在這種情況下,應(yīng)該注意的是典型的NDT探頭不會(huì)生成獨(dú)特頻率的聲波,而只能在以額定的頻率值為中心的頻率范圍內(nèi)生成聲波。工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)將這個(gè)帶寬確定在–6dB(或半波幅)的位置處。靈敏度:靈敏度是指激勵(lì)脈沖波幅與從指定目標(biāo)反射的回波波幅之間的關(guān)系。相控陣探頭的聚焦銳利度會(huì)隨著頻率的升高而增強(qiáng)。定制相控陣探頭批發(fā)價(jià)
相控陣探頭的應(yīng)用:超聲相控陣是超聲探頭晶片的組合,由多個(gè)壓電晶片按一定的規(guī)律分布排列,然后逐次按預(yù)先規(guī)定的延遲時(shí)間激發(fā)各個(gè)晶片,所有晶片發(fā)射的超聲波相控陣形成一個(gè)整體波陣面,能有效地控制發(fā)射超聲束(波陣面)的形狀和方向,能實(shí)現(xiàn)超聲波相控陣的波束掃描、偏轉(zhuǎn)和聚焦。它為確定不連續(xù)性的形狀、大小和方向提供出比單個(gè)或多個(gè)探頭系統(tǒng)更大的能力。超聲相控陣檢測(cè)技術(shù)使用不同形狀的多陣元換能器產(chǎn)生和接收超聲波相控陣束,通過(guò)控制換能器陣列中各陣元發(fā)射(或接收)脈沖的不同延遲時(shí)間,改變聲波到達(dá)(或來(lái)自)物體內(nèi)某點(diǎn)時(shí)的相位關(guān)系,實(shí)現(xiàn)焦點(diǎn)和聲束方向的變化,從而實(shí)現(xiàn)超聲波相控陣的波束掃描、偏轉(zhuǎn)和聚焦。然后采用機(jī)械掃描和電子掃描相結(jié)合的方法來(lái)實(shí)現(xiàn)圖像成像。定制相控陣探頭品牌相控陣探頭普遍應(yīng)用于醫(yī)學(xué)成像和工業(yè)無(wú)損檢測(cè)中。
相控陣探頭能影響檢測(cè)性能的參數(shù)有哪些?動(dòng)態(tài)范圍是在增益不變時(shí),超聲波相控陣探傷儀示波屏上能分辨的較大反射面積與較小反射面積波高之比,通常以分貝(dB)表示。按照有關(guān)規(guī)定,儀器的動(dòng)態(tài)范圍不小于26dB。靈敏度是超聲波相控陣探傷儀與探頭組合后所具有的檢測(cè)較小缺陷的能力??蓹z出的缺陷愈小或檢出同樣大小缺陷的可探測(cè)距離愈大,表示儀器和探頭組合后的靈敏度愈高。盲區(qū)是在正常檢測(cè)靈敏度下,從檢測(cè)表面到較近可檢缺陷的距離。儀器的發(fā)射脈沖愈寬,盲區(qū)愈大。因此盲區(qū)可近似地用顯示器顯示的發(fā)射脈沖所占寬度來(lái)表示。
相控陣探頭能影響檢測(cè)性能的參數(shù)有哪些?分辨力表示超聲波相控陣探傷儀和探頭組合后,能夠區(qū)分橫向或深度方向相距較近的兩個(gè)相鄰缺陷的能力。分辨力的優(yōu)劣,以能區(qū)分的兩個(gè)缺陷的較小距離表示?;夭l率是指透人工件并經(jīng)界面反射返回的超聲波相控陣頻率,通常與探頭所標(biāo)稱的頻率不同,其誤差應(yīng)限制在一定范圍內(nèi)。波束中心軸線偏斜角是指發(fā)射超聲波相控陣束中心軸線與晶片表面不垂直的程度。斜探頭人射點(diǎn)是斜探頭的超聲波相控陣束中心入射于工件探測(cè)面上的一點(diǎn),即超聲波相控陣透人工件材料的起始點(diǎn),它是計(jì)算缺陷位置的相對(duì)參考點(diǎn)。大多數(shù)相控陣探頭屬于角度聲束類(lèi)型。
相控陣探頭根據(jù)以下基本參數(shù)從功能上被分成不同的類(lèi)別:晶片數(shù)量:較常用的相控陣探頭一般有16到128個(gè)晶片,有些探頭的晶片多達(dá)256個(gè)。隨著晶片數(shù)量的增多,聲波聚焦與電子偏轉(zhuǎn)的能力會(huì)增強(qiáng),同時(shí)檢測(cè)所覆蓋的區(qū)域也會(huì)擴(kuò)大,然而探頭和儀器的成本費(fèi)用也會(huì)增加。每個(gè)晶片被單獨(dú)脈沖激勵(lì),以創(chuàng)建希望得到的波前。因此這些晶片排列方向的維度通常被稱為主動(dòng)方向或偏轉(zhuǎn)方向。頻率:超聲缺陷探測(cè)一般使用2MHz到10MHz之間的頻率,因此大多數(shù)相控陣探頭都屬于這個(gè)頻率范圍。此外,還有頻率更低或更高的探頭。使用常規(guī)探頭,穿透性能會(huì)隨著頻率的降低而增加,而分辨率及聚焦銳利度會(huì)隨著頻率的升高而增強(qiáng)。用戶對(duì)相控陣探頭的類(lèi)型選擇需要考慮到被測(cè)材料的內(nèi)缺陷位置。微型相控陣探頭
相控陣探頭的頻率是指一秒鐘內(nèi)聲波完成振動(dòng)周期的次數(shù)。定制相控陣探頭批發(fā)價(jià)
什么是相控陣探頭?陣列是大量的同類(lèi)物體排列組合的方式。NDT超聲陣列的較簡(jiǎn)單的形式應(yīng)該是以增加檢測(cè)的覆蓋范圍和/或提高檢測(cè)速度為目的,將一系列單晶探頭排列在一起的形式。以下為應(yīng)用這種陣列探頭的示例:管件檢測(cè):在探測(cè)管件的裂縫與分層缺陷,以及測(cè)量管件的總體厚度時(shí)經(jīng)常會(huì)使用多個(gè)探頭。鍛件金屬工件的檢測(cè):在這種檢測(cè)中,通常需要使用多個(gè)探頭在不同深度聚焦以探測(cè)出以帶狀形式排列的細(xì)小缺陷。復(fù)合材料及金屬檢測(cè):在材料的表面上線性排列多個(gè)探頭可以提高對(duì)復(fù)合材料中的分層缺陷或金屬中的腐蝕的檢測(cè)能力。進(jìn)行這些檢測(cè),不只需要高速、多通道超聲設(shè)備帶有適當(dāng)?shù)拿}沖發(fā)生器、接收器,以及可對(duì)每個(gè)通道進(jìn)行處理的邏輯門(mén),還需要將每個(gè)探頭仔細(xì)固定好,以正確設(shè)置檢測(cè)區(qū)域。定制相控陣探頭批發(fā)價(jià)
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